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主要特色：
LED driver為(wei)電流源，因此有(you)(you)一(yi)可輸(shu)出(chu)的(de)電壓範圍及一(yi)固定(ding)的(de)輸(shu)出(chu)電流。在(zai)LED driver的(de)測試上，一(yi)般常使用的(de)方式有(you)(you)下列幾種(zhong)：
但是這些(xie)測試方式都有其缺點，無法*適合LED driver的測試需求(qiu)。
由LED的(de)V-I特性(xing)曲線(xian)中，可(ke)(ke)知(zhi)LED有(you)一順向偏壓VF及一導(dao)通電(dian)阻(Rd)。當以(yi)(yi)真(zhen)實電(dian)阻為負載(zai)，其(qi)V-I特型是一直線(xian)，並無(wu)法模擬LED的(de)特性(xing)。尤其(qi)當LED driver 機(ji)電(dian)壓上升(sheng)時，電(dian)流波形(xing)不(bu)同(tong)，可(ke)(ke)能會無(wu)法 機(ji)。而(er)傳統(tong)電(dian)子負載(zai)的(de)CR及CV模式，都是以(yi)(yi)穩(wen)態時的(de)LED操作點為設定值(zhi)，對開關機(ji)或PWM調光動態的(de)特性(xing)，無(wu)法模擬，也可(ke)(ke)能導(dao)致LED driver產生(sheng)不(bu)正常的(de)動作或保護。而(er)若以(yi)(yi)LED來當負載(zai)，雖能*測試(shi)LED driver。但卻有(you)LED老化問題(ti)，及LED driver不(bu)同(tong)的(de)輸(shu)出(chu)電(dian)壓測試(shi)上，需串聯(lian)不(bu)同(tong)顆數的(de)LED，如此將(jiang)會造成(cheng)測試(shi)上與生(sheng)產上的(de)不(bu)便。
致茂(mao)6310A series電(dian)子負載(zai)中(zhong)的(de)63110A獨(du)家新(xin)(xin)創了一個新(xin)(xin)的(de)操作模(mo)(mo)式—LED模(mo)(mo)式，來模(mo)(mo)擬LED。使用者(zhe)(zhe)僅需透過設定LED driver的(de)輸出(chu)電(dian)壓、電(dian)流，即可(ke)模(mo)(mo)擬LED的(de)拉載(zai)特性。還可(ke)設定LED的(de)操作點阻(zu)抗(kang)(kang)及高頻(pin)阻(zu)抗(kang)(kang)，讓拉載(zai)電(dian)流及高頻(pin)連波與更趨近於真實LED。對於PWM調光(Dimming)測(ce)試，63110A的(de)全新(xin)(xin)設計中(zhong)，亦(yi)增(zeng)加了頻(pin)寬，讓使用者(zhe)(zhe)亦(yi)可(ke)透過電(dian)子負載(zai)完成動態調光測(ce)試。
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