IM3523LCR測試儀產品概述應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。● 內置比較器和BIN功能● 2ms的快速測試(shi)時間
更新時間：2018-07-26
IM3523LCR測試(shi)儀產(chan)品(pin)概述
應用(yong)于生(sheng)產線和自動化(hua)測試領域(yu)的理想(xiang)選擇
● 基本精度(du)±0.05％，測量范圍廣(guang)(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(ce)量條(tiao)件(jian)下，可以(yi)以(yi)往產(chan)品10倍的速度不間斷測(ce)試(shi)。
● 內置比較器(qi)和BIN功能
● 2ms的快速(su)測試時間
IM3523LCR測試儀產品特點
在(zai)電容的(de)測(ce)量(liang)條件中希望以120Hz測(ce)量(liang)C-D。希望以100kHz測(ce)量(liang)ESR。這時，使用1臺告(gao)訴連續(xu)測(ce)量(liang)不同條件。
為了使用(yong)1臺LCR測試(shi)儀(yi)測量(liang)多種產品，要(yao)求高效率的更(geng)改(gai)設(she)置。
IM3523的面板(ban)(ban)保(bao)存(cun)(cun)功能更，最(zui)多保(bao)存(cun)(cun)60組測量(liang)條件，還能保(bao)存(cun)(cun)128個開路/短路補償和線(xian)長補償等的補償值。使用(yong)面板(ban)(ban)功能讀(du)取所保(bao)存(cun)(cun)的測量(liang)條件。除了手動(dong)讀(du)取以外，可以使用(yong)外部控(kong)制(zhi)端口控(kong)制(zhi)面板(ban)(ban)編號的讀(du)取，因此(ci)能縮短構筑(zhu)自動(dong)化檢查產線(xian)的時(shi)間。
檢(jian)查4端子測量時(shi)樣品間的(de)接觸(chu)不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電(dian)阻，如果在所(suo)設置的閾(yu)值以(yi)上時(shi)則顯示錯誤。
IM3523LCR測試儀選型(xing)指南
測量模式 | LCR,連續測試 |
測量參數(shu) | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測(ce)量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個量程(所有參數根據(ju)Z定(ding)義) |
可顯(xian)示(shi)量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測量頻(pin)率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
測量信號電平 | 正常(chang)模式 |
輸出阻(zu)抗(kang) | 正(zheng)常模式(shi)：100Ω |
顯示 | 單色LCD |
測量時間(jian) | 2ms(1kHz,FAST,代表(biao)值(zhi)) |
功能 | 比較器，分類測量(BIN功(gong)能)，面板讀取/保(bao)存(cun)、存(cun)儲(chu)功(gong)能 |
接口(kou) | EXT I/O(處理器)，USB通信(高(gao)速) |
電源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 電源線×1，使用(yong)說明(ming)書×1，CD-R(包括PC指(zhi)令和樣本(ben)軟件(jian))×1 |
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