IM3523LCR測(ce)試儀產品概述(shu) 應用于生產線和自動化(hua)測(ce)試領域的(de)理想選擇 ● 基(ji)本精度(du)±0.05％，測(ce)量范(fan)圍(wei)廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的(de)混(hun)合測(ce)量條件下，可以以往產品10倍的(de)速(su)度(du)不間斷測(ce)試。 ● 內(nei)置比較器和BIN功能 ● 2ms的(de)快速(su)測(ce)試時(shi)間
3511-50LCR測試儀產品(pin)概(gai)述 精(jing)(jing)巧，非常專業(ye)，5ms快速測量(liang)LCR ● 高(gao)速測量(liang)：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高(gao)精(jing)(jing)度： ± 0.08% ● 內置比(bi)較器
3506-10C測(ce)試儀產(chan)品概述 對應(ying)1MHz測(ce)試, 低容量(liang),高(gao)精(jing)度(du)(du),高(gao)速測(ce)試 ● 模擬測(ce)量(liang)時間(jian)0.6ms（1MHz）的(de)高(gao)速測(ce)量(liang) ● 提高(gao)了抗(kang)干擾性，在產(chan)線的(de)上也(ye)能實(shi)現(xian)高(gao)反復精(jing)度(du)(du) ● 1kHz、1MHz測(ce)量(liang)下，低電容的(de)貼片(pian)時可穩定測(ce)量(liang) ● 根據(ju)BIN的(de)測(ce)定區分容量(liang)
3504-60C測(ce)(ce)試儀產品概(gai)述(shu) 封裝機、分(fen)選(xuan)機、電容器(qi)的(de)(de)合格(ge)與否(fou)(fou)的(de)(de)判(pan)斷和等級分(fen)類等 ● 高(gao)速測(ce)(ce)量2ms ● 能根(gen)據C 和D （損耗(hao)系數*2）的(de)(de)測(ce)(ce)量值，進(jin)行被(bei)測(ce)(ce)物合格(ge)與否(fou)(fou)的(de)(de)判(pan)斷 ● 對應測(ce)(ce)試線，比較器(qi)功(gong)能/觸(chu)(chu)發輸出功(gong)能 ● 3504-60/-50用BIN的(de)(de)分(fen)選(xuan)接口進(jin)行被(bei)測(ce)(ce)物體的(de)(de)測(ce)(ce)試 ● 3504-40記錄工(gong)具，實現高(gao)速/低成(cheng)本的(de)(de)測(ce)(ce)試 ● 查出全(quan)機測(ce)(ce)量中的(de)(de)接觸(chu)(chu)錯誤，提高(gao)成(cheng)品率
3504-50C測(ce)(ce)試儀(yi)產品概述 封裝機(ji)、分(fen)選機(ji)、電容(rong)器的(de)(de)合(he)格與否的(de)(de)判斷(duan)和(he)(he)等級分(fen)類等 ● 高速(su)測(ce)(ce)量(liang)2ms ● 能根據C 和(he)(he)D （損(sun)耗(hao)系(xi)數*2）的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)值，進行被(bei)測(ce)(ce)物合(he)格與否的(de)(de)判斷(duan) ● 對應測(ce)(ce)試線，比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的(de)(de)分(fen)選接口進行被(bei)測(ce)(ce)物體的(de)(de)測(ce)(ce)試 ● 3504-40記(ji)錄工具，實現高速(su)/低成本的(de)(de)測(ce)(ce)試
3504-40C測(ce)(ce)試儀產品概述 封裝(zhuang)機(ji)(ji)、分(fen)(fen)選(xuan)(xuan)機(ji)(ji)、電(dian)容器的合(he)格(ge)與否的判(pan)斷和等(deng)級(ji)分(fen)(fen)類(lei)等(deng) ● 高(gao)(gao)速(su)測(ce)(ce)量2ms ● 能根據C 和D （損耗系(xi)數*2）的測(ce)(ce)量值，進行被(bei)測(ce)(ce)物合(he)格(ge)與否的判(pan)斷 ● 對應測(ce)(ce)試線，比較器功(gong)能/觸發輸出(chu)功(gong)能 ● 3504-60/-50用BIN的分(fen)(fen)選(xuan)(xuan)接口進行被(bei)測(ce)(ce)物體的測(ce)(ce)試 ● 3504-40記(ji)錄工具，實(shi)現高(gao)(gao)速(su)/低成(cheng)本的測(ce)(ce)試 ● 查出(chu)全機(ji)(ji)測(ce)(ce)量中的接觸錯誤(wu)，提高(gao)(gao)成(cheng)品率(lv)
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