IM3536LCR測(ce)試儀產(chan)品(pin)(pin)概述(shu) DC，4Hz~8MHz測(ce)量頻率，今后的標桿產(chan)品(pin)(pin) ● 測(ce)量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測(ce)量時間：較快1ms ● 基(ji)本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以(yi)上(shang)的精度保證范圍(wei)，也可安心進(jin)行低阻測(ce)量 ● 可內部發(fa)生(sheng)DC偏壓(ya)測(ce)量 ● 從研發(fa)到生(sheng)產(chan)線活躍在各種領域中
IM3533LCR測試(shi)(shi)儀產品概述 應用于生產線和自動化測試(shi)(shi)領域的(de)(de)(de)理想選擇 ● 基(ji)本精(jing)度(du)±0.05％，測量范圍(wei)廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這(zhe)樣的(de)(de)(de)混合測量條(tiao)件下，可以(yi)(yi)以(yi)(yi)往產品10倍的(de)(de)(de)速(su)度(du)不間斷測試(shi)(shi)。 ● 內置比較(jiao)器(qi)和BIN功能 ● 2ms的(de)(de)(de)快速(su)測試(shi)(shi)時(shi)間
IM3523LCR測(ce)(ce)試儀產(chan)品概述 應用(yong)于生產(chan)線和自動(dong)化測(ce)(ce)試領域的理想選(xuan)擇 ● 基本精度±0.05％，測(ce)(ce)量(liang)范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(ce)(ce)量(liang)條件下，可以以往產(chan)品10倍(bei)的速度不間斷測(ce)(ce)試。 ● 內置(zhi)比較(jiao)器和BIN功能 ● 2ms的快速測(ce)(ce)試時間
3511-50LCR測(ce)(ce)試儀產品(pin)概述 精巧，非常專業，5ms快速測(ce)(ce)量LCR ● 高速測(ce)(ce)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度(du)： ± 0.08% ● 內置比較器
3506-10C測試(shi)儀(yi)產(chan)(chan)品(pin)概述 對應1MHz測試(shi), 低(di)(di)容量,高(gao)(gao)精度,高(gao)(gao)速(su)測試(shi) ● 模擬測量時(shi)間0.6ms（1MHz）的(de)(de)(de)高(gao)(gao)速(su)測量 ● 提(ti)高(gao)(gao)了抗干擾性，在產(chan)(chan)線(xian)的(de)(de)(de)上也(ye)能實現高(gao)(gao)反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低(di)(di)電容的(de)(de)(de)貼片時(shi)可穩定(ding)測量 ● 根據BIN的(de)(de)(de)測定(ding)區分(fen)容量
3504-60C測(ce)(ce)(ce)試儀產(chan)品概述 封裝(zhuang)機(ji)、分選(xuan)機(ji)、電(dian)容器的(de)(de)(de)合格與否的(de)(de)(de)判斷和等級分類等 ● 高(gao)(gao)速測(ce)(ce)(ce)量(liang)2ms ● 能(neng)根據(ju)C 和D （損耗(hao)系數*2）的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)值，進行被測(ce)(ce)(ce)物合格與否的(de)(de)(de)判斷 ● 對應測(ce)(ce)(ce)試線，比較(jiao)器功(gong)(gong)能(neng)/觸發輸出(chu)(chu)功(gong)(gong)能(neng) ● 3504-60/-50用BIN的(de)(de)(de)分選(xuan)接(jie)(jie)口進行被測(ce)(ce)(ce)物體的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試 ● 3504-40記(ji)錄工具，實現高(gao)(gao)速/低(di)成(cheng)本的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試 ● 查(cha)出(chu)(chu)全機(ji)測(ce)(ce)(ce)量(liang)中的(de)(de)(de)接(jie)(jie)觸錯誤，提高(gao)(gao)成(cheng)品率(lv)
3504-50C測(ce)試(shi)儀產品概述(shu) 封裝(zhuang)機、分選(xuan)(xuan)機、電容器(qi)(qi)的合(he)(he)格與否的判斷和(he)等級分類等 ● 高速(su)測(ce)量(liang)2ms ● 能(neng)(neng)根據C 和(he)D （損耗系數*2）的測(ce)量(liang)值(zhi)，進行被測(ce)物合(he)(he)格與否的判斷 ● 對應測(ce)試(shi)線(xian)，比較器(qi)(qi)功(gong)能(neng)(neng)/觸發輸出(chu)功(gong)能(neng)(neng) ● 3504-60/-50用BIN的分選(xuan)(xuan)接(jie)口(kou)進行被測(ce)物體的測(ce)試(shi) ● 3504-40記錄工具(ju)，實現高速(su)/低(di)成本的測(ce)試(shi)
3504-40C測(ce)試儀產品概述 封裝機(ji)、分選機(ji)、電容器的合(he)(he)格(ge)與否的判斷和等(deng)級分類等(deng) ● 高(gao)速測(ce)量(liang)(liang)2ms ● 能根據C 和D （損(sun)耗系數*2）的測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)，進(jin)(jin)行被測(ce)物(wu)合(he)(he)格(ge)與否的判斷 ● 對(dui)應測(ce)試線，比較器功能/觸發輸出(chu)功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接(jie)口進(jin)(jin)行被測(ce)物(wu)體的測(ce)試 ● 3504-40記錄工具，實現高(gao)速/低(di)成本的測(ce)試 ● 查出(chu)全機(ji)測(ce)量(liang)(liang)中(zhong)的接(jie)觸錯誤，提(ti)高(gao)成品率(lv)
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