BT4560電(dian)(dian)(dian)(dian)池阻(zu)(zu)抗(kang)測(ce)(ce)試(shi)儀產品(pin)概述 鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池的可靠(kao)性判斷(duan) 10秒 ● 低頻(pin)AC-IR*測(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)量(liang)時間短(duan) *使用1Hz以下的低頻(pin)測(ce)(ce)量(liang)內阻(zu)(zu)的話不(bu)需要充放電(dian)(dian)(dian)(dian) ● 也能精確*測(ce)(ce)量(liang)低阻(zu)(zu)電(dian)(dian)(dian)(dian)池 *改(gai)善S/N比，在3mΩ量(liang)程下測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)流為1.5A ● 電(dian)(dian)(dian)(dian)路結構較難受到接(jie)觸電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)和布線電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的影響，實現穩定測(ce)(ce)量(liang) ● 同時測(ce)(ce)量(liang)阻(zu)(zu)抗(kang)和電(dian)(dian)(dian)(dian)壓
BT3563電(dian)池測試儀(yi)產(chan)品(pin)概述 ● 可直接(jie)測量高達300V的電(dian)壓（BT3563） ● 用(yong)于(yu)檢查高電(dian)壓電(dian)池組/電(dian)池單元(yuan)的生產(chan)線(xian)(xian) ● 大型（低電(dian)阻(zu)）電(dian)池單元(yuan)檢查 ● 多種接(jie)口可用(yong)于(yu)高速自動化產(chan)線(xian)(xian)中
BT3562電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試儀(yi)產(chan)品(pin)概述(shu) 大型(xing)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)單元(yuan)(yuan)&高壓(ya)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)檢查(cha)的(de)高速電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試儀(yi) ● 可(ke)直接測(ce)量高達300V的(de)電(dian)(dian)壓(ya)（BT3563） ● 用于(yu)檢查(cha)高電(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)組(zu)/電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)單元(yuan)(yuan)的(de)生(sheng)產(chan)線(xian) ● 大型(xing)（低(di)電(dian)(dian)阻(zu)）電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)單元(yuan)(yuan)檢查(cha) ● 多種接口(kou)可(ke)用于(yu)高速自動化產(chan)線(xian)中
BT3554電池(chi)測試儀產品概述 更加快速的判斷鉛蓄電池(chi)劣(lie)化(hua)情況 ● 從測量(liang)到保(bao)存(cun)較(jiao)快2秒，和舊機(ji)型(xing)（3554）相比縮短(duan)了(le)60% ● 測量(liang)內部電阻/電壓，并瞬間判斷劣(lie)化(hua)狀態（合(he)格(ge)、警告、不合(he)格(ge)） ● 搭載降噪技術(shu)，提高抗干擾(rao)性 ● 通(tong)過Bluetooth®無線技術(shu)，實(shi)時發送并顯示測量(liang)值（BT3554-01）
3561電(dian)(dian)池測(ce)試儀產品概述 測(ce)量鋰電(dian)(dian)池電(dian)(dian)壓和(he)內(nei)(nei)阻(zu) ● 高(gao)精度:電(dian)(dian)阻(zu)±0.5% rdg. ±5dgt., 電(dian)(dian)壓±0.01% rdg. ±3dgt. ● 高(gao)分(fen)辨率:電(dian)(dian)阻(zu)0.01mΩ（300mΩ量程）; 電(dian)(dian)壓0.1mV（20V量程） ● 高(gao)速10ms以(yi)內(nei)(nei)同時測(ce)量內(nei)(nei)阻(zu)和(he)電(dian)(dian)壓 ● 大可以(yi)統計30000個數據,有利于工程管(guan)理,品質管(guan)理
3555電(dian)池(chi)測試儀(yi)產品(pin)概述 立(li)即測定電(dian)池(chi)劣化(hua)情況:小型二次電(dian)池(chi)用 ● 通過對(dui)電(dian)池(chi)的內電(dian)阻和內電(dian)壓的測量(liang) ● 以合格（pass），警告（warning）及不(bu)合格（fail）三段指示 ● 使本系列產品(pin)能夠立(li)即得到電(dian)池(chi)狀態的結果
IM3536LCR測(ce)試儀產(chan)(chan)品概述 DC，4Hz~8MHz測(ce)量(liang)頻率(lv)，今(jin)后的標桿產(chan)(chan)品 ● 測(ce)量(liang)頻率(lv)DC，4Hz~8MHz ● 測(ce)量(liang)時間：較快1ms ● 基本(ben)精度(du)：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度(du)保證范圍，也可安(an)心進行低阻測(ce)量(liang) ● 可內(nei)部發生DC偏壓(ya)測(ce)量(liang) ● 從研發到生產(chan)(chan)線活(huo)躍在(zai)各種領域(yu)中(zhong)
IM3533LCR測(ce)試儀產品(pin)概述 應用于生產線和自動化測(ce)試領域的(de)理想選擇 ● 基本精度(du)±0.05％，測(ce)量范圍(wei)廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這(zhe)樣的(de)混合(he)測(ce)量條件下，可(ke)以(yi)以(yi)往(wang)產品(pin)10倍(bei)的(de)速(su)度(du)不(bu)間斷測(ce)試。 ● 內置比較器和BIN功能 ● 2ms的(de)快速(su)測(ce)試時間
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