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3672A/B/C/D/E矢量網絡分析儀

產品(pin)綜(zong)述

3672系(xi)列矢量(liang)(liang)網(wang)絡(luo)分(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)產品包括(kuo)3672A（10MHz～13.5GHz）、3672B（10MHz～26.5GHz）、3672C（10MHz～43.5GHz）、3672D（10MHz～50GHz）和3672E（10MHz～67GHz）。3672系(xi)列矢量(liang)(liang)網(wang)絡(luo)分(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)提(ti)供頻(pin)(pin)響、單(dan)端口、響應(ying)隔離、增(zeng)強(qiang)型響應(ying)、全雙端口、電校準等多種校準方(fang)式，內設對數幅度(du)、線(xian)性(xing)(xing)(xing)(xing)幅度(du)、駐波(bo)(bo)、相位、群時(shi)延、Smith圓圖(tu)、極坐(zuo)標(biao)等多種顯示(shi)格式，外(wai)配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標(biao)準接口，除具有傳統矢量(liang)(liang)網(wang)絡(luo)分(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)的全部測(ce)量(liang)(liang)功能外(wai)，還可以通過配置功能選件進行(xing)混頻(pin)(pin)器/變頻(pin)(pin)器、增(zeng)益壓縮二維掃描以及脈沖狀態(tai)下S參數的多功能綜合參數測(ce)試(shi)，能精確測(ce)量(liang)(liang)微波(bo)(bo)網(wang)絡(luo)的幅頻(pin)(pin)特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)、相頻(pin)(pin)特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)和群時(shi)延特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)。該(gai)產品可廣泛應(ying)用于發(fa)射/接收（T/R）模塊(kuai)測(ce)量(liang)(liang)、介(jie)質材料(liao)特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)量(liang)(liang)、微波(bo)(bo)脈沖特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)量(liang)(liang)和光電特(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)量(liang)(liang)等領域，是雷達(da)、通信、導航等系(xi)統的科研、生(sheng)產過程中必不可少的測(ce)試(shi)設備。

功能特點(dian)

校準(zhun)類型(xing)靈活(huo)可(ke)選，兼容多種校準(zhun)件

支持(chi)多(duo)窗口、多(duo)通道(dao)測(ce)量(liang)，快(kuai)速執(zhi)行復雜測(ce)試方案

具(ju)有對(dui)數幅度(du)、線性(xing)幅度(du)、駐波、Smith圓圖等多(duo)種顯(xian)示(shi)格式

具有USB、GPIB、LAN和(he)VGA接口

中/英文(wen)操作(zuo)界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點觸控顯示屏

錄制/運行，一鍵式操作(zuo)簡化測量設(she)置步驟，提(ti)高工作(zuo)效率

具有一(yi)體化脈沖S參數(shu)測(ce)(ce)量、時域測(ce)(ce)量、混頻(pin)器(qi)測(ce)(ce)量、增(zeng)益壓縮二維(wei)掃描測(ce)(ce)量、支持THz擴頻(pin)、天線與(yu)RCS測(ce)(ce)量接收等(deng)功能(neng)

人性化用戶(hu)界面簡潔直(zhi)觀(guan)，便于操作，可提(ti)高測試效率

校準類(lei)型靈活可選，兼容多種校準件

3672系列矢量網絡分(fen)析(xi)儀提供向導校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)（自(zi)動化(hua)校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)）、非(fei)向導校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)（使用機械校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)件進行直通響應校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)、直通響應與(yu)隔(ge)離校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)、單端(duan)口校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)、增(zeng)強型響應校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)、全(quan)雙端(duan)口SOLT校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)、TRL校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)）、電校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)（ECal）等多(duo)種校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)類型，可(ke)根(gen)據(ju)實際測試需(xu)要選擇同軸3.5mm校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)件以及電子校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)件等多(duo)種校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)件，方便不同接口類型器件的(de)測試。

多窗(chuang)口顯示所有測量通(tong)道(dao)

本產品具(ju)有多(duo)通道(dao)和多(duo)窗口(kou)顯示功能，最(zui)多(duo)支持64個通道(dao)，最(zui)多(duo)可(ke)同時顯示16個測量窗口(kou)，每個窗口(kou)最(zui)多(duo)可(ke)同時顯示8條測試軌跡，使觀(guan)測結果(guo)更加直(zhi)觀(guan)，用(yong)戶使用(yong)更加方便。

錄制功能(neng)實現一鍵自動化測試

記錄用戶在使用儀(yi)器(qi)(qi)過程中所有操作步驟，同時(shi)可(ke)以隨時(shi)插入用戶編輯的提示對(dui)話(hua)框(kuang)，并且準時(shi)彈出提示對(dui)話(hua)框(kuang)，等待用戶確認(ren)，實現(xian)用戶交互功能，真正實現(xian)了智能儀(yi)器(qi)(qi)一鍵(jian)自動(dong)化(hua)功能。

 大動(dong)態范(fan)圍

3672系列矢量(liang)網絡分析儀采(cai)用混頻接(jie)收(shou)的設計理念(nian)，有效(xiao)擴展整機的測試(shi)動(dong)態范圍，可以滿足(zu)您對大動(dong)態范圍的測試(shi)需(xu)求。 

外設接(jie)口豐富，靈活實用(yong)

3672系(xi)列(lie)矢量(liang)網絡分析儀采用兼容PC的(de)嵌入式計算機模(mo)塊和Windows操作系(xi)統組成的(de)軟硬件平臺(tai)，實現了測試儀器和個人計算機的(de)*結合(he)。用戶可以利用豐富的(de)I/O接口（包括GPIB、USB和LAN等）完(wan)成數據通(tong)訊的(de)zui佳選(xuan)擇。

   跡線噪聲(sheng)小，測(ce)量精(jing)度高

3672系(xi)列矢量(liang)(liang)網絡分(fen)析(xi)儀優異的跡線噪聲(sheng)指標極大地提(ti)高了整機的測(ce)試精度，可(ke)滿(man)足(zu)用戶精確測(ce)量(liang)(liang)的需(xu)要，特別有(you)助(zhu)于小插損(sun)器件的精確測(ce)量(liang)(liang)。（下圖以3672B為例）

典型(xing)應用

時域分析可(ke)對設計進行全面表征

3672系列矢量(liang)網絡分析儀(yi)可通過配置時(shi)域(yu)測量(liang)選件(jian)實現測量(liang)結果(guo)頻(pin)域(yu)和時(shi)域(yu)之(zhi)間的切換，用以確定(ding)器(qi)件(jian)、夾具或者電纜中的不連續(xu)點位置，實現故(gu)障精確定(ding)位。

增益壓縮二維掃(sao)描，提高測試(shi)效率(lv)

放大器(qi)等(deng)有源器(qi)件(jian)的(de)(de)增益(yi)壓縮(suo)測(ce)量(liang)應用（S86選件(jian)）僅需(xu)一次(ci)設置，一次(ci)連(lian)接，一次(ci)校準就可(ke)以得到放大器(qi)在(zai)頻域的(de)(de)所有增益(yi)壓縮(suo)參數（包括(kuo)壓縮(suo)點的(de)(de)輸(shu)入功率，壓縮(suo)點的(de)(de)輸(shu)出功率，壓縮(suo)點的(de)(de)增益(yi)等(deng)）和線(xian)性參數（包括(kuo)線(xian)性增益(yi)，輸(shu)入匹配，輸(shu)出匹配等(deng)）。具有：

快速準(zhun)確的智能掃描；

一目了然的(de)向導(dao)校準；

方便快(kuai)捷的USB電子(zi)校(xiao)準(zhun)，USB功率校(xiao)準(zhun)；

二維掃(sao)描（頻率點(dian)(dian)掃(sao)功(gong)率和功(gong)率點(dian)(dian)掃(sao)頻率）一次(ci)完成；

多種(zhong)壓(ya)(ya)(ya)縮方法——從線性/最大增益壓(ya)(ya)(ya)縮、從飽和態壓(ya)(ya)(ya)縮、回(hui)退法和X/Y法。

混頻(pin)器/變頻(pin)器測試

3672系(xi)列矢(shi)量(liang)網(wang)絡分析儀四端(duan)口測量(liang)功(gong)能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內置(zhi)雙源，可(ke)以完(wan)成混頻(pin)器(qi)/變(bian)頻(pin)器(qi)標(biao)量(liang)和(he)矢(shi)量(liang)參數測試。

1）混頻器/變頻器標量參數測量

混頻器(qi)/變頻器(qi)標(biao)量測量應用選件(jian)（S82選件(jian)）可以得到頻域的所有標(biao)量參(can)數（包括(kuo)輸(shu)入/輸(shu)出(chu)端(duan)口匹配、變頻增益(yi)、輸(shu)入/輸(shu)出(chu)端(duan)功率等）。相比以往測試方(fang)法其優(you)勢(shi)在(zai)于(yu)：

一次連接設(she)置，多(duo)參數測試(shi)一次性完成(cheng)；

人性化簡易的校(xiao)準(zhun)界(jie)面；

方(fang)便快捷的USB電子校準(zhun)，USB功率校準(zhun)；

內置雙激勵(li)源，無需額外信(xin)號源提供本振信(xin)號；

基于(yu)端口匹(pi)配的(de)功率校準技術(shu)；

為用戶解決高準確(que)度的混頻(pin)器標量參(can)數測試(shi)需求。

 
2）混頻器(qi)/變頻器(qi)矢量參(can)數測量

矢(shi)量混頻(pin)(pin)/變頻(pin)(pin)器件測試應用(yong)選(xuan)件（S83選(xuan)件）集變頻(pin)(pin)器件的變頻(pin)(pin)損(sun)耗或增益(yi)、端(duan)口輸入/輸出功率（正(zheng)向及反(fan)向）、駐波、相位及群時延等參數測量于一(yi)體(ti)的測試應用(yong)軟(ruan)件。其主要(yao)特點包括：

測(ce)量過程需使(shi)用(yong)一個參(can)考混頻器進行表征；

內置雙(shuang)激勵源(yuan)，無需額外信號源(yuan)提供本振(zhen)信號；

測試(shi)參數全面，相比于標量混頻器測試(shi)增(zeng)加了相位及群時(shi)延等(deng)參數的測試(shi)功能。

濾波器測試

3672系列(lie)矢(shi)量網絡(luo)分析儀(yi)具(ju)有濾波(bo)器測試菜單，可以得到(dao)濾波(bo)器在頻(pin)域的(de)所(suo)有通帶指標（包括帶寬，中(zhong)心頻(pin)點頻(pin)率(lv)(lv)、Q值，左(zuo)截止(zhi)頻(pin)率(lv)(lv)、右截止(zhi)頻(pin)率(lv)(lv)等(deng)）和阻(zu)帶指標（包括動態范(fan)圍，隔離度等(deng)）。具(ju)有：

快速準確的分段掃描(miao)；

一目了然的校準向(xiang)導；

快捷的高精度(du)電子校(xiao)準(zhun)技術；

通帶和(he)阻帶指標(biao)一次測量(liang)完成。

一體(ti)化脈沖S參數測試

3672系列矢量(liang)網(wang)絡分析儀具有脈沖調制信號輸出，可以完成脈沖狀態(tai)下S參數測試。具有：

內置四通道(dao)脈沖發生器和脈沖調制器，端口1、3可輸(shu)出脈沖調制信號(hao)；

完整的脈沖(chong)(chong)解決方案，可(ke)在寬帶(dai)模(mo)式和窄(zhai)帶(dai)模(mo)式下進行(xing)脈沖(chong)(chong)內定點(dian)、脈沖(chong)(chong)包絡和掃頻脈沖(chong)(chong)測(ce)量；

可與外部脈(mo)沖發生器和脈(mo)沖調制器同步(bu)(bu)，實現復雜(za)脈(mo)沖同步(bu)(bu)測(ce)試。

自動化(hua)測試

通過GPIB總(zong)線接口、網口提供(gong)靈(ling)活多樣(yang)的(de)控制方式，只需完成設備的(de)互聯，發(fa)送命令即可(ke)。為您提供(gong)一體化自(zi)動(dong)測(ce)試方案，包括自(zi)動(dong)校準、自(zi)動(dong)測(ce)量(liang)、自(zi)動(dong)讀取、自(zi)動(dong)打印等(deng)。具有：

簡單的(de)控制方(fang)式，一(yi)根網線、一(yi)個GPIB卡；

有(you)效的降(jiang)低成本(ben)，解放有(you)限的人力資(zi)源；

在(zai)有效的時(shi)間內完成更多的測(ce)試，大(da)大(da)縮短開發周期；

完成人(ren)工不可能(neng)完成的任務，如精確(que)時間控制(zhi)，復雜環(huan)境(jing)下的測試等(deng)。

 
高速(su)信號完整性測(ce)試

支持(chi)多端(duan)(duan)口Touchstone 格(ge)式的S參數(shu)導出，并且支持(chi)大端(duan)(duan)口數(shu)據(ju)導入

支(zhi)持時域TDR 的快速測試(shi)與顯示(shi)

支持混合模S參數的快速定義和測(ce)試

方便設置(zhi)差分對和(he)設置(zhi)串(chuan)(chuan)擾里的攻擊線(xian)(xian)和(he)受害線(xian)(xian)，求(qiu)取近端串(chuan)(chuan)擾和(he)遠端串(chuan)(chuan)擾

內置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪圖

支持眼(yan)(yan)圖生成，內置眼(yan)(yan)圖的模板測試(shi)功(gong)能(neng)

支持行業標準電氣層測試(shi)，包含(han)USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等(deng)，并可以(yi)自(zi)定義標準

內置延(yan)時(shi)和抖(dou)動計(ji)算(suan)模塊，方便進(jin)行對內延(yan)時(shi)和對間延(yan)時(shi)計(ji)算(suan)

包含調整端口順序、S 參數拆分和S 參數合并等專業S 參數處(chu)理(li)功能

內置報告模板，一鍵(jian)式(shi)繪制各種(zhong)曲(qu)線，自動生成相(xiang)應的word 和ppt文檔

內嵌多種去(qu)嵌方(fang)法(fa)，其中自動(dong)直通夾具去(qu)嵌則用于移除測(ce)試夾具的(de)(de)影響(xiang)(xiang)，從而獲得被(bei)測(ce)器件的(de)(de)S 參數(shu)；自動(dong)端口延伸(shen)可方(fang)便的(de)(de)利用開(kai)路或短路補償夾具的(de)(de)損耗和相位，減少夾具對測(ce)試結(jie)果的(de)(de)影響(xiang)(xiang)。