IM7587阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)產品概(gai)述(shu) 可信(xin)賴的(de)(de)機(ji)(ji)型3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)試電壓測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率(lv)：1MHz~3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間：較快0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間） ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差：0.07%（測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率(lv)1GHz時(shi)(shi)的(de)(de)代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(ji)(ji)僅機(ji)(ji)架一半大小(xiao)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試頭尺寸僅手掌(zhang)大小(xiao) ● 豐富的(de)(de)接觸檢查（DCR測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析(xi)模式(shi)下可以(yi)邊(bian)掃(sao)描測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率(lv)、測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)信(xin)號電平(ping)邊(bian)
IM7585阻抗分析儀產品概述 高(gao)(gao)速、高(gao)(gao)穩定性(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，提高(gao)(gao)生產量(liang)(liang)！測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較(jiao)(jiao)快(kuai)(kuai)0.5ms，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)偏(pian)差0.07% ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率：1MHz~1.3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較(jiao)(jiao)快(kuai)(kuai)0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)） ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)偏(pian)差：0.07%（測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率1GHz時(shi)(shi)的(de)代表(biao)值(zhi)） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊(jin)湊主機僅(jin)機架一半大小，測(ce)(ce)(ce)(ce)試頭僅(jin)手掌大小 ● 豐富的(de)接(jie)觸檢查功能（DCR測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形判定）
IM7583阻抗分析儀產品(pin)概述 高速、高穩(wen)定(ding)性(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，提高生產量(liang)(liang)！測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間：較快(kuai)0.5ms ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率：1MHz~600MHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間：較快(kuai)0.5ms（模擬測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊(cou)主機僅機架一半(ban)大小，測(ce)(ce)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢(jian)查功能（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形判定(ding)） ● 使用分析功能在掃描測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信號電(dian)平的同時(shi)(shi)進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)
IM7581阻抗分析(xi)(xi)儀產品概述 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主(zhu)機僅機架一半大小、測試頭僅手(shou)掌大小 ● 豐富(fu)的接觸檢查(cha)功能(neng)（DCR測量(liang)、Hi-Z篩(shai)選(xuan)、波形判定(ding)） ● 使(shi)用分析(xi)(xi)功能(neng)在掃描測量(liang)頻率(lv)、測量(liang)信號電平的同時(shi)進(jin)行測量(liang)
IM7580A阻抗(kang)分析儀產品(pin)概述 較(jiao)快0.5ms，高(gao)速、高(gao)穩定(ding)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，節省(sheng)空(kong)間的(de)(de)半個機(ji)架(jia)大小 ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)1MHz~300MHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)時間：較(jiao)快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊(cou)主(zhu)機(ji)僅(jin)機(ji)架(jia)一半大小、測(ce)(ce)試頭僅(jin)手掌大小 ● 豐富的(de)(de)接(jie)觸檢查功能（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形判定(ding)） ● 使用分析功能在掃描(miao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)頻(pin)率(lv)、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)信(xin)號電平的(de)(de)同時進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)
IM3590化學(xue)阻抗分析儀(yi)產品概述(shu) 用(yong)于(yu)(yu)測量(liang)電(dian)(dian)(dian)氣化學(xue)零(ling)件(jian)(jian)和(he)(he)材料/電(dian)(dian)(dian)池(chi)/EDLC（電(dian)(dian)(dian)氣雙(shuang)層電(dian)(dian)(dian)容） ● 適用(yong)于(yu)(yu)離子運動(dong)和(he)(he)溶液電(dian)(dian)(dian)阻測量(liang)，1mHz ～ 200kHz的寬范圍(wei)信(xin)號源 ● 1臺機器即可(ke)實(shi)現LCR測量(liang)、掃(sao)描測量(liang)的連續測量(liang)和(he)(he)高(gao)速檢查 ● 可(ke)測量(liang)電(dian)(dian)(dian)池(chi)的無負載狀(zhuang)態產生的內(nei)部(bu)電(dian)(dian)(dian)阻 ● 較快2ms的高(gao)速測量(liang)，實(shi)現掃(sao)描測量(liang)的高(gao)速化 ● 基(ji)本精(jing)度±0.05%，零(ling)件(jian)(jian)檢查到研(yan)究開(kai)發(fa)測量(liang)均可(ke)對應
IM3570阻抗分析儀產品概述 1臺(tai)儀器實現(xian)不同測(ce)(ce)量條件(jian)下(xia)的(de)高速(su)檢查(cha) ● 1臺(tai)儀器實現(xian)LCR測(ce)(ce)量、DCR測(ce)(ce)量、掃(sao)描測(ce)(ce)量等(deng)的(de)連續測(ce)(ce)量和高速(su)檢查(cha) ● LCR模式下(xia)較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的(de)高速(su)測(ce)(ce)量 ● 基本精度(du)±0.08%的(de)高精度(du)測(ce)(ce)量 ● 適用于壓(ya)電元(yuan)件(jian)的(de)共振(zhen)特(te)性(xing)檢查(cha)、功能性(xing)高分子電容(rong)的(de)C-D和低ESR測(ce)(ce)量，電感器（線圈(quan)、變壓(ya)器）的(de)DCR和L-Q的(de)測(ce)(ce)量
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