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6332A/B光(guang)回(hui)波損(sun)耗(hao)測試(shi)儀

產品綜述

6332A/B光回(hui)波(bo)(bo)損耗(hao)測試(shi)(shi)儀內置2×2光開(kai)關，可快速實現(xian)光器件插入損耗(hao)和回(hui)波(bo)(bo)損耗(hao)雙向測試(shi)(shi)。光回(hui)波(bo)(bo)損耗(hao)測試(shi)(shi)時，不(bu)需要在光纖末端進行纏(chan)繞操(cao)作(zuo)或使用(yong)匹配液，顯(xian)著提高光回(hui)波(bo)(bo)損耗(hao)測試(shi)(shi)效率(lv)。通過內置激(ji)光器功率(lv)檢測模塊，實現(xian)光插入損耗(hao)準(zhun)確測試(shi)(shi)。產品廣泛應用(yong)于光纖通信科研、教學和生產領域。

功能特點

主要特(te)點(dian)

  回(hui)損測(ce)量無需(xu)纏繞或使(shi)用匹配液

  適應(ying)不同(tong)產品的端面回損(sun)測(ce)試，待測(ce)光(guang)纖跳線短至70cm

  全自動雙(shuang)波長光插回損同(tong)時測(ce)試

  單向(xiang)和雙(shuang)向(xiang)測(ce)試，縮短(duan)測(ce)試時間

  設定不(bu)同插回損閾值

  同時顯示插回損測試(shi)結果

  保存(cun)參(can)考和待(dai)測(ce)的(de)測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)，測(ce)試(shi)(shi)裝置不(bu)變的(de)話，可以直接(jie)調用(yong)保存(cun)的(de)參(can)考數據

回損(sun)測量無需纏繞或使(shi)用(yong)匹配液

 儀器采用(yong)光(guang)時域反射(she)(she)技術，區別于傳統的光(guang)連續波反射(she)(she)技術，相應地避免了(le)光(guang)回波損耗(hao)測量過程中的纏繞或者使用(yong)匹(pi)配液，提高了(le)測試效率。

適(shi)應不同產品的端面回損測(ce)試，待測(ce)光纖跳線短至70cm

不同型號儀(yi)(yi)器(qi)測(ce)試的回波損耗分別能低(di)至(zhi)14dB和高(gao)達80dB，這樣，可(ke)以根(gen)據產品(pin)回波損耗值來選(xuan)擇不同型號的儀(yi)(yi)器(qi)。儀(yi)(yi)器(qi)設計了(le)窄脈寬的激光(guang)器(qi)脈沖光(guang)驅動電路，當待測(ce)光(guang)回波損耗超過40dB時，待測(ce)光(guang)纖跳線可(ke)短至(zhi)70cm。

全(quan)自動(dong)雙波長光插回損同時測試

 測(ce)(ce)(ce)(ce)試過程中(zhong)，選中(zhong)雙(shuang)(shuang)波(bo)長之(zhi)后，參考測(ce)(ce)(ce)(ce)試可(ke)顯(xian)示雙(shuang)(shuang)波(bo)長的輸出光(guang)功率，待測(ce)(ce)(ce)(ce)件測(ce)(ce)(ce)(ce)試可(ke)顯(xian)示雙(shuang)(shuang)波(bo)長的光(guang)插入損耗和光(guang)回波(bo)損耗測(ce)(ce)(ce)(ce)試結果。

單(dan)向和雙向測試，縮短測試時間

 儀器通過內置2×2光(guang)開關(guan)，可以(yi)從不同輸出端口(kou)輸出脈沖光(guang)，從而實現單雙向測(ce)試(shi)功能。雙向測(ce)試(shi)時(shi)，一次(ci)連(lian)接光(guang)纖跳(tiao)線的(de)兩(liang)個端面，一次(ci)測(ce)試(shi)即可測(ce)出跳(tiao)線的(de)光(guang)插入損耗和(he)這(zhe)兩(liang)個端面的(de)光(guang)回(hui)波損耗，從而使測(ce)試(shi)時(shi)間減半。

設定(ding)不(bu)同插回(hui)損閾值

     ;  進(jin)入(ru)(ru)儀器設(she)置測(ce)試(shi)條件界面，在插(cha)入(ru)(ru)損(sun)耗閾(yu)(yu)值(zhi)和(he)回波(bo)(bo)損(sun)耗閾(yu)(yu)值(zhi)后面的窗口中輸入(ru)(ru)相應的數(shu)值(zhi)，那么(me)在測(ce)試(shi)結果中插(cha)入(ru)(ru)損(sun)耗高于閾(yu)(yu)值(zhi)和(he)回波(bo)(bo)損(sun)耗低于閾(yu)(yu)值(zhi)會顯示(shi)為(wei)紅色(se)(se)，其(qi)他為(wei)藍色(se)(se)。

典型應用

如(ru)下圖(tu)所示，使用(yong)6332A/B光(guang)回(hui)波損(sun)耗(hao)測(ce)試儀同時測(ce)試FC/APC—FC/APC型跳線的光(guang)插入損(sun)耗(hao)和光(guang)回(hui)波損(sun)耗(hao)。

對(dui)6332A/B光(guang)回(hui)波(bo)損(sun)(sun)耗測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)進行參考測(ce)(ce)(ce)試(shi)之后，接入(ru)待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)跳線，點擊(ji)測(ce)(ce)(ce)試(shi)鍵，即可測(ce)(ce)(ce)出待(dai)(dai)測(ce)(ce)(ce)光(guang)纖跳線的光(guang)插入(ru)損(sun)(sun)耗和(he)光(guang)回(hui)波(bo)損(sun)(sun)耗。