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4958手持式微波綜合測試儀

產品綜述

4958手持式微波綜合測試儀測量頻率范圍可達1MHz～20GHz，集電纜和天線駐波比測試、不連續點故障定位測試、插入損耗和增益測試、頻譜分析、功率測量等多種功能于一體，攜帶方便，機動靈活，可電池供電，非常適用于現場測試。該儀器可廣泛應用于雷達、通信、電子對抗等電子裝備的現場裝調、性能測試、日常維護和應急維修測試等各個環節，能夠有效提高用戶的現場維修保障能力。

功(gong)能特點

多種測量模式(shi)

天饋線測(ce)(ce)試模式：用于電纜(lan)和(he)天線測(ce)(ce)試（回波損耗、故障定位等）

網(wang)絡分析(xi)模式：用(yong)于S參數（S11、S12、S21、S22）測(ce)試(shi)；

頻譜分(fen)析(xi)模式：用(yong)(yong)于頻譜分(fen)析(xi)（場強、通(tong)道(dao)功(gong)率(lv)、占(zhan)用(yong)(yong)帶寬(kuan)等）；

功率監測(ce)模式：用于功率測(ce)量(liang)；

矢(shi)量(liang)電壓測量(liang)模式(shi)：用(yong)于矢(shi)量(liang)電壓測量(liang)；

USB功(gong)(gong)率測(ce)量：用(yong)于通過USB接口(kou)進行功(gong)(gong)率測(ce)量；

高性(xing)能

天(tian)饋線測試頻率范圍1MHz～20GHz（可用至5kHz），頻率分辨(bian)率10Hz；

網絡分析頻(pin)率(lv)范(fan)圍1MHz～20GHz（可用至5kHz），頻(pin)率(lv)分辨(bian)率(lv)10Hz，動(dong)態范(fan)圍80dB～95dB；

頻(pin)譜分析頻(pin)率范(fan)圍100KHz～20GHz（可用至9kHz），邊帶噪聲-105dBc/Hz@1MHz（1GHz載(zai)波）；

靈(ling)活性(xing)

體積小、重量輕(qing)、內置電池、現場(chang)作業輕(qing)松完成；

完善的自(zi)我診斷功能及狀態(tai)自(zi)測試；

智能(neng)(neng)的電源管理(li)功能(neng)(neng)，剩(sheng)余電量(liang)指示及低電量(liang)警告；

友好的人(ren)機界(jie)面

中(zhong)文操作(zuo)界(jie)面(mian)，內嵌使用(yong)說明和幫助信息；

7英寸高亮度真(zhen)彩TFT液(ye)晶顯示屏(ping)，陽光直射條件下也(ye)能提供良好的可(ke)視性(xing)；

通用接口

提供外部輸(shu)入偏置T功能，用于為有源(yuan)(yuan)被測件提供電(dian)源(yuan)(yuan)；

提供兩種類型的(de)USB2.0接口，分別用于連接移(yi)動存(cun)儲設(she)備(bei)和用于與(yu)計算機通訊；

提供1個(ge)100M的(de)網絡(luo)接口，可用于構建本地網絡(luo)或(huo)實現遠(yuan)程(cheng)控制；

天(tian)饋線(xian)測試(shi)

手持式微波綜合(he)測試(shi)儀(yi)的天(tian)饋線測試(shi)頻(pin)率(lv)范圍1MHz～20GHz，頻(pin)率(lv)分辨率(lv)10Hz，可(ke)對被測件的電壓駐波比、回(hui)波損(sun)耗(hao)(hao)、阻抗(kang)、電纜損(sun)耗(hao)(hao)等參數進行測量，同時還(huan)提(ti)供故障點(dian)定位功能（DTF），精確定位阻抗(kang)失(shi)配點(dian)。

網絡(luo)分析

手持式微波(bo)綜(zong)合測(ce)(ce)(ce)試儀的網絡分析(xi)頻(pin)率(lv)范圍1MHz～20GHz，頻(pin)率(lv)分辨率(lv)10Hz，提供標準全(quan)4S參(can)數矢量網絡分析(xi)測(ce)(ce)(ce)量能力，可以進(jin)行(xing)放(fang)大器(qi)、濾波(bo)器(qi)、衰減器(qi)、雙工器(qi)等全(quan)S參(can)數測(ce)(ce)(ce)試。顯示(shi)格式包括對數、線性、相位、阻抗(kang)、極坐標等。

 頻譜分析

手(shou)持(chi)式微(wei)波綜(zong)合測試儀頻(pin)譜(pu)分析(xi)頻(pin)率(lv)范圍(wei)為100kHz～20GHz，具有寬(kuan)頻(pin)帶、高分辨(bian)率(lv)、高靈敏度、動態范圍(wei)大(da)等特點，可方(fang)便地獲(huo)得(de)時域(yu)測量(liang)中不(bu)易得(de)到的(de)*信息，如頻(pin)譜(pu)純度、信號失真、寄生、交調(diao)等各種(zhong)參數。

USB功率(lv)測量（選件）

手持式(shi)微波綜合測試儀可通過選擇41所的8723X系列(lie)USB功率(lv)探頭(tou)進行功率(lv)測量，可以測量頻(pin)率(lv)高(gao)達40GHz的射頻(pin)/微波信號。

 功(gong)率(lv)監測（選件）

手持式微波綜合測試儀功率(lv)檢測頻(pin)率(lv)范圍為100kHz～20GHz，可通(tong)過頻(pin)譜輸入端(duan)口對被測信(xin)號(hao)進(jin)行功率(lv)測量。

矢量電壓測量（選(xuan)件）

手持(chi)式微波綜合測(ce)試儀(yi)矢量(liang)電壓測(ce)量(liang)頻(pin)率范圍為1MHz～20GHz，采用一體(ti)化方案代替傳統的(de)矢量(liang)電壓計，可(ke)對電纜及其他一些被測(ce)件(jian)的(de)電長度進行精確(que)測(ce)試。

典型應(ying)用

多領域(yu)測試

濾波器(qi)性能(neng)測(ce)試(shi)

用于測試濾(lv)波器(qi)的插(cha)入損耗(hao)、紋(wen)波、帶外抑制等指標。

時域測量

利用(yong)天(tian)饋線(xian)測試或者(zhe)網絡分析模式的時域功能，可(ke)以對電(dian)纜的長度、故障定位(wei)等進行(xing)測試。

雷達、通信(xin)系統性能測試    

可用于雷達(da)網絡(luo)散射參(can)數(shu)測量。

可用(yong)(yong)于各(ge)類(lei)軍用(yong)(yong)和民(min)用(yong)(yong)雷達(da)系統(tong)和通信(xin)(xin)系統(tong)的(de)研發過程(cheng)中，既可對信(xin)(xin)號發生過程(cheng)中的(de)各(ge)類(lei)信(xin)(xin)號進(jin)行精確的(de)頻率(lv)測(ce)試、功率(lv)測(ce)試、相位噪聲測(ce)試，也可對各(ge)種雜散信(xin)(xin)號、寄生信(xin)(xin)號、諧(xie)波失真及信(xin)(xin)號的(de)調制特性進(jin)行測(ce)試。

頻譜監測(ce)管(guan)理(li)

可對控(kong)制范圍內(nei)空中射頻(pin)信(xin)號(hao)進行(xing)管(guan)理，迅速判別(bie)和查找各類干(gan)擾信(xin)號(hao)。比如對軍用(yong)電臺、廣播電臺、通訊設(she)備、機場、基站、敏感區域等(deng)進行(xing)頻(pin)譜監測和管(guan)理。由于(yu)具有音頻(pin)解調(diao)功能，也(ye)可用(yong)于(yu)電臺的監聽。

通信衛星(xing)監測

可(ke)用于監測通信(xin)衛(wei)星的(de)信(xin)號(hao)(hao)頻(pin)譜質量、功率(lv)以及功率(lv)控制狀態，對干擾信(xin)號(hao)(hao)進行(xing)判別與查找，保障通信(xin)衛(wei)星網安全、可(ke)靠、穩(wen)定地運行(xing)。

射頻識別(bie)（RFID）領(ling)域測(ce)試

可用于射頻識別系(xi)統(tong)的詢問器傳輸(shu)雜(za)散(san)輻射和場(chang)強測試(shi)、頻率偏差(cha)測試(shi)、占(zhan)用帶寬(kuan)測試(shi)、輪詢和定時(shi)測量等。

藍(lan)牙領(ling)域測試

可用于藍牙系統的(de)發信(xin)機功率測(ce)(ce)試(shi)、功率譜測(ce)(ce)試(shi)、調制(zhi)測(ce)(ce)試(shi)、收(shou)發信(xin)機的(de)雜散輻(fu)射測(ce)(ce)試(shi)等。

元器件、部(bu)件及整機的測試

可以測(ce)量被測(ce)件(jian)S參數的幅度、相位(wei)和群(qun)延(yan)遲特(te)性，具備高效、強大的誤差修正能(neng)力，廣泛應用于元器件(jian)、雷達(da)、航天、電子干擾與對抗(kang)、通信、廣播(bo)電視(shi)等軍工、民用領域。

可以對電(dian)纜、連接器(qi)(qi)(qi)、放大器(qi)(qi)(qi)、濾波器(qi)(qi)(qi)、混頻(pin)器(qi)(qi)(qi)、衰減器(qi)(qi)(qi)、隔(ge)離(li)器(qi)(qi)(qi)、耦合器(qi)(qi)(qi)等元器(qi)(qi)(qi)件或(huo)部件進行增益、頻(pin)率響(xiang)應(ying)、帶寬、插損、變(bian)頻(pin)損耗(hao)、隔(ge)離(li)度、失(shi)真等參數的測試。

可以應用(yong)于多種整(zheng)機和設備的測(ce)(ce)試，如在信(xin)號發生器維修、維護、監測(ce)(ce)等方面，進行(xing)頻(pin)率(lv)、功率(lv)、相(xiang)位噪聲、寄(ji)生、諧波(bo)失真、調制特性(xing)等性(xing)能(neng)指(zhi)標的測(ce)(ce)試。