CS2673X耐壓測(ce)(ce)試儀性能特點 ◆輸出電(dian)壓：0－5kV（AC）/漏電(dian)流(liu)范圍：AC可測(ce)(ce)200mA ◆高電(dian)壓，小電(dian)流(liu)，準確(que) ◆漏電(dian)流(liu)、測(ce)(ce)試時(shi)(shi)間(jian)連續任意設定，適(shi)應性強(qiang) ◆同時(shi)(shi)顯示被測(ce)(ce)實際值（時(shi)(shi)間(jian)、電(dian)壓、電(dian)流(liu)同時(shi)(shi)顯示），不(bu)合(he)格聲光(guang)報警
CS2672DX耐壓測(ce)試儀產(chan)品介紹 ◆高(gao)(gao)電(dian)壓，小電(dian)流(liu)(liu)，準確 ◆漏電(dian)流(liu)(liu)、測(ce)試時(shi)間(jian)連續任意設定，適應性強 ◆同(tong)時(shi)顯示被測(ce)實(shi)際值(zhi)（時(shi)間(jian)、電(dian)壓、電(dian)流(liu)(liu)同(tong)時(shi)顯示），不合格聲光報警(jing) ◆手動、遙控測(ce)試 ◆高(gao)(gao)壓擊穿保護(hu) ◆DC輸(shu)出可測(ce)電(dian)容器耐壓、漏電(dian)流(liu)(liu)、高(gao)(gao)壓硅(gui)堆、晶(jing)體管反(fan)向電(dian)壓反(fan)向電(dian)流(liu)(liu)，一機多(duo)用
CS2672CX耐壓(ya)測(ce)(ce)試儀(yi)性(xing)能特點(dian) 輸出電(dian)(dian)壓(ya)：0－5kV（AC/DC）/漏(lou)(lou)電(dian)(dian)流范(fan)圍：AC可測(ce)(ce)100mA，DC可測(ce)(ce)20mA ◆高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)，小電(dian)(dian)流，準確 ◆漏(lou)(lou)電(dian)(dian)流、測(ce)(ce)試時間(jian)連(lian)續任意設定，適應性(xing)強 ◆同時顯(xian)(xian)示被測(ce)(ce)實際(ji)值(zhi)（時間(jian)、電(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)流同時顯(xian)(xian)示），不合格聲光報(bao)警 ◆手動、遙控測(ce)(ce)試 ◆高(gao)壓(ya)擊穿保護 ◆DC輸出可測(ce)(ce)電(dian)(dian)容器(qi)耐壓(ya)、漏(lou)(lou)電(dian)(dian)流、高(gao)壓(ya)硅(gui)堆、晶體(ti)管(guan)反向電(dian)(dian)壓(ya)反向電(dian)(dian)流，一
CS2672BX耐壓測(ce)試儀產(chan)品(pin)介(jie)紹 · 高(gao)(gao)電(dian)壓，小電(dian)流(liu)(liu)，準確 · 漏電(dian)流(liu)(liu)、測(ce)試時(shi)間(jian)連續任意設定，適應性強(qiang) · 同時(shi)顯(xian)示被(bei)測(ce)實(shi)際值（時(shi)間(jian)、電(dian)壓、電(dian)流(liu)(liu)同時(shi)顯(xian)示），不合(he)格聲(sheng)光報警 · 手動、遙(yao)控測(ce)試 · 高(gao)(gao)壓擊(ji)穿保(bao)護 · DC輸(shu)出可測(ce)電(dian)容(rong)器耐壓、漏電(dian)流(liu)(liu)、高(gao)(gao)壓硅堆、晶體(ti)管反(fan)向電(dian)壓反(fan)向電(dian)流(liu)(liu)，一(yi)機(ji)多用(yong)
CS2671BX耐壓測(ce)試(shi)儀(yi)性(xing)能特點(dian) ◆輸出電壓：0－10kV（AC/DC）/漏(lou)電流(liu)(liu)(liu)范(fan)圍：AC可測(ce)50mA，DC可測(ce)20mA ◆高電壓，小電流(liu)(liu)(liu)，準確 ◆漏(lou)電流(liu)(liu)(liu)、測(ce)試(shi)時(shi)間連續任意設(she)定，適應性(xing)強(qiang) ◆同時(shi)顯示(shi)被測(ce)實際值（時(shi)間、電壓、電流(liu)(liu)(liu)同時(shi)顯示(shi)），不合格聲光報警
CS2671AX耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀產(chan)品介(jie)紹 ◆高(gao)電(dian)壓(ya)，小電(dian)流，準(zhun)確 ◆漏電(dian)流、測試(shi)時(shi)(shi)間連續任意設(she)定，適應性(xing)強 ◆同時(shi)(shi)顯示被(bei)測實(shi)際值（時(shi)(shi)間、電(dian)壓(ya)、電(dian)流同時(shi)(shi)顯示），不合格(ge)聲光(guang)報警(jing) ◆手動、遙控測試(shi) ◆高(gao)壓(ya)擊穿保護(hu) ◆DC輸出可(ke)測電(dian)容器耐(nai)壓(ya)、漏電(dian)流、高(gao)壓(ya)硅堆、晶體(ti)管反向電(dian)壓(ya)反向電(dian)流，一機多用(yong)
CS2670AX耐壓測(ce)試(shi)儀產品介紹 ◆高電壓，小電流(liu)，準確 ◆漏電流(liu)、測(ce)試(shi)時間連續任意(yi)設定，適(shi)應性強 ◆同(tong)時顯示被測(ce)實際值（時間、電壓、電流(liu)同(tong)時顯示），不合格聲光報(bao)警 ◆手動、遙控測(ce)試(shi) ◆高壓擊穿保護(hu)
CS9922S系(xi)列程(cheng)控絕緣耐壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)儀產(chan)品(pin)介紹(shao) 本系(xi)列程(cheng)控絕緣耐壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)儀均采用高(gao)速MCU和大規模數字電路設計(ji)的高(gao)性能的安規測(ce)(ce)試(shi)儀，其(qi)輸(shu)出(chu)(chu)電壓(ya)(ya)的大小、輸(shu)出(chu)(chu)電壓(ya)(ya)的上升、下降、輸(shu)出(chu)(chu)電壓(ya)(ya)的頻率(lv)*由MCU控制，能實時(shi)顯(xian)示擊穿(chuan)電流值和電壓(ya)(ya)值，并(bing)具有(you)軟體校準功能，配備PLC接口(kou)、RS232C，并(bing)可選配RS485接口(kou)、USB device、USB Host、GPIB，可方便的與計(ji)算機或PLC組成綜合測(ce)(ce)試(shi)系(xi)統。能
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