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6418/C光時域反射計

產品(pin)綜述(shu)

    6418/C光時域反射計是針對FTTx網絡而設計的一款高性能多功能測試儀器。該產品主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性，并能對光纖線路中的事件點、故障點準確定位。廣泛應用于光纖通信系統的工程施工、維護測試及緊急搶修；光纖光纜的研制與生產測試等。

    6418/C外(wai)觀結構采用業界zui為*的(de)雙色雙料一體(ti)化模具(ju)設(she)計(ji)工藝(yi)，外(wai)觀新(xin)穎亮麗、堅固耐(nai)用(yong)，采用(yong)觸(chu)摸和按鍵雙重(zhong)操作(zuo)(zuo)方式，操作(zuo)(zuo)非常方便；內置高級防反射的(de)LCD顯示(shi)單元(yuan)，即(ji)便野(ye)(ye)外(wai)環境(jing)下(xia)，操作(zuo)(zuo)界面也(ye)清(qing)晰可(ke)見(jian)；整(zheng)機(ji)具(ju)有4路光接(jie)(jie)口(kou)(kou)，可(ke)同時(shi)實現(xian)光功率(lv)計(ji)、VFL、單模及多(duo)模測試功能，接(jie)(jie)口(kou)(kou)類型可(ke)隨意更換，便于(yu)清(qing)潔光纖端面。該產品(pin)具(ju)有豐(feng)富的(de)外(wai)部接(jie)(jie)口(kou)(kou)，既可(ke)通(tong)過(guo)(guo)以(yi)太網接(jie)(jie)口(kou)(kou)實現(xian)遠程(cheng)控制，也(ye)可(ke)通(tong)過(guo)(guo)兩種(zhong)不同的(de)USB接(jie)(jie)口(kou)(kou)，實現(xian)外(wai)接(jie)(jie)U盤、打印(yin)機(ji)及與PC機(ji)數據通(tong)信。測試結果既可(ke)保存在機(ji)內，也(ye)可(ke)通(tong)過(guo)(guo)SD接(jie)(jie)口(kou)(kou)保存在SD卡中。機(ji)內配(pei)備(bei)有大容量的(de)鋰電池，工作(zuo)(zuo)時(shi)間長達8小時(shi)以(yi)上(shang)，適于(yu)長時(shi)間野(ye)(ye)外(wai)作(zuo)(zuo)業。

功能特(te)點

主要(yao)特點(dian)：

≤0.8m超短事件(jian)盲區，測(ce)試光纖跳線(xian)輕松(song)自如(ru)；

45dB大(da)動態范圍(wei)，256k數據采樣點；

業界zui*的雙色雙料一(yi)體(ti)化(hua)模具工藝，堅固耐用；

高級防反射LCD，野外環(huan)境下顯示界(jie)面清晰可見；

具(ju)有多(duo)種測試模式、觸摸屏及快捷鍵操作；

通信光自動(dong)監(jian)測功(gong)能；

具有(you)以太網(wang)遠(yuan)程控(kong)制(zhi)功能(neng)；

雙USB接口功能，可外接U盤、打印(yin)機及通過(guo)SyncActive軟件與(yu)PC機通信；

支持Bellcore GR196及SR-4731文件格(ge)式；

電池低電壓告警(jing)功(gong)能(neng)；

WinCE視窗(chuang)操作系統，中英文操作界面；

內置可(ke)視紅光故(gu)障定位（VFL）及光功率計功能(neng)；

多種(zhong)OTDR光(guang)輸(shu)出頭類型可隨(sui)意更換，端(duan)面清潔更加(jia)方(fang)便(bian)；

應用軟件(jian)在線升級，無需返(fan)回原(yuan)廠。

超(chao)短事件(jian)盲區(qu)

       6418/C具有≤0.8m的超短(duan)事件(jian)盲區(qu)，尤其適于對(dui)超短(duan)的光纖鏈路或光纖跳線的測試。

快速曲線分析

       6418/C能(neng)夠快速(su)準確地分析出測(ce)試曲線(xian)中(zhong)(zhong)的事(shi)件(jian)點或故障點及其位置信息，并以(yi)事(shi)件(jian)表的形(xing)式列出線(xian)路(lu)中(zhong)(zhong)所有(you)的事(shi)件(jian)信息，這對(dui)(dui)線(xian)路(lu)維護人員非常(chang)有(you)用，只需觀察事(shi)件(jian)表即可對(dui)(dui)被測(ce)線(xian)路(lu)的狀況一目了然(ran)。

 快速自動(dong)測試

    6418/C的(de)自動測試功能使得(de)用戶無(wu)需了解更(geng)多(duo)的(de)有關(guan)該儀(yi)器操作(zuo)的(de)細節，測試步驟變得(de)非常簡單，只需要接入(ru)光纖、點擊【測試】按鈕即可，儀(yi)器會(hui)自動設置zui佳測(ce)試條(tiao)件并(bing)zui終給(gei)出準確的測試結(jie)果，如(ru)測試曲線(xian)和事件列表等。

*的PON網絡測試(shi)功(gong)能

    6418/C是光纖接入網(wang)及FTTx的(de)理想(xiang)的(de)測(ce)試(shi)(shi)儀器(qi)，內(nei)置(zhi)有*的(de)PON網(wang)絡測(ce)試(shi)(shi)功能(neng)，能(neng)夠透過(guo)多達1:128的(de)光分(fen)路(lu)器(qi)，可以實(shi)現對PON網(wang)絡各分(fen)支的(de)精確測(ce)試(shi)(shi)。

可視故障定位（VFL）功能

    6418/C內置的可視紅光(guang)故障定位(wei)（VFL）功能，具有CW/1Hz/2Hz三種工作模式，可快速發現短(duan)距離光(guang)纖鏈路中的斷點或大的損(sun)耗點位(wei)置，以(yi)便維護人員及時(shi)采取措施，節省時(shi)間。

    自動來光監(jian)測及(ji)告警功能

    當 OTDR測(ce)試光纖(xian)(xian)鏈路(lu)時，如(ru)果光纖(xian)(xian)中有通(tong)(tong)信光信號(hao)，會(hui)造成(cheng)測(ce)試結果不準(zhun)確，甚至會(hui)對儀(yi)器內部的(de)探測(ce)器造成(cheng)不可恢復的(de)損壞(huai)。6418/C具有對被測(ce)光纖(xian)(xian)中 的(de)通(tong)(tong)信光信號(hao)自動監(jian)測(ce)功能，被測(ce)光纖(xian)(xian)只(zhi)要接(jie)入到6418/C的(de)光接(jie)口中，儀(yi)器便自動感應(ying)并監(jian)測(ce)光纖(xian)(xian)中是否有通(tong)(tong)信光信號(hao)，一旦監(jian)測(ce)到有光信號(hao)，將及時提(ti)(ti)示 告警信息，為儀(yi)器提(ti)(ti)供zui快zui及(ji)時的保(bao)護。

  豐富的外(wai)部接口(kou)

6418/C標配有豐富的(de)外部接口，如USB、  Min-USB、以(yi)太網、耳機及SD接口。因此，  可(ke)以(yi)實現以(yi)下功能：
  外接U盤(pan)或SD卡
  外接基于USB接口的打印機
  與PC機數據(ju)通信
  通(tong)過以太網實(shi)現(xian)遠(yuan)程控(kong)制
  外接耳機

典(dian)型應(ying)用(yong)

6418/C高性能光時(shi)域反(fan)射計(ji)具有手動(dong)測(ce)試(shi)（實時(shi)測(ce)試(shi)、平均測(ce)試(shi)）、自動(dong)測(ce)試(shi)和盲區測(ce)試(shi)3種模式。

手(shou)動測試(shi)模式：該(gai)(gai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模式適(shi)于那些對(dui)該(gai)(gai)儀(yi)器比較了解的熟練操(cao)作(zuo)者，因此(ci)能夠(gou)得到更加準(zhun)確(que)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果。在手動(dong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模式中，用戶可根據測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)需要選擇實時測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模式或(huo)平均測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模式。

實時測試：可快速檢測光(guang)纖鏈路的(de)動態變化，應(ying)用于(yu)需要(yao)實(shi)時監測或觀察光(guang)纖鏈路的(de)對接過(guo)程及效(xiao)果。

平均測(ce)試模式：可以盡zui大(da)可能地抑制測(ce)試(shi)曲線中的噪聲，從而得到(dao)更(geng)加(jia)精(jing)確的測(ce)試(shi)結果(guo)。在平(ping)(ping)均測(ce)試(shi)模(mo)式中，平(ping)(ping)均次數越(yue)大(da)，則對噪聲的抑制效果(guo)越(yue)好，但測(ce)試(shi)時間也相應的延長，因此，在實際使(shi)用(yong)中，可根據需要靈活(huo)設(she)置平(ping)(ping)均次數。

自動(dong)測試(shi)模式：該模式下，儀器(qi)能夠(gou)自動設(she)置zui佳測(ce)(ce)試條件，并給出測(ce)(ce)試結果(guo)，無需操(cao)作者(zhe)了解復雜的(de)背景知識和(he)有關儀器操(cao)作的(de)細(xi)節。為了提高自(zi)(zi)動(dong)測(ce)(ce)試的(de)精(jing)度，可以適(shi)當加大自(zi)(zi)動(dong)測(ce)(ce)試時的(de)平均次數，但將延長(chang)自(zi)(zi)動(dong)測(ce)(ce)試的(de)時間。

      盲區測試模式：該模(mo)式適用于(yu)對(dui)超短距離光纖(xian)的(de)測試(shi)，如測試(shi)光纖(xian)跳線(xian)的(de)長度等，在該模(mo)式下，如希望儀器(qi)獲得zui好的測試結(jie)果，要求被測光纖末端(duan)的反(fan)射損耗(hao)（或稱回(hui)波損耗(hao)）大于40dB。