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6523紅外焦平面(mian)器(qi)件輸出信號(hao)可(ke)編程模擬器(qi)

產品綜述

    6523 紅(hong)外(wai)焦平面器件(jian)輸(shu)出(chu)(chu)信號可(ke)(ke)編程(cheng)模(mo)擬(ni)(ni)器是可(ke)(ke)以模(mo)擬(ni)(ni)并輸(shu)出(chu)(chu)真實探(tan)(tan)測(ce)器輸(shu)入輸(shu)出(chu)(chu)參數的(de)(de)可(ke)(ke)編程(cheng)信號源。強大(da)的(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)器參數模(mo)擬(ni)(ni)功能，使其可(ke)(ke)模(mo)擬(ni)(ni)紫外(wai)、可(ke)(ke)見光、紅(hong)外(wai)等各種(zhong)點、線及(ji)(ji)面陣CCD或CMOS型探(tan)(tan)測(ce)器的(de)(de)已知譜線數據(ju)(ju)(ju)、圖像(xiang)數據(ju)(ju)(ju)和同步信號。適用于各種(zhong)探(tan)(tan)測(ce)器后(hou)端數據(ju)(ju)(ju)采(cai)集及(ji)(ji)處理(li)系統(tong)（包(bao)括(kuo)采(cai)集電路、接口(kou)時序(xu)、軟(ruan)件(jian)算(suan)法）的(de)(de)軟(ruan)硬件(jian)聯調(diao)及(ji)(ji)探(tan)(tan)測(ce)器參數模(mo)擬(ni)(ni)的(de)(de)研究和實驗教(jiao)學。整機儀器不僅操作簡單、可(ke)(ke)靠性高、多(duo)種(zhong)探(tan)(tan)測(ce)器參數可(ke)(ke)編程(cheng)模(mo)擬(ni)(ni)，而且相比(bi)于傳(chuan)統(tong)的(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)器后(hou)端數據(ju)(ju)(ju)采(cai)集及(ji)(ji)處理(li)系統(tong)的(de)(de)調(diao)試(shi)方法，有著無(wu)法比(bi)擬(ni)(ni)的(de)(de)測(ce)試(shi)優(you)勢(shi)。

功能特點(dian)

主要特點

    ●業界(jie)唯yiyi款產品化的探測器(qi)參數(shu)模擬器(qi)

    ●可(ke)模(mo)擬(ni)各波(bo)段紫外、可(ke)見(jian)光(guang)、紅外探測器的信(xin)號輸出參數

    ●具有探測器型號模(mo)式(shi)匹配設置功(gong)能

    ●具有(you)與(yu)模擬信號輸出同步的像元、幀、行、CDS四種數(shu)字信號的功能(neng)

  ;  ●具有場景圖像(xiang)噪聲(sheng)模型編(bian)輯輸出功(gong)能

    ●具有動(dong)目標信(xin)號(hao)模(mo)擬(ni)輸出功能

    ●具有示波器功能

    ●具有豐富的通(tong)信(xin)接口(kou)

    ●軟件在線升級功能

探(tan)測器(qi)輸出參數匹配(pei)編輯功(gong)能

探測器(qi)輸出參數設置(zhi)主要包括數據輸出頻率、數據電平預處(chu)理、同步(bu)信號(hao)延遲、幀行同步(bu)關系、信號(hao)輸出動(dong)態范(fan)圍等基本(ben)參數的(de)匹配(pei)編輯，以最大限度的(de)匹配(pei)所模(mo)擬探測器(qi)型號(hao)的(de)輸出指標，協助(zhu)探測器(qi)后端各模(mo)塊的(de)調試。輸(shu)出數據(ju)全局顯示功能

    ;全局(ju)顯(xian)示(shi)功能可(ke)將輸出的(de)每(mei)幀數(shu)據(ju)在軟(ruan)件界面上進行全局(ju)顯(xian)示(shi)，可(ke)直觀的(de)顯(xian)示(shi)每(mei)幀圖像(xiang)數(shu)據(ju)中的(de)變化趨勢(shi)。 

輸(shu)出數據預處理功(gong)能

數據輸出(chu)預處理主要包括(kuo)對紅外(wai)圖像添加串音(yin)、噪聲、無(wu)效像元等噪聲模型(xing)的基本操作。

參數設置全局(ju)顯示功能

 在用戶設(she)置好探測器匹(pi)配(pei)參(can)數后，用于顯示完整設(she)置信息，方便(bian)用戶檢驗匹(pi)配(pei)參(can)數設(she)置結果。

示波(bo)器顯(xian)示功能

6523型探測器模擬器含有示(shi)波器功(gong)能，具有以下技術指標：

    帶寬：100MHz

    存儲深度：1MB

    輸(shu)入阻抗：1MΩ

    垂直(zhi)靈(ling)敏度：5mV/div～5V/div

    時基范圍：2ns/div～50s/div

典(dian)型應用

紅外熱像儀(yi)研制階段的功能(neng)調試

    探測(ce)(ce)(ce)器(qi)采集(ji)系(xi)統在研制過程中(zhong)的(de)調(diao)試，往往要(yao)加(jia)上前端光學模(mo)塊和探測(ce)(ce)(ce)器(qi)，但是由于(yu)(yu)光電系(xi)統中(zhong)光模(mo)塊及探測(ce)(ce)(ce)器(qi)工(gong)作性能的(de)未(wei)知和加(jia)電調(diao)試過程中(zhong)可(ke)能對探測(ce)(ce)(ce)器(qi)性能產生(sheng)破壞(huai)性影響，存在很大的(de)調(diao)試不方便、不確定性及不安(an)全(quan)性因素。而6523型(xing)紅(hong)外焦平面(mian)器(qi)件(jian)輸出信號可(ke)編程模(mo)擬器(qi)可(ke)*替代前端光學模(mo)塊以(yi)及探測(ce)(ce)(ce)器(qi)，非(fei)常(chang)方便安(an)全(quan)的(de)用(yong)于(yu)(yu)光電圖像(xiang)采集(ji)系(xi)統在研發及維(wei)修階段(duan)的(de)功能調(diao)試。

    將(jiang)本儀器(qi)接(jie)至去掉紅(hong)外(wai)探(tan)測(ce)(ce)器(qi)的紅(hong)外(wai)熱像儀電子學接(jie)口處，可搭成如下圖所示的測(ce)(ce)試系統，用于紅(hong)外(wai)熱像儀探(tan)測(ce)(ce)器(qi)后端(duan)軟硬件研制階段的功能調試。

探測器采集系(xi)統軟硬件數據實(shi)時處理算(suan)法驗證

    6523型紅外焦平面器(qi)件(jian)輸出信(xin)號可編程模擬器(qi)可通過本(ben)軟件(jian)自(zi)帶的(de)(de)圖像預處(chu)理算法或調用已處(chu)理過的(de)(de)圖像，將(jiang)加入確(que)定(ding)噪聲模型的(de)(de)圖像信(xin)號接至去掉(diao)探測(ce)(ce)器(qi)的(de)(de)光(guang)電采集(ji)系(xi)統(tong)的(de)(de)電子學接口(kou)處(chu)，可搭(da)成如下(xia)圖所示的(de)(de)測(ce)(ce)試系(xi)統(tong)，用于光(guang)電采集(ji)系(xi)統(tong)探測(ce)(ce)器(qi)后端軟硬件(jian)圖像實時(shi)處(chu)理算法性(xing)能的(de)(de)驗證(zheng)。

探測器工(gong)作原理模(mo)擬系統教學演示

    6523型(xing)紅外焦(jiao)平(ping)面器(qi)(qi)件輸出(chu)信號可編程模(mo)擬(ni)器(qi)(qi)可模(mo)擬(ni)各種型(xing)號探測器(qi)(qi)的(de)(de)輸出(chu)格式(shi)，通過投影儀(yi)或(huo)者示(shi)波器(qi)(qi)可真實的(de)(de)為學(xue)生演示(shi)探測器(qi)(qi)內(nei)部信號的(de)(de)輸出(chu)方式(shi)，非常適合光(guang)電課(ke)程的(de)(de)教學(xue)演示(shi)。