3504-60C測試儀產品概述封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等● 高速測量2ms● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試● 查出(chu)全機測(ce)量(liang)中的接觸錯誤，提(ti)高成品(pin)率
更(geng)新(xin)時間：2018-07-26
3504-60C測(ce)試儀產(chan)品(pin)概述
封裝機(ji)、分選機(ji)、電容器(qi)的合格(ge)與否(fou)的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根(gen)據C 和(he)D （損耗(hao)系數(shu)*2）的測量(liang)值(zhi)，進行被測物合格與否(fou)的判斷
● 對(dui)應測試線，比較(jiao)器功(gong)(gong)能(neng)(neng)/觸發輸出功(gong)(gong)能(neng)(neng)
● 3504-60/-50用BIN的分(fen)選接(jie)口進行被測(ce)物體的測(ce)試(shi)
● 3504-40記錄工具，實現(xian)高速(su)/低成本的(de)測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提(ti)高成品(pin)率
3504-60C測試儀產品概述
封裝機(ji)、分選機(ji)、電容器的合(he)格與(yu)否的判斷和(he)等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根(gen)據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jin)行(xing)被測物合格與(yu)否(fou)的判斷
● 對應測試(shi)線，比(bi)較器(qi)功能/觸發(fa)輸出功能
● 3504-60/-50用(yong)BIN的分選接口進行被測(ce)物體的測(ce)試
● 3504-40記錄工具，實現(xian)高(gao)速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
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