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車載電子輻射抗擾度

簡要描述:

車載電子輻射抗擾度-BCI大電流注入法(1MHz–400MHz)
產品概述:
依據(ju)ISO11452-4、GB/T17619、SAE J1113-4、2004-104-EC等標(biao)準要求,BCI原理(li):將一(yi)個電流(liu)注入探頭(tou)(tou)放在連接被測設備的電纜線束裝(zhuang)置之上,然后向該探頭(tou)(tou)注入RF干擾(rao)。

更(geng)新(xin)時間:2018-08-06

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車載(zai)電子輻射抗擾度-BCI大電流注入法(1MHz–400MHz)

產品(pin)概(gai)述:

依據ISO11452-4、GB/T17619、SAE J1113-4、2004-104-EC等標(biao)準要(yao)求,BCI原理:將一(yi)個電流(liu)注入探頭放在連(lian)接(jie)被測設(she)備的電纜線束(shu)裝置(zhi)之上,然后向該探頭注入RF干擾(rao)。

· 產品說明


  依據ISO11452-4、GB/T17619、SAE J1113-4、2004-104-EC等標準要求,BCI原理:將一個(ge)電(dian)(dian)流(liu)(liu)注(zhu)入探頭放在連接被測設備的電(dian)(dian)纜線束裝(zhuang)置(zhi)之上,然(ran)(ran)后向該探頭注(zhu)入RF干擾。此(ci)時(shi),探頭作(zuo)為(wei)*電(dian)(dian)流(liu)(liu)變換(huan)器(qi),而(er)電(dian)(dian)纜成為(wei)第(di)二電(dian)(dian)流(liu)(liu)變換(huan)器(qi),因此(ci),RF電(dian)(dian)流(liu)(liu)先在電(dian)(dian)纜裝(zhuang)置(zhi)中以共模方式流(liu)(liu)過,然(ran)(ran)后再(zai)進入EUT的連接端(duan)口(kou)。注(zhu)入電(dian)(dian)流(liu)(liu)最(zui)高可達200mA。
  BCI測試法不(bu)需要(yao)在暗室中進(jin)行,建設成本較低(di)。


試(shi)驗配置(zhi):
  主要測(ce)試(shi)設備(bei):射(she)頻信號(hao)發生(sheng)器、功率放(fang)大器、定向耦合(he)器、射(she)頻功率計、大電流注(zhu)入(ru)探(tan)頭、電流監(jian)視探(tan)頭等。
  測試環境:屏蔽(bi)室


 

 

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