3506-10C測試儀產品概述對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量● 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量● 根據BIN的測定區分容量
更(geng)新時間：2018-07-26
3506-10C測試儀產品概述
對(dui)應(ying)1MHz測(ce)試(shi), 低(di)容量,高精度,高速測(ce)試(shi)
● 模擬測量(liang)時(shi)間0.6ms(1MHz)的高速(su)測量(liang)
● 提高(gao)了抗干(gan)擾性，在產線的上(shang)也能(neng)實現高(gao)反(fan)復(fu)精度(du)
● 1kHz、1MHz測量下，低電容(rong)的(de)貼片時可穩定(ding)測量
● 根據BIN的測定區分容量(liang)
3506-10C測試儀選型指南
測量(liang)參數(shu) | C(電容(rong)),D(損耗(hao)系數tanδ), Q (1/tan δ) |
測量(liang)范圍 | C:0.001fF～15.0000μF |
基本精度(du) | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
測量(liang)頻率(lv) | 1kHz, 1MHz |
測量信號(hao)電(dian)平 | 500mV, 1V rms |
輸出電(dian)阻 | 1Ω (在(zai)1kHz 時(shi)2.2 μF 以(yi)(yi)上量程), 20Ω(除(chu)上述以(yi)(yi)外的量程) |
顯示 | LED(6位顯(xian)示,滿量程由(you)點(dian)數有效距離來決(jue)定(ding)) |
測量時間 | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
功(gong)能 | BIN分(fen)類(lei)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang), 觸發同步輸(shu)(shu)出(chu), 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)條件(jian)記憶, 測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)值比較(jiao)功能(neng), 平均值功能(neng), Low-C篩(shai)選功能(neng), 振動功能(neng), 電流檢測(ce)(ce)(ce)(ce)監(jian)視功能(neng), 輸(shu)(shu)出(chu)電壓值監(jian)視功能(neng), 控制(zhi)用輸(shu)(shu)入輸(shu)(shu)出(chu) (EXT. I/O), RS-232C接(jie)口, GP-IB接(jie)口 |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最(zui)大40VA |
體積及(ji)重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 電(dian)源(yuan)線× 1, 電(dian)源(yuan)備用保險絲× 1，使用說(shuo)明書× 1 |
在線客服