GL900-8 數(shu)(shu)(shu)據記錄(lu)儀產(chan)(chan)品(pin)概(gai)述 近年來，對于電氣(qi)產(chan)(chan)品(pin)與(yu)(yu)工業產(chan)(chan)品(pin)，提高其(qi)可(ke)靠性已成(cheng)為重要(yao)的開(kai)發要(yao)素。諸如(ru)跌落試(shi)驗(yan)(yan) 振(zhen)動試(shi)驗(yan)(yan)撞擊試(shi)驗(yan)(yan)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)等，各類*的試(shi)驗(yan)(yan)應運(yun)而生。 尤其(qi)是可(ke)動部與(yu)(yu)驅動部耐(nai)(nai)久(jiu)試(shi)驗(yan)(yan)等，需反復進行數(shu)(shu)(shu)萬次試(shi)驗(yan)(yan)與(yu)(yu)數(shu)(shu)(shu)千小時的耐(nai)(nai)久(jiu)試(shi)驗(yan)(yan)。在此(ci)背景下，測量機器需具(ju)備可(ke)進行高速取(qu)樣與(yu)(yu)長(chang)(chang)時間數(shu)(shu)(shu)據收(shou)錄(lu)性能(neng)、可(ke)對各類現象（電壓(ya)/溫(wen)度/高電壓(ya)）實現同(tong)時測定(ding)。 此(ci)外，用多種產(chan)(chan)品(pin)進行長(chang)(chang)時間及耐(nai)(nai)久(jiu)試(shi)驗(yan)(yan)
GL900-4 數(shu)據記錄儀產品(pin)(pin)概述 近年來，對于(yu)電氣(qi)產品(pin)(pin)與(yu)(yu)工業(ye)產品(pin)(pin)，提高(gao)其(qi)可靠(kao)性已成為重要的(de)開(kai)發要素。諸如(ru)跌落試(shi)驗 振動試(shi)驗撞擊試(shi)驗環境試(shi)驗等，各類*的(de)試(shi)驗應運而生。 尤其(qi)是可動部與(yu)(yu)驅動部耐久(jiu)試(shi)驗等，需反復進(jin)行(xing)數(shu)萬(wan)次試(shi)驗與(yu)(yu)數(shu)千小時(shi)的(de)耐久(jiu)試(shi)驗。在此背(bei)景下，測量機器需具備可進(jin)行(xing)高(gao)速取樣與(yu)(yu)長時(shi)間數(shu)據收(shou)錄性能、可對各類現(xian)象（電壓/溫度/高(gao)電壓）實現(xian)同時(shi)測定。 此外(wai)，用多(duo)種產品(pin)(pin)進(jin)行(xing)長時(shi)間及耐久(jiu)試(shi)驗
GL840 數(shu)據(ju)記錄儀產品(pin)概述(shu) [高(gao)耐壓(ya)·高(gao)精度(du)(du)]和[標準]的(de)2個產品(pin)型號 較適合(he)(he)多通(tong)道溫度(du)(du)測量的(de)[標準型 GL840-M]外(wai)、增加(jia)了適合(he)(he)充電電池的(de)電壓(ya)測量和高(gao)精度(du)(du)溫度(du)(du)測量的(de)[高(gao)耐壓(ya)·高(gao)精度(du)(du)型 GL840-WV]。
GL820 數據記(ji)錄儀產(chan)(chan)品(pin)(pin)概述 midi LOGGER GL820是一款重視(shi)擴(kuo)(kuo)展(zhan)性(xing)的(de)模(mo)式產(chan)(chan)品(pin)(pin)。頻(pin)道數大(da)可(ke)(ke)由標準20ch擴(kuo)(kuo)展(zhan)至(zhi)200ch。除采用(yong)可(ke)(ke)放心檢測的(de)全(quan)頻(pin)道絕緣(yuan)輸入(ru)方式外，還(huan)可(ke)(ke)實現電壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯等多樣化輸入(ru)。為提升耐噪(zao)音性(xing)，產(chan)(chan)品(pin)(pin)搭(da)載(zai)了(le)⊿Σ型的(de)A/D變頻(pin)器(qi)，以此提高(gao)高(gao)頻(pin)率噪(zao)音的(de)消除效率。 此外，產(chan)(chan)品(pin)(pin)還(huan)裝配(pei)了(le)適用(yong)于(yu)多通道數據監控(kong)的(de)以太(tai)網，可(ke)(ke)進(jin)行(xing)遠(yuan)程監控(kong)。存儲(chu)媒(mei)體可(ke)(ke)使用(yong)USB存儲(chu)器(qi)，
GL240 數據(ju)記錄儀產(chan)品概述(shu) 無(wu)線LAN下的(de)(de)無(wu)線測(ce)定 通過路由器，可(ke)簡(jian)單實現(xian)在(zai)局(ju)域網和英特網內的(de)(de)無(wu)線測(ce)定。也可(ke)進(jin)行(xing)遠程(cheng)監(jian)控。 支持多樣(yang)化的(de)(de)測(ce)定 采用各類輸(shu)入信(xin)號不受他通道影響的(de)(de)全通道絕緣輸(shu)入方(fang)式。多功(gong)能模擬(ni)信(xin)號輸(shu)入接口(kou)，支持多樣(yang)化的(de)(de)測(ce)定。 標配(pei)4GB存(cun)(cun)儲(chu)卡(ka)進(jin)行(xing)可(ke)信(xin)性高的(de)(de)長(chang)時間(jian)測(ce)量 標配(pei)4GB的(de)(de)SD存(cun)(cun)儲(chu)卡(ka)。收錄的(de)(de)數據(ju)文件為GBD或者CSV格式。
GL220 數(shu)據記錄(lu)儀產品概(gai)述(shu) midi LOGGER GL220采用(yong)小型、可(ke)放心測(ce)定的(de)(de)全(quan)頻道絕緣輸入(ru)方式。可(ke)進行電(dian)壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯(ji)的(de)(de)多(duo)(duo)元輸入(ru) 根據客(ke)戶要求(qiu)提(ti)供多(duo)(duo)種高速電(dian)壓測(ce)定，可(ke)測(ce)定范圍擴展至10ms取樣（電(dian)壓范圍1ch輸入(ru)時(shi)）。 此外，內置存儲器中搭(da)載(zai)2GB大(da)容量(liang)閃存，無需使用(yong)外部存儲媒體(ti)即可(ke)實現(xian)長時(shi)間的(de)(de)數(shu)據収(shou)錄(lu)。 GL220提(ti)高了(le)可(ke)對應(ying)多(duo)(duo)樣化(hua)測(ce)量(liang)用(yong)途的(de)(de)功能性(xing)與(yu)操作性(xing),從研究
GL900-8數(shu)據(ju)記錄(lu)儀產品(pin)概述 近年來，對(dui)于電(dian)(dian)氣(qi)產品(pin)與工(gong)業產品(pin)，提高(gao)其可(ke)靠性已成為重(zhong)要的開發(fa)要素(su)。諸如跌落試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan) 振動(dong)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)撞擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)等，各(ge)(ge)類(lei)*的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)應運而生。 尤其是可(ke)動(dong)部與驅動(dong)部耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)等，需(xu)反復進行(xing)數(shu)萬次試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)與數(shu)千小時(shi)的耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)。在此背景下，測(ce)量機器需(xu)具備可(ke)進行(xing)高(gao)速取(qu)樣與長(chang)時(shi)間數(shu)據(ju)收錄(lu)性能、可(ke)對(dui)各(ge)(ge)類(lei)現象（電(dian)(dian)壓(ya)/溫(wen)度/高(gao)電(dian)(dian)壓(ya)）實現同時(shi)測(ce)定。 此外，用多種產品(pin)進行(xing)長(chang)時(shi)間及(ji)耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)
GL900-4數(shu)據記錄(lu)儀產(chan)品概述(shu) 近年來，對(dui)于電氣產(chan)品與工業產(chan)品，提高其可(ke)靠性已成(cheng)為重要(yao)的開發要(yao)素。諸如跌(die)落試(shi)(shi)驗(yan) 振(zhen)動試(shi)(shi)驗(yan)撞擊試(shi)(shi)驗(yan)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)等，各(ge)(ge)類(lei)*的試(shi)(shi)驗(yan)應運而生。 尤(you)其是可(ke)動部與驅動部耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)等，需反復進(jin)(jin)行(xing)數(shu)萬(wan)次試(shi)(shi)驗(yan)與數(shu)千小時(shi)的耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)。在(zai)此背景下，測量機器需具備可(ke)進(jin)(jin)行(xing)高速取樣與長(chang)時(shi)間數(shu)據收錄(lu)性能、可(ke)對(dui)各(ge)(ge)類(lei)現象（電壓/溫度/高電壓）實現同(tong)時(shi)測定。 此外(wai)，用多種產(chan)品進(jin)(jin)行(xing)長(chang)時(shi)間及(ji)耐(nai)久(jiu)試(shi)(shi)驗(yan)
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