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射(she)(she)頻輻(fu)射(she)(she)抗擾(rao)(rao)度(du)（RS） 產品(pin)概述(shu)： 電臺(tai)、固定或移動式無(wu)線電發射(she)(she)臺(tai)、手持電話(hua)等都可能成為(wei)電磁場輻(fu)射(she)(she)源，干擾(rao)(rao)電子設備的正常(chang)工(gong)作。射(she)(she)頻輻(fu)射(she)(she)抗擾(rao)(rao)度(du)試驗通過模(mo)擬(ni)一定強度(du)的電磁輻(fu)射(she)(she)環境，考察被試設備的電磁場輻(fu)射(she)(she)抗擾(rao)(rao)度(du)能力。

射頻(pin)(pin)(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度(du)（CS）  產品概述： 對于低(di)頻(pin)(pin)(pin)（150kHz-80MHz/230MHz）的射頻(pin)(pin)(pin)信號(hao)，由于其波長比EUT尺寸要長得多，EUT的互(hu)連電(dian)纜（包括(kuo)電(dian)源線(xian)(xian)和(he)電(dian)纜線(xian)(xian)）比EUT本身(shen)更(geng)(geng)容(rong)易成為天線(xian)(xian)而接受電(dian)磁場(chang)，因此(ci)射頻(pin)(pin)(pin)抗擾度(du)試驗的低(di)頻(pin)(pin)(pin)部分，采用傳(chuan)導(dao)測試方式更(geng)(geng)直接。