BT4560電池(chi)阻(zu)抗測(ce)(ce)試儀產品概述 鋰電池(chi)的(de)可靠性判斷 10秒 ● 低頻AC-IR*測(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)量(liang)時間短 *使(shi)用1Hz以下(xia)(xia)的(de)低頻測(ce)(ce)量(liang)內阻(zu)的(de)話不需要(yao)充(chong)放電 ● 也能精確*測(ce)(ce)量(liang)低阻(zu)電池(chi) *改善S/N比(bi)，在(zai)3mΩ量(liang)程(cheng)下(xia)(xia)測(ce)(ce)試電流為1.5A ● 電路結構較(jiao)難(nan)受(shou)到接觸電阻(zu)和布線電阻(zu)的(de)影響，實現穩定(ding)測(ce)(ce)量(liang) ● 同時測(ce)(ce)量(liang)阻(zu)抗和電壓
BT3563電(dian)(dian)池(chi)測試儀(yi)產(chan)品概述 ● 可直接(jie)測量高(gao)(gao)達300V的電(dian)(dian)壓(ya)（BT3563） ● 用于(yu)檢查(cha)高(gao)(gao)電(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)池(chi)組/電(dian)(dian)池(chi)單(dan)元的生產(chan)線 ● 大型(xing)（低(di)電(dian)(dian)阻）電(dian)(dian)池(chi)單(dan)元檢查(cha) ● 多種(zhong)接(jie)口可用于(yu)高(gao)(gao)速自(zi)動(dong)化(hua)產(chan)線中
BT3562電(dian)(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)產品概述 大型電(dian)(dian)池(chi)單元(yuan)&高(gao)壓電(dian)(dian)池(chi)檢查(cha)的高(gao)速(su)電(dian)(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi) ● 可(ke)直接測(ce)(ce)量(liang)高(gao)達300V的電(dian)(dian)壓（BT3563） ● 用于檢查(cha)高(gao)電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)池(chi)組/電(dian)(dian)池(chi)單元(yuan)的生產線(xian) ● 大型（低電(dian)(dian)阻）電(dian)(dian)池(chi)單元(yuan)檢查(cha) ● 多種接口可(ke)用于高(gao)速(su)自動化產線(xian)中(zhong)
BT3554電(dian)(dian)池測(ce)試儀(yi)產品概述(shu) 更加快速的判斷鉛蓄電(dian)(dian)池劣化(hua)情(qing)況 ● 從(cong)測(ce)量(liang)到(dao)保(bao)存較快2秒(miao)，和舊機(ji)型(xing)（3554）相比縮(suo)短了(le)60% ● 測(ce)量(liang)內部電(dian)(dian)阻/電(dian)(dian)壓，并瞬間(jian)判斷劣化(hua)狀態（合格、警告、不合格） ● 搭載降噪技術(shu)，提高抗(kang)干擾(rao)性 ● 通過Bluetooth®無線技術(shu)，實時(shi)發送(song)并顯示測(ce)量(liang)值（BT3554-01）
3561電(dian)池測試儀(yi)產品概(gai)述(shu) 測量(liang)(liang)鋰電(dian)池電(dian)壓和內阻 ● 高精度:電(dian)阻±0.5% rdg. ±5dgt., 電(dian)壓±0.01% rdg. ±3dgt. ● 高分辨率:電(dian)阻0.01mΩ（300mΩ量(liang)(liang)程(cheng)）; 電(dian)壓0.1mV（20V量(liang)(liang)程(cheng)） ● 高速(su)10ms以內同(tong)時測量(liang)(liang)內阻和電(dian)壓 ● 大可(ke)以統(tong)計(ji)30000個數(shu)據,有利(li)于(yu)工程(cheng)管理,品質管理
3555電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試儀(yi)產品概(gai)述 立即(ji)測定(ding)電(dian)池(chi)(chi)(chi)劣化情(qing)況:小型二次電(dian)池(chi)(chi)(chi)用 ● 通(tong)過對電(dian)池(chi)(chi)(chi)的(de)內(nei)電(dian)阻和內(nei)電(dian)壓的(de)測量 ● 以合格（pass），警告（warning）及不合格（fail）三段(duan)指(zhi)示 ● 使本系列(lie)產品能(neng)夠立即(ji)得到電(dian)池(chi)(chi)(chi)狀態的(de)結果(guo)
IM3536LCR測試儀產(chan)品(pin)概述(shu) DC，4Hz~8MHz測量頻(pin)率，今后的(de)標(biao)桿(gan)產(chan)品(pin) ● 測量頻(pin)率DC，4Hz~8MHz ● 測量時間：較快1ms ● 基本(ben)精度(du)：±0.05% rdg ● 1mΩ以(yi)上的(de)精度(du)保(bao)證范圍(wei)，也可安(an)心進行低阻(zu)測量 ● 可內部(bu)發(fa)生DC偏壓(ya)測量 ● 從(cong)研(yan)發(fa)到生產(chan)線活躍在各種(zhong)領域(yu)中
IM3533LCR測(ce)(ce)(ce)試儀產(chan)品概(gai)述(shu) 應用于生產(chan)線(xian)和自動化測(ce)(ce)(ce)試領域的(de)理(li)想選擇 ● 基(ji)本(ben)精度(du)±0.05％，測(ce)(ce)(ce)量范圍廣(guang)（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這(zhe)樣的(de)混合測(ce)(ce)(ce)量條件下，可(ke)以(yi)以(yi)往產(chan)品10倍的(de)速度(du)不(bu)間(jian)斷測(ce)(ce)(ce)試。 ● 內置比較器(qi)和BIN功能(neng) ● 2ms的(de)快(kuai)速測(ce)(ce)(ce)試時間(jian)
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