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GUT-6000B桌上型數位IC測試(shi)器
產品(pin)特點
Loop 測試(shi)
自(zi)動搜(sou)尋IC 編號(hao)功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護(hu)功能
可量測之IC 種(zhong)類超過1800 種(zhong)
54/74 系(xi)列TTL
4000 及4500 系列CMOS
大可測Pin 數: 28 Pin
產(chan)品(pin)敘述
桌上型數位IC測試器
GUT-6000B是一款(kuan)桌上(shang)型IC測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)。鑒于使測(ce)(ce)試(shi)(shi)任務自動化(hua)，GUT-6000B包含(han)自動搜索功能(neng)和(he)回(hui)圈(quan)測(ce)(ce)試(shi)(shi)功能(neng)等高級功能(neng)。并(bing)提供智慧化(hua)連續偵測(ce)(ce)壞損(sun)的(de)(de)IC的(de)(de)功能(neng)。自我診(zhen)斷功能(neng)和(he)超載保護功能(neng)使GUT-6000B更接近零(ling)維護，減少了使用者不必(bi)要的(de)(de)爭議。測(ce)(ce)試(shi)(shi)器(qi)件(jian)大1800多種常見的(de)(de)TTL和(he)COMS器(qi)件(jian)，真正在數(shu)位IC測(ce)(ce)試(shi)(shi)領域實現一個機型測(ce)(ce)量所有器(qi)件(jian)的(de)(de)解(jie)決(jue)方案。
產品(pin)規格
規格(ge) | |
測試范圍 | |
| 54/74 系(xi)列 TTL;4000 及 4500 系(xi)列 CMOS;DRIVE |
量測(ce)種類 | |
| 約 1800 種(zhong) |
測試電壓(ya) | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
測試時間 | |
| 高測試速度，平均 0.6 秒可完成一個 IC |
使用電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及(ji)重量 | |
| 335(寬) x 105(高) x 300(長) mm,約 1.5 公(gong)斤 |
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