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TOS7210S絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試儀產品概述(shu)

PID絕(jue)緣測試儀(yi)（TOS7210S）是為(wei)準確有效(xiao)地對太(tai)陽(yang)能電(dian)池模(mo)塊(kuai)的(de)PID(Potential Induced Degradation)現象(xiang)進行(xing)評估(gu)，以絕(jue)緣電(dian)阻測試儀(yi)（TOS7200）為(wei)基礎設計而成的(de)測試儀(yi)。 
附有(you)極(ji)性切換功能，輸出電壓(ya)可(ke)(ke)達2000V,同時裝(zhuang)載(zai)了n*分辨率的電流表，因此(ci)不僅可(ke)(ke)以(yi)進行PID評估，還可(ke)(ke)以(yi)用(yong)于要求(qiu)進行高(gao)敏(min)感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝(zhuang)了可(ke)(ke)從外部調用(yong)的面板存儲器及RS232C接口，因此(ci)也可(ke)(ke)以(yi)靈活(huo)對(dui)應自動化(hua)系統(tong)。
什么是PID現象(xiang)？
PID現(xian)象是指太陽(yang)能(neng)電(dian)(dian)(dian)(dian)池與邊(bian)(bian)框(kuang)長期被施以高(gao)(gao)(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)，電(dian)(dian)(dian)(dian)池發(fa)(fa)電(dian)(dian)(dian)(dian)量顯(xian)著降低的(de)(de)現(xian)象。目(mu)前認(ren)為(wei)(wei)所施加(jia)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)越高(gao)(gao)(gao)，越是在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫、高(gao)(gao)(gao)濕的(de)(de)環境(jing)下(xia)劣(lie)化(hua)現(xian)象越嚴重。如(ru)晶體硅太陽(yang)能(neng)電(dian)(dian)(dian)(dian)池模(mo)塊的(de)(de)輸(shu)出(chu)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)即使只有數十V，一旦直接(jie)(jie)連接(jie)(jie)的(de)(de)片數增加(jia)，串(chuan)內(nei)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)差將(jiang)變得(de)非常(chang)高(gao)(gao)(gao)。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為(wei)(wei)交流電(dian)(dian)(dian)(dian)源與系(xi)統(tong)相(xiang)連,使接(jie)(jie)地形態發(fa)(fa)生(sheng)變化(hua)。輸(shu)入端采用(yong)浮接(jie)(jie)（一側(ce)電(dian)(dian)(dian)(dian)極不(bu)能(neng)接(jie)(jie)地線）的(de)(de)無(wu)變壓(ya)(ya)(ya)(ya)器方式近年有所增加(jia)。這種情況下(xia)電(dian)(dian)(dian)(dian)池和地線間(jian)將(jiang)發(fa)(fa)生(sheng)高(gao)(gao)(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)差。現(xian)在(zai)可明確的(de)(de)是，晶體硅太陽(yang)能(neng)電(dian)(dian)(dian)(dian)池模(mo)塊中，相(xiang)對于邊(bian)(bian)框(kuang)（接(jie)(jie)地線）負極電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)高(gao)(gao)(gao)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)池容易發(fa)(fa)生(sheng)PID現(xian)象。（請(qing)參照圖1）目(mu)前，日本國內(nei)以最(zui)(zui)大(da)(da)600V、歐洲以最(zui)(zui)大(da)(da)1000V的(de)(de)系(xi)統(tong)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)運(yun)行太陽(yang)能(neng)電(dian)(dian)(dian)(dian)池模(mo)塊，但是目(mu)前出(chu)現(xian)了(le)提(ti)高(gao)(gao)(gao)最(zui)(zui)大(da)(da)系(xi)統(tong)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)以削減企業用(yong)大(da)(da)規模(mo)太陽(yang)能(neng)發(fa)(fa)電(dian)(dian)(dian)(dian)系(xi)統(tong)的(de)(de)串(chuan)數、PCS總(zong)數，提(ti)高(gao)(gao)(gao)發(fa)(fa)電(dian)(dian)(dian)(dian)效(xiao)率的(de)(de)趨勢。 
圖(tu)2模(mo)擬了晶(jing)體(ti)硅太陽能電池(chi)(chi)(chi)模(mo)塊的(de)處于高電位(wei)差的(de)狀(zhuang)況(kuang)。邊(bian)框(kuang)為正極電位(wei)、模(mo)塊電路處于負*電位(wei)的(de)狀(zhuang)況(kuang)。目前認為是由(you)于超白鋼化玻璃(li)內的(de)鈉(na)離子向(xiang)電池(chi)(chi)(chi)側遷移而引起劣(lie)(lie)化。（薄膜太陽能電池(chi)(chi)(chi)模(mo)塊也被確認出(chu)現(xian)PID現(xian)象，但是發生劣(lie)(lie)化的(de)機(ji)制與晶(jing)體(ti)硅太陽能電池(chi)(chi)(chi)模(mo)塊不同。）現(xian)在，各種(zhong)研(yan)究(jiu)機(ji)構正在通過研(yan)究(jiu)、試驗查找(zhao)PID現(xian)象的(de)原因。

TOS7210S絕緣電阻測試儀產品特點

可任意設定(ding)輸出電壓
可(ke)將對被檢品施加的(de)(de)測(ce)試電壓(ya)設定(ding)在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍(wei)(wei)內。假(jia)設太(tai)陽能發電系(xi)統的(de)(de)電壓(ya)在1000V以上，可(ke)對其進行評估。此(ci)外(wai)，在電氣/電子部件、電氣/電子設備(bei)的(de)(de)絕緣電阻測(ce)試中，也可(ke)對應JIS C 1302: 1994所(suo)規定(ding)的(de)(de)電壓(ya)范圍(wei)(wei)以外(wai)的(de)(de)測(ce)試。在50V-1000V范圍(wei)(wei)內，輸出(chu)特性以JIS C 1302: 1994為基準。 

極性切(qie)換功能
可(ke)通過主機面板的(de)開關輕(qing)松(song)切換輸出極性。PID現象是一種(zhong)可(ke)逆(ni)現象，施(shi)加負(fu)偏(pian)壓(ya)電壓(ya)可(ke)能會恢復。極性切換是一項不需要對被(bei)檢品(pin)實(shi)施(shi)配線變更的(de)便利(li)功能。此外，通過RS232C接口可(ke)實(shi)施(shi)由外部控制(zhi)的(de)切換。 

建立輸出端的浮地
輸出端(duan)子與(yu)(yu)接地(di)電(dian)位間(jian)為浮(fu)地(di)狀(zhuang)態(*1)。此外，使用屏(ping)蔽電(dian)纜作(zuo)為輸出電(dian)纜 (TL51-TOS)。這樣就不會測量(liang)被檢品與(yu)(yu)大地(di)間(jian)的電(dian)流，只測量(liang)測試點間(jian)的電(dian)流，可(ke)確(que)保(bao)評估(gu)測試的高敏感度和(he)精確(que)性。
*1：設定(ding)為正極(ji)的(de)端(duan)子的(de)對地電壓(ya)(ya)（±1000Vdc）設定(ding)為負極(ji)的(de)端(duan)子的(de)對地電壓(ya)(ya)（+1000Vdc及(ji)-3000Vdc） 

模擬輸出端(duan)子(zi)
在(zai)電(dian)(dian)阻(zu)顯(xian)示模式中(zhong)，基于對(dui)(dui)數壓(ya)縮將對(dui)(dui)應電(dian)(dian)阻(zu)測量值(zhi)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)輸出限制(zhi)在(zai)0V-4V之(zhi)間。在(zai)電(dian)(dian)流顯(xian)示模式中(zhong)，對(dui)(dui)應電(dian)(dian)流測量值(zhi)及測量量程(cheng)（4個量程(cheng)）按線性標度(du)輸出。使用(yong)數據記錄(lu)器等外部記錄(lu)設(she)備可對(dui)(dui)被檢品(pin)的(de)變(bian)化、劣化狀況(kuang)進行解析。

TOS7210S絕緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試儀選型(xing)指南