3504-40C測試儀產品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試● 查出全(quan)機測量中的接觸(chu)錯誤，提高成品率(lv)
更新時間：2018-07-25
3504-40C測試儀產品概述
封裝機、分選機、電容器的(de)合(he)格與否的(de)判斷和等級(ji)分類等
● 高速測量(liang)2ms
● 能根(gen)據C 和D （損(sun)耗系數*2）的(de)測量值，進行被測物合格與否的(de)判(pan)斷
● 對(dui)應測試線(xian)，比較(jiao)器功能(neng)/觸發輸出功能(neng)
● 3504-60/-50用BIN的分選(xuan)接口(kou)進行(xing)被測(ce)(ce)物體的測(ce)(ce)試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低(di)成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯(cuo)誤，提高成品率
3504-40C測試儀選型指南
測量(liang)參數 | Cs,Cp（電(dian)容）,D（損(sun)耗系數tanδ） |
測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF |
基(ji)本精度 | （代(dai)表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量(liang)信號電(dian)平 | 恒壓(ya)模式(shi): 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V |
輸出電(dian)阻(zu) | 5Ω（CV測(ce)量范(fan)圍以外的開(kai)路端(duan)子電(dian)壓模(mo)式時） |
顯示(shi) | 發光二(er)級管 （6位表示，滿量(liang)程計算器根據量(liang)程而定） |
測(ce)量時間(jian) | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） |
功(gong)能 | BIN分類測量(liang) (3504-40除(chu)外), 觸發(fa)同步輸出, 測量(liang)條件記憶(yi), 測量(liang)值(zhi)的(de)比較功(gong)能(neng), 平均(jun)值(zhi)功(gong)能(neng), Low-C篩(shai)選功(gong)能(neng), 振動功(gong)能(neng), 控(kong)制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(kou)（標配), GP-IB接口(kou)(3504-40除(chu)外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±;10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附(fu)件 | 電源(yuan)線×1，預備電源(yuan)保險絲×1，使(shi)用說明書×1 |
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