CS9922GS-1光伏安規測試儀產品簡介光伏安規測試儀是一種用于測試PV模塊、電纜、連接器、接線盒的試驗儀器，可應對高電壓和高靈敏度絕緣試驗。具有DC耐壓測試和絕緣電阻測試兩種功能，根據IEC61730標準中對光伏組件應用等級的定義，分為A、B、C級。電流測量端可選擇接地模式或浮地模式。光伏組件的絕緣耐壓試驗同IEC61215/61646一樣依據于應用類別和系統的大電壓。測試大電壓
更(geng)新時間(jian)：2018-06-22
CS9922GS-1光伏安規測試儀
CS9922GS-1光伏安規測試儀產品簡介
光伏(fu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)儀是(shi)一種用(yong)于測(ce)試(shi)PV模塊、電(dian)(dian)(dian)纜(lan)、連接器、接線盒的試(shi)驗儀器，可應(ying)對(dui)高電(dian)(dian)(dian)壓和高靈敏度絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗。具有DC耐壓測(ce)試(shi)和絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)兩種功能，
根(gen)據(ju)IEC61730標準中對(dui)光伏(fu)組(zu)件應用等級(ji)的定義，分為(wei)A、B、C級(ji)。
電(dian)流測量端可選擇(ze)接地模(mo)式或浮地模(mo)式。光伏(fu)組(zu)件(jian)的絕緣耐(nai)壓(ya)試驗同IEC61215/61646一(yi)樣依(yi)據(ju)于應用類別(bie)和(he)系統(tong)的大(da)電(dian)壓(ya)。
測試大電壓對于應用類(lei)別(bie)A：2000V加4倍系統大電壓。
對(dui)于應(ying)用(yong)類別B：1000V加(jia)2倍系(xi)統大電壓。
根(gen)據計算A類大電壓為8000V，公司CS9923GS正依(yi)據此標準生產。
根據(ju)(ju)計(ji)算B類大電壓為(wei)6000V，公司CS9922GS正(zheng)依據(ju)(ju)此標準(zhun)生產。
*性(xing)能
高精度電(dian)(dian)流測量，0.001uA判斷分辨率(lv) 快速(su)的(de)電(dian)(dian)壓建立時間：
（1）直(zhi)流輸出電壓的建立(li)時間為60ms。
（2）步與步之間的時間小為450ms。
輸出電(dian)壓具有正(zheng)常(chang)模式和梯度模式。
應用領域
太(tai)陽(yang)能接(jie)線盒(he)及太(tai)陽(yang)能連接(jie)器
硅片/太陽能電池
晶硅電池組件
太(tai)陽能光伏組件、單、多晶硅片、電池片
逆變器
電纜及(ji)連接材料
蓄電池(chi)、控制器(qi)
薄(bo)膜電池組件
蓄電池(chi)/充(chong)電調節器(qi)
含氟薄膜(mo)復合型光伏組(zu)件背板(ban)專業生產
適用標準
晶體硅光伏組件：IEC612152005 標準(zhun)
薄膜光(guang)伏組件： IEC616461996 標準
光伏組件： IEC617302004 標準
系列技術參數
型號(hao) | CS9922GS | CS9922GS-1 | CS9923GS | ||
ACW | 輸(shu)出 | 范(fan)圍 | 0.050kV～5.000kV | 0.050kV～5.000kV |
|
電壓 | 精(jing)度 | ±（1.5％讀值+2V） | ±（1.5％讀值(zhi)+2V） | ||
| 分辨率 | 1V | 1V | ||
大輸出功率(lv) | 100VA（5.000kV/20mA） | 500VA（5.000kV/20mA/100 mA） | |||
大額定(ding)電流 | 20mA | 100mA | |||
下限電流范(fan)圍 | 0～20mA,0=不判斷下限 | 0～100mA,0=不(bu)判(pan)斷下(xia)限 | |||
電(dian)流(liu)檔位 | 200uA、2mA、20mA | 200uA、2mA、20mA、100mA | |||
電弧偵測 | (0.00-20.00)mA ac/(0-9) 0=關 | (0.00-20.00)mA ac/(0-9) 0=關(guan) | |||
電(dian)弧偵測(ce)時間 | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒(miao) 0＝Disable | |||
輸出波形 | 正弦波 | 正弦波 | |||
輸出波形失真度 | ≤2%（空載或純阻性負載） | ≤2%（空載(zai)或純阻性(xing)負(fu)載(zai)） | |||
電壓(ya)上升(sheng)時間(jian) | 0.3s～999.9s 0=電壓上(shang)升時(shi)間關 | 0.3s～999.9s 0=電壓(ya)上升時間(jian)關 | |||
測試時間 | 0.3s～999.9s 0=連(lian)續測試 | 0.3s～999.9s 0=連續測試(shi) | |||
電壓下降時間(jian) | 0.3s～999.9s 0=電壓下(xia)降(jiang)時間(jian)關 | 0.3s～999.9s 0=電壓(ya)下降時間關 | |||
間隔時間 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guan) | |||
輸出電(dian)壓模式 | N模式、G模式 | N模式、G模(mo)式(shi) | |||
DCW | 輸出 | 范圍(wei) | 0.050kV～6.000kV | 0.050kV～6.000kV | 0.050kV～9.999kV |
電壓 | 精度 | ±（1.2％讀值(zhi)+2V） | ±（1.2％讀值+2V） | ±（1.2％讀(du)值+2V） | |
| 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
大輸出功率 | 60W（6.000kV10mA） | 300W（6.000kV50mA） | 60W（6.000kV10mA） | ||
大額定(ding)電流 | 10mA | 50mA | 10mA | ||
電(dian)流檔位 | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA、50mA | 2uA、20uA、200uA、2mA、10mA | ||
紋(wen)波(bo)系數 | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ||
放電(dian)時間 | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
電弧偵(zhen)測 | (0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關 | (0.00-20.00)mAac/(0-9) 0=關 | (0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關 | ||
電(dian)弧偵測時間 | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒 0＝Disable | (0.0-999.9)秒(miao) 0＝Disable | ||
電壓(ya)上升時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓上升(sheng)時間(jian)關 | 0.3s～999.9s 0=電壓(ya)上升時間關 | 0.3s～999.9s 0=電壓(ya)上(shang)升時間關 | ||
測試時間(jian) | 0.3s～999.9s 0=連續測試 | 0.3s～999.9s 0=連續測試 | 0.3s～999.9s 0=連續測試 | ||
電壓下降時間 | 0.3s～999.9s 0=電(dian)壓下降時(shi)間關 | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間(jian)關(guan) | 0.3s～999.9s 0=電壓下降時間關 | ||
間隔時間 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關 | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關 | 0.0s～999.9s 0=間隔(ge)時間關 | ||
延時報警時間 | 0.3s～999.9s 0=延時報警(jing)時間(jian)關 | 0.3s～999.9s 0=延時(shi)報警時(shi)間關 | 0.3s～999.9s 0=延(yan)時報警時間關 | ||
輸出電壓(ya)模(mo)式(shi) | N模式、G模(mo)式 | N模式、G模式 | N模式(shi)、G模式 | ||
IR | 輸(shu)出(chu) | 范圍 | 0.100kV～1.000kV | 0.100kV～1.000kV | 0.100kV～1.000kV |
電壓(ya) | 精度 | ±（1.2％讀值+5V） | ±（1.2％讀(du)值+5V） | ±（1.2％讀值+5V） | |
| 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
大上限(xian)設定(ding)值 | 50.00GΩ | 50.00GΩ | 50.00GΩ | ||
大下限設定值 | 50.00GΩ | 50.00GΩ | 50.00GΩ | ||
小下限設定(ding)值 | 1MΩ | 1MΩ | 1MΩ | ||
電壓上升時間 | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間關 | 0.3s～999.9s 0=電壓上(shang)升時間關(guan) | 0.3s～999.9s 0=電壓上升時間(jian)關(guan) | ||
測(ce)試時間 | 0.3s～999.9s 0=連續測(ce)試 | 0.3s～999.9s 0=連續(xu)測試 | 0.3s～999.9s 0=連續測試 | ||
間(jian)隔時間(jian) | 0.0s～999.9s 0=間隔時(shi)間關 | 0.0s～999.9s 0=間(jian)隔時間(jian)關(guan) | 0.0s～999.9s 0=間隔時間關(guan) | ||
自動(dong)切換檔位 | 可設置為開、關 | 可設置為(wei)開、關 | 可設置(zhi)為開(kai)、關(guan) | ||
放電時間(jian) | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
電 | 范圍 | 0.000kV～6.000kV | 0.000kV～6.000kV | 0.000kV～6.000kV | |
壓(ya) | 精度 | ±（1％讀值+5V）電(dian)壓≥1.000kV ±（2％讀值+5V）電(dian)壓<1.000kV | ±（1％讀(du)值+5V）電壓≥1.000kV ±（2％讀值+5V）電壓<1.000kV | ±（1％讀值(zhi)+5V）電(dian)壓≥1.000kV ±（2％讀(du)值(zhi)+5V）電壓<1.000kV | |
表(biao) | 分辨率 | 1V | 1V | 1V | |
| 顯示數值(zhi) | 均(jun)方(fang)根值(zhi) | 均方根值 | 均(jun)方根值 | |
電 | 測量(liang) | AC | 0 ～ 20mA | 0 ～ 20mA | 0 ～ 20mA |
流 | 范圍 | DC | 0 ～ 10mA | 0 ～ 10mA | 0 ～ 10mA |
表 | 分辨率 | AC | 200uA檔：0.1uA,2mA檔：1uA,20mA檔：10uA | 200uA檔(dang)：0.1uA,2mA檔(dang)：1uA,20mA檔(dang)：10uA | 200uA檔：0.1uA,2mA檔：1uA,20mA檔：10uA |
| DC | 2uA檔：0.001uA, | 2uA檔(dang)：0.001uA, | 2uA檔：0.001uA, | |
| 20uA檔：0.01uA, | 20uA檔(dang)：0.01uA, | 20uA檔：0.01uA, | ||
| 200uA檔：0.1uA, | 200uA檔：0.1uA, | 200uA檔：0.1uA, | ||
| 2mA檔：1uA, | 2mA檔：1uA, | 2mA檔：1uA, | ||
| 10mA檔:10uA | 10mA檔:10uA | 10mA檔:10uA | ||
| 測量精度 | ±（2%讀值+2個字(zi)） | ±（2%讀值+2個字） | ±（2%讀(du)值+2個(ge)字） | |
| 偏移功能 | 測(ce)試線及(ji)附件的的電流可以被減去。 | 測試(shi)線及(ji)附件的的電流可以被減去。 | 測(ce)試線及(ji)附件的的電流可(ke)以被減去。 | |
| 測(ce)試模式(shi) | 接地 模式：RETURN端(duan)接機殼 | 接地(di) 模式：RETURN端接機殼 | 接地 模式：RETURN端接(jie)機殼 | |
| 浮(fu)地 模式(shi)：RETURN端不接機殼 | 浮地 模(mo)式：RETURN端不接機殼 | 浮地 模式：RETURN端不(bu)接機(ji)殼 | ||
電 | 測量范圍(wei) | 1MΩ～9.999G | 1MΩ～9.999G | 1MΩ～9.999G | |
阻 | 分辨(bian)率 | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | 1.00MΩ～10.00MΩ為0.01MΩ 10 .00MΩ～100.0MΩ為0.01MΩ | |
表 | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為1MΩ | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為1MΩ | 0.100GΩ～1.000GΩ為0.1MΩ 1.00GΩ～10.00GΩ為(wei)1MΩ | ||
| 精度 | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值(zhi)+2個(ge)字） | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ; ±（10%讀(du)值+2個字） | 0.100kV～0.300kV：(1MΩ- 1.000GΩ) ±（10%讀值+2個字） | |
| 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于(yu)1.000GΩ為(wei)±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為±（10%讀值+2個(ge)字） | 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀(du)值+2個(ge)字）大于1.000GΩ為(wei)±（10%讀值+2個字） | 0.301kV～0.500kV：(1MΩ～5.000GΩ)小于1.000GΩ為±（5%讀值+2個字(zi)）大于1.000GΩ為(wei)±（10%讀值+2個字） | ||
| 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小(xiao)于1.000GΩ為±（5%讀值(zhi)+2個字(zi)）大于1.000GΩ為±（10%讀值(zhi)+2個字(zi)） | 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于(yu)1.000GΩ為±（5%讀值+2個字）大于1.000GΩ為(wei)±（10%讀值+2個字） | 0.501kV～1.000kV：(1MΩ～10.00GΩ)小于(yu)1.000GΩ為±（5%讀值+2個(ge)字）大于(yu)1.000GΩ為±（10%讀值+2個字） | ||
計 | 范圍 | 0～999.9s | 0～999.9s | 0～999.9s | |
時(shi) | 分辨率 | 0.1s | 0.1s | 0.1s | |
器 | 精度 | ±（0.1%+50ms） | ±（0.1%+50ms） | ±（0.1%+50ms） | |
記憶組/測試步 | 50組/40步(bu) | 50組(zu)/40步(bu) | 50組/40步(bu) | ||
在線客服