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11200電容漏電流/絕緣電阻表技術參數
點擊次數：1113 更新時間：2020-08-06

11200電(dian)容(rong)漏電流/絕緣(yuan)電阻表

主要特色：

  • 電(dian)容漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)功能
  • 絕緣電(dian)阻(zu)測試功(gong)能
  • 基本準(zhun)確度: 0.3%
  • 定電流DC電源含放(fang)電功能
  • 順向電壓測(ce)試功能, 二極(ji)體diode, LED,Zener diode與varistor測(ce)試應(ying)用
  • 電(dian)解電(dian)容浪湧(yong)電(dian)壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)功能(符合JIS C5101/5102/5140/5141測(ce)(ce)試(shi)(shi)需求)
  • 選配(pei)接觸檢查功能, 提升測試可信賴性
  • 鋁箔耐壓與上(shang)升時間測試功能(neng)(符合EIAJ RC-2364A測試需求)
  • 精密的微小定電流充電能(neng)力 (0.5mA±0.05mA, 符合EIAJ RC-2364A測試(shi)需求)
  • 大電流充電能力(500mA)提升充電速度
  • 測(ce)試電壓(ya)1.0V~650V/800V
  • 0.001uA~20.00mA漏電流量測範(fan)圍與4位數顯示解析度
  • 內建數(shu)位式(shi)計(ji)時器
  • 比較器與良(liang)(liang)品(pin)/不良(liang)(liang)品(pin)警示聲響功能
  • 標(biao)準的RS-232介面
  • 可選購GPIB & handler介面

應(ying)用

  • 各(ge)類型電(dian)解電(dian)容, 高介電(dian)陶瓷電(dian)容
  • 鋁箔(bo)耐壓測(ce)試 (符合EIAJ RC-2364A需求)
  • 半導體(ti)元件漏電流(liu)或絕緣電阻測試
  • 各類型抗靜(jing)電(dian)材料, 非(fei)超高絕緣材料 (IR

Chroma 11200電(dian)(dian)(dian)容(rong)漏電(dian)(dian)(dian)流/絕緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻錶為(wei)Chroma 新(xin)推出的(de)數(shu)位式漏電(dian)(dian)(dian)流量測儀表(biao)(biao)，提 供(gong)1~650V, 0.5~500mA(150mA當V>100V)或1~800V, 0.5~500mA (50mA當V>100V)的(de)直流電(dian)(dian)(dian)源，具備電(dian)(dian)(dian)壓錶與奈安錶，主要應用於電(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)容(rong)漏電(dian)(dian)(dian)流與鋁(lv)箔耐壓的(de)測試(EIAJ RC-2364A)， 亦可應用於突波吸收器(qi)、齊納二極體、霓虹燈管等(deng)產品的(de)工(gong)作(zuo)電(dian)(dian)(dian)壓檢(jian)查與漏電(dian)(dian)(dian)流量測。藉由標(biao)配(pei) 的(de)RS-232介面(mian)、選配(pei)的(de)GPIB & Handler介面(mian)與穩定的(de)量測表(biao)(biao)現(xian)，Chroma 11200既能(neng)夠於產線 上作(zuo)為(wei)元件特性的(de)評估方案(an)，也能(neng)成為(wei)提供(gong)基(ji)礎漏電(dian)(dian)(dian)流與絕緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻測試功能(neng)的(de)桌上型儀表(biao)(biao)。

1~650V, 150mA/500mA或1~800V,  50mA/500mA 低雜訊直流電(dian)壓源

Chroma 11200是(shi)以低雜訊的(de)(de)線性電源供應器設計，輸出直流電壓範圍從1.0V到(dao)650V/800V， 從低耐(nai)壓電容的(de)(de)漏(lou)電流測試到(dao)鋁箔耐(nai)壓測試的(de)(de)範疇皆能適用，大(da)充電電流為500mA/100V, 150mA/650V或50mA/800V，對於大(da)容量產(chan)品(pin)能夠(gou)快速地充電。

精(jing)密(mi)的微小(xiao)定(ding)電流充電能力 (0.5mA ±0.05mA)

鋁電(dian)解(jie)電(dian)容正(zheng)極鋁箔的氧化(hua)膜通常(chang)是以極低的定(ding)電(dian)流(liu)來測試鋁箔皮膜耐壓與(yu)電(dian)壓上升時間( 由EIAJ RC-2364A標(biao)準定(ding)義，根據不同(tong)鋁箔形式，測試電(dian)流(liu)為0.5mA, 1mA或2mA ±10%)，Chroma 11200可提供(gong)高穩定(ding)度且(qie)低0.5mA的 充電(dian)定(ding)電(dian)流(liu)。

0.001μA~20.00mA 漏電(dian)流測試範圍與4位數顯示解析度

Chroma 11200內建0.001uA到(dao)20mA測試(shi)(shi)範圍的(de)奈安錶，適合應用(yong)於電(dian)(dian)(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)容、高(gao)介電(dian)(dian)(dian)(dian)陶瓷(ci)電(dian)(dian)(dian)(dian)容的(de)漏(lou)電(dian)(dian)(dian)(dian)流或絕緣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻測試(shi)(shi)，其(qi)超低輸入(ru)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻的(de)設計(低0Ω)能(neng)夠實現高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)容量元(yuan)件(jian)的(de)快速測試(shi)(shi)。

輸出電壓(ya)監(jian)控

為了確(que)保(bao)操(cao)作者(zhe)的(de)安(an)全，不論是在(zai)(zai)測試中(zhong)(zhong)或是在(zai)(zai) 操(cao)作設定的(de)狀態，Chroma 11200都會(hui)持(chi)續監(jian)控實際的(de)輸出(chu)電壓，除(chu)了在(zai)(zai)測試頁面上顯示實際輸 出(chu)電壓值，在(zai)(zai)其他操(cao)作頁面中(zhong)(zhong)，當輸出(chu)電壓異常(chang) 超過10V，會(hui)顯示錯誤訊息。

65W/50W 多段(duan)定(ding)功率放電(dian)電(dian)路

為(wei)了在測(ce)試(shi)後達成快(kuai)(kuai)速且*地放電(dian)，Chroma 11200內(nei)建有65W/50W的(de)多段定功(gong)率(lv)放電(dian)電(dian)路(lu)，能夠滿(man)足(zu)充電(dian)大(da)電(dian)容的(de)快(kuai)(kuai)速放電(dian)需(xu)求。

標(biao)配(pei)RS-232介面與選配(pei)GPIB & Handler介面

Chroma 11200標(biao)配的RS-232介(jie)面(mian)能應用於研(yan)發 或品質檢驗端，遠(yuan)端控制儀器(qi)並收集測試資料， GPIB & Handler介(jie)面(mian)則可(ke)依自動(dong)化需求選購。