美(mei)國TEGAM R1L-BR便(bian)攜式微歐計,R1L-BR接觸電阻測(ce)試(shi)儀 特點(dian)： 低成本：（R1L-B） 便(bian)攜：長時間待機充電電池 量程：2 mΩ 至(zhi) 20 Ω 精度：讀數(shu)的 0.25% 分(fen)辨(bian)率：1 µΩ 操(cao)作簡單 堅固盒裝
美國TEGAM R1L-BR1便(bian)攜(xie)(xie)式(shi)微歐計,R1L-BR1接觸電(dian)阻測試(shi)儀具(ju)有以下特點： ?便(bian)攜(xie)(xie)：長(chang)時間(jian)待機充電(dian)電(dian)池 ?量程(cheng)：2 mΩ 至 20 Ω ?精(jing)度(du)：讀數(shu)的 0.25% ?分辨(bian)率(lv)：1 µΩ ?操作簡(jian)單 ?堅(jian)固盒裝
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