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4037系列頻譜分析儀

簡要描述:

產品綜述
4037系列(lie)(lie)頻譜分(fen)析儀設(she)(she)計(ji)注(zhu)重(zhong)性(xing)能(neng)(neng)和成(cheng)本的(de)(de)*優化,兩個(ge)系列(lie)(lie)共10個(ge)型號(hao),兼顧中和中低(di)端(duan)應用(yong)需(xu)(xu)求(qiu)(qiu);設(she)(she)計(ji)技(ji)術*且成(cheng)熟,綜合性(xing)能(neng)(neng)優異;側重(zhong)用(yong)戶(hu)使用(yong)靈活性(xing)、便(bian)利性(xing)需(xu)(xu)求(qiu)(qiu),測(ce)試(shi)(shi)速度快;具備(bei)自測(ce)試(shi)(shi)與自校準(zhun)功能(neng)(neng),性(xing)能(neng)(neng)穩定,測(ce)試(shi)(shi)數據(ju)重(zhong)復(fu)性(xing)好;提供SCPI指令集和VISA及IVI儀器驅(qu)動庫,程控開發效(xiao)率高。 該產品采用(yong)系列(lie)(lie)化設(she)(she)計(ji)思(si)想,滿足(zu)您的(de)(de)不同需(xu)(xu)求(qiu)(qiu),可通過添加或刪減選(xuan)件

更新時(shi)間:2018-11-02

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4037系列頻譜分析儀

產品綜(zong)述

4037系列(lie)頻譜分析儀設(she)計注重性(xing)能和成本(ben)的zui佳(jia)優(you)化(hua),兩個系列共10個型號(hao),兼顧(gu)中高(gao)端和中低端應用(yong)需(xu)(xu)求;設(she)計(ji)技術*且成熟,綜合(he)性能優(you)異;側重用(yong)戶(hu)使用(yong)靈活(huo)性、便利性需(xu)(xu)求,測試速度(du)快(kuai);具備自測試與(yu)自校準(zhun)功能,性能穩定,測試數據重復(fu)性好;提供SCPI指令集(ji)和VISA及IVI儀(yi)器(qi)驅動(dong)庫(ku),程控開發效率高(gao)。 該(gai)產(chan)品(pin)采用(yong)系列化(hua)設(she)計(ji)思想,滿足您的不同需(xu)(xu)求,可通過(guo)添加(jia)或(huo)刪減選(xuan)件(jian),實(shi)現與(yu)您需(xu)(xu)求的zuijia匹配。該(gai)產(chan)品提供中/英文兩種操作界面,7英寸高(gao)亮度彩色微(wei)反液(ye)晶顯示屏,分辨率高(gao)、視角寬,適應各種光(guang)線環境。采用(yong)(yong)標準(zhun)3U高(gao)便攜式(shi)機箱(xiang),結構堅固、輕便,通過CE安全認證(zheng)。主要用(yong)(yong)于(yu)電(dian)子(zi)產(chan)品開發、生(sheng)產(chan)線在線測(ce)試(shi)、組(zu)建(jian)自動測(ce)試(shi)系統等。

功能特點

頻率范(fan)圍寬,低(di)至30Hz,高達26.5GHz。

動態范圍(wei)大,1dB增益壓縮點(dian)0dBm,TOI(三階截獲點(dian))+10dBm,DANL(顯示平(ping)均噪聲電平(ping))優于-165dBm(內部前置放大器選件(jian),1GHz處典型(xing)值(zhi))。

相位(wei)噪聲性能(neng)優異,頻偏10kHz處,達-110dBc/Hz(低相噪選件,典(dian)型值)。

掃描時間(jian)范(fan)圍寬(kuan),非零頻寬(kuan)1ms~2000s,零頻寬(kuan)1us~4000s。

測試速(su)度(du)快,測試速(su)率高達每(mei)秒90次。

全數(shu)字中頻(pin),頻(pin)譜分(fen)辨率(lv)高,最小分(fen)辨率(lv)帶寬達1Hz(FFT分(fen)析選件)。

自動校(xiao)準,環境適應(ying)能力強(qiang)。

提供(gong)掃頻(pin)分析和FFT分析兩種頻(pin)譜(pu)分析模式,可(ke)靈活(huo)優(you)化測試速度(du)和動態范圍。

分辨率(lv)帶(dai)寬(kuan)1-2-3-5步進,可實現(xian)頻(pin)寬(kuan)與分辨率(lv)帶(dai)寬(kuan)的zuijia組合,優化(hua)頻譜分辨率。

提供常規、正(zheng)峰(feng)值、負峰(feng)值、取樣、平均(jun)值等多種視頻(pin)檢(jian)波方式(shi),用戶(hu)在(zai)測(ce)試(shi)不同類型(xing)的信號時(shi)可以(yi)靈活選擇,快速獲得(de)所需測(ce)試(shi)結果。

提(ti)(ti)供(gong)多(duo)達6條顯(xian)示軌(gui)(gui)跡,支(zhi)持(chi)多(duo)條軌(gui)(gui)跡不同視(shi)頻檢波方(fang)式(shi)下的同步測試;提(ti)(ti)供(gong)多(duo)達12個頻標(biao),讀數方(fang)式(shi)靈活,支(zhi)持(chi)頻標(biao)跨軌(gui)(gui)跡標(biao)識。

支持天線(xian)因(yin)子編輯功能,滿(man)足(zu)場強測(ce)試需要。

采用嵌入式計算機及(ji)多任務操作(zuo)系統,方便(bian)對測試(shi)結果的(de)存儲、打(da)印(yin)及(ji)數(shu)據共享。

采用7英寸(cun)高(gao)亮(liang)度彩色微反液晶顯示(shi)屏,分(fen)辨率高(gao)、視角寬,在(zai)陽(yang)光(guang)照射(she)下依然保持清(qing)晰的(de)顯示(shi)。

菜單(dan)操作(zuo)簡便、參數設置(zhi)全面(mian),支持外接鼠標、鍵盤、VGA進行測試操作(zuo)。

提供3個USB2.0接口(kou),支持移動(dong)存儲設備和即(ji)插(cha)即(ji)用外設。

支持10M/100M自適應的網絡互聯。

支(zhi)持GPIB、LAN程控(kong),程控(kong)指令集符合SCPI 1999.0規(gui)范。提供(gong)符合規(gui)范要求且(qie)經過嚴格測試的(de)VISA和IVI儀(yi)器驅(qu)動庫,方便用戶構建自動測試系統。


極(ji)低的顯示(shi)平(ping)均噪聲電平(ping)
     開啟內部前(qian)置放大器,顯示平(ping)均噪聲電平(ping)(DANL)低至-165dBm/Hz(1GHz處,典型值)。
     
優異的相位噪聲性能
     本產品擁有(you)國(guo)產中檔頻譜分(fen)析儀中zui優的相位噪聲(sheng)性能,載波1GHz頻偏10kHz處,噪聲(sheng)邊帶達-110dBc/Hz(典型值)。
     
極(ji)快的測量速度
     本產(chan)品擁(yong)有國產(chan)中(zhong)檔頻(pin)譜分析儀中(zhong)較快的測試速度。非零頻(pin)寬掃描時間低(di)至1ms,測試速率高達每(mei)秒90次。
     
多(duo)種平均值檢(jian)波方式
     本產品(pin)提供(gong)三種(zhong)平(ping)(ping)(ping)均值(zhi)檢波方式:功率(lv)(RMS)、電壓和對數功率(lv)。用戶可根據待測信號特(te)征來選擇(ze)合適的平(ping)(ping)(ping)均值(zhi)檢波方式,快速獲得準確的平(ping)(ping)(ping)均數據。
     
多軌跡同步測試(shi)及(ji)靈(ling)活的頻(pin)標讀(du)數(shu)
     本(ben)產(chan)(chan)品提供多達6條(tiao)顯(xian)示軌(gui)跡(ji)和(he)12個頻(pin)(pin)標(biao)(biao)。支(zhi)持(chi)用戶同(tong)時(shi)激(ji)活多條(tiao)軌(gui)跡(ji)、并選(xuan)擇不(bu)同(tong)的(de)視頻(pin)(pin)檢波(bo)方(fang)式對信號進(jin)行(xing)同(tong)步(bu)測試。本(ben)產(chan)(chan)品的(de)頻(pin)(pin)標(biao)(biao)功能(neng)靈活,支(zhi)持(chi)用戶在(zai)多條(tiao)軌(gui)跡(ji)上(shang)同(tong)時(shi)激(ji)活多個頻(pin)(pin)標(biao)(biao),并支(zhi)持(chi)跨軌(gui)跡(ji)的(de)頻(pin)(pin)標(biao)(biao)互為參(can)考,進(jin)行(xing)相對參(can)數(shu)測量(liang)。
     
中、英文操作界(jie)面(mian),寬屏(ping)彩色液晶顯示(shi)
     本(ben)產品(pin)目(mu)前提供中、英文兩種語(yu)言(yan)操作界(jie)面(mian),可根據不同用途及場合通(tong)過菜單進行選擇(ze)。7英寸高亮度(du)彩色微反液晶顯(xian)示屏,儀(yi)器參數(shu)設(she)置一目(mu)了(le)然(ran),軌跡圖(tu)形顯(xian)示細膩,在(zai)陽光照射下依然(ran)可保持(chi)清晰視覺感受。
     
強大的交(jiao)互接口
     除基本(ben)的時基和觸發(fa)接(jie)口外,本(ben)產品(pin)還提供(gong)USB、GPIB及(ji)LAN等三種數據(ju)通(tong)信接(jie)口,滿足數據(ju)文件的傳(chuan)輸拷貝及(ji)程控(kong)互聯應用。VGA接(jie)口提供(gong)與液晶顯示器同步的視頻信息,便于監控(kong)或演示。
   

典型應用

各類發射機及振蕩源(yuan)測試
     4037系列頻(pin)譜分析儀可(ke)用于各(ge)類發射機本(ben)振(zhen)、信號源及(ji)振(zhen)蕩器等(deng)的研制、生產與調試、測試等(deng),對其進行(xing)頻(pin)率、功率、寄(ji)生、諧波失真、相(xiang)位(wei)噪聲(sheng)、調制等(deng)指標的測試。
     

元器(qi)件及部件性能測試
     4037系(xi)(xi)列(lie)頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀除常規(gui)頻(pin)譜(pu)分析(xi)測試(shi)應用外(wai),與一臺合(he)(he)成信號(hao)源組合(he)(he),即可(ke)方(fang)便的(de)構建一套大動(dong)態范圍標量網(wang)絡測試(shi)系(xi)(xi)統,可(ke)對濾(lv)波器(qi)、放大器(qi)、電(dian)纜(lan)、連接器(qi)等(deng)(deng)部件(jian)或元器(qi)件(jian)進行增益、插損、頻(pin)率(lv)響(xiang)應、帶(dai)寬、諧波失真等(deng)(deng)傳(chuan)輸參(can)數的(de)測量,配(pei)合(he)(he)電(dian)橋可(ke)實現反射(she)參(can)數的(de)測量;與兩(liang)臺合(he)(he)成信號(hao)源組合(he)(he)使用,即可(ke)對放大器(qi)、混頻(pin)器(qi)等(deng)(deng)有源或非線性部件(jian)進行增益壓縮(suo)、三階(jie)交(jiao)調失真等(deng)(deng)參(can)數的(de)測試(shi)。
     

電(dian)子產品生產線(xian)測試及外場維(wei)護、檢修
     4037系(xi)列(lie)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀定位為中高(gao)檔頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀,具有測(ce)試(shi)速度快、精度高(gao)、讀數靈活等(deng)特(te)點,非(fei)常適(shi)合(he)用(yong)于生(sheng)產線在線測(ce)試(shi)。同時,4037系(xi)列(lie)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀實現了測(ce)試(shi)性(xing)能與機體結構(gou)的(de)*結合(he),一(yi)方(fang)面減小了整(zheng)機的(de)尺寸、重(zhong)量和功耗(hao),另一(yi)方(fang)面又(you)保持(chi)了較高(gao)的(de)性(xing)能指標,因此(ci),也(ye)非(fei)常適(shi)合(he)外場測(ce)試(shi)應用(yong),尤(you)其是(shi)需要現場故障診斷與維(wei)修的(de)場合(he)。
     
構建自動測試系(xi)統
     4037系列頻譜分析(xi)儀具有強大的(de)連(lian)通(tong)能力,其程控(kong)指令(ling)集(ji)符合SCPI 1999.0規范。提供符合規范要求且(qie)經過嚴格測(ce)試(shi)的(de)VISA和IVI儀器驅(qu)動庫,方便(bian)用(yong)戶構建(jian)自動測(ce)試(shi)系統。
     

 

 

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