3555電(dian)(dian)池測(ce)試儀產(chan)品(pin)(pin)概述 立即(ji)測(ce)定電(dian)(dian)池劣化情況:小型二次(ci)電(dian)(dian)池用(yong) ● 通過對電(dian)(dian)池的內電(dian)(dian)阻和內電(dian)(dian)壓的測(ce)量 ● 以合格（pass），警告(gao)（warning）及(ji)不合格（fail）三段指示 ● 使本系列(lie)產(chan)品(pin)(pin)能夠立即(ji)得到電(dian)(dian)池狀態(tai)的結果
IM7587阻抗分析(xi)儀產品概述(shu) 可(ke)信賴的機(ji)型3GHz ● 測(ce)試電(dian)壓測(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率：1MHz~3GHz ● 測(ce)量(liang)(liang)時間：較快0.5ms（模擬測(ce)量(liang)(liang)時間） ● 測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)偏差(cha)：0.07%（測(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率1GHz時的代表值(zhi)） ● 基(ji)本精(jing)度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(ji)僅機(ji)架一半大(da)(da)小，測(ce)試頭(tou)尺寸(cun)僅手掌大(da)(da)小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波(bo)形判定） ● 分析(xi)模式下可(ke)以(yi)邊掃描測(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率、測(ce)量(liang)(liang)信號電(dian)平(ping)邊
IM7585阻(zu)抗(kang)分析儀產(chan)品概述 高速、高穩定性測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，提高生產(chan)量(liang)(liang)！測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較(jiao)快0.5ms，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差(cha)0.07% ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率：1MHz~1.3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較(jiao)快0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)） ● 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差(cha)：0.07%（測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率1GHz時(shi)(shi)的代表值） ● 基(ji)本精度：±0.65% rdg. ● 緊(jin)湊主機(ji)僅(jin)機(ji)架一(yi)半大小，測(ce)(ce)(ce)(ce)試頭僅(jin)手掌大小 ● 豐(feng)富(fu)的接觸檢查功能（DCR測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波(bo)形判定）
IM7583阻抗分析(xi)儀(yi)產品(pin)概述 高(gao)速、高(gao)穩定性(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，提高(gao)生(sheng)產量(liang)(liang)(liang)(liang)！測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較快(kuai)0.5ms ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)頻率：1MHz~600MHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)：較快(kuai)0.5ms（模(mo)擬測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時(shi)(shi)間(jian)） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅(jin)機架一半大(da)(da)小，測(ce)(ce)試頭僅(jin)手(shou)掌(zhang)大(da)(da)小 ● 豐富的接觸檢(jian)查(cha)功(gong)能（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)、Hi-Z篩選(xuan)、波(bo)形判(pan)定） ● 使用分析(xi)功(gong)能在(zai)掃描測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)頻率、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)信號電平的同時(shi)(shi)進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)
IM7581阻抗分析儀產品(pin)概述 較快0.5ms，覆(fu)蓋100kHz~300MHz的(de)低頻 ● 緊湊(cou)主機(ji)僅機(ji)架一(yi)半大小、測(ce)(ce)試頭僅手掌大小 ● 豐富的(de)接觸檢(jian)查(cha)功能（DCR測(ce)(ce)量(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波(bo)形判(pan)定） ● 使(shi)用分析功能在掃描(miao)測(ce)(ce)量(liang)頻率、測(ce)(ce)量(liang)信號(hao)電(dian)平的(de)同時進(jin)行(xing)測(ce)(ce)量(liang)
IM7580A阻抗(kang)分析(xi)(xi)儀(yi)產品(pin)概述 較快(kuai)0.5ms，高速、高穩定測(ce)(ce)量(liang)(liang)，節省空間(jian)的半個機架大(da)(da)小 ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率1MHz~300MHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)間(jian)：較快(kuai)0.5ms ● 基本精度(du)±0.72%rdg. ● 緊(jin)湊主機僅機架一半大(da)(da)小、測(ce)(ce)試(shi)頭僅手(shou)掌(zhang)大(da)(da)小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使(shi)用(yong)分析(xi)(xi)功能在掃描(miao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信號(hao)電平的同(tong)時(shi)進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)
IM3590化(hua)(hua)學阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀產(chan)品概述 用(yong)(yong)于(yu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)氣化(hua)(hua)學零件和(he)材料/電(dian)池/EDLC（電(dian)氣雙層電(dian)容(rong)） ● 適用(yong)(yong)于(yu)離子運(yun)動和(he)溶液電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，1mHz ～ 200kHz的寬范圍(wei)信號(hao)源 ● 1臺機器(qi)即可(ke)實(shi)現LCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)、掃描測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的連續測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)和(he)高(gao)速檢查 ● 可(ke)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)池的無負載狀態產(chan)生(sheng)的內部電(dian)阻(zu) ● 較快2ms的高(gao)速測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，實(shi)現掃描測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的高(gao)速化(hua)(hua) ● 基本精(jing)度±0.05%，零件檢查到(dao)研究開發測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)均可(ke)對應
IM3570阻抗分(fen)析儀(yi)產品概述(shu) 1臺儀(yi)器實現(xian)不(bu)同(tong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)條件下(xia)的(de)(de)(de)高(gao)速(su)檢查 ● 1臺儀(yi)器實現(xian)LCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、掃描(miao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)等的(de)(de)(de)連續測(ce)(ce)量(liang)(liang)和(he)(he)(he)高(gao)速(su)檢查 ● LCR模式下(xia)較(jiao)快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的(de)(de)(de)高(gao)速(su)測(ce)(ce)量(liang)(liang) ● 基本精度(du)(du)±0.08%的(de)(de)(de)高(gao)精度(du)(du)測(ce)(ce)量(liang)(liang) ● 適(shi)用(yong)于壓(ya)(ya)電元件的(de)(de)(de)共振(zhen)特性檢查、功能性高(gao)分(fen)子電容的(de)(de)(de)C-D和(he)(he)(he)低(di)ESR測(ce)(ce)量(liang)(liang)，電感器（線圈、變壓(ya)(ya)器）的(de)(de)(de)DCR和(he)(he)(he)L-Q的(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)
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