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ATX-100S系列導通線束測試儀技術參數
點擊次數:981 更新時間:2020-09-24

ATX-100S系列導通線束(shu)測試儀

•設備(bei)采用5寸多(duo)點式電容觸摸(mo)屏
•高速的(de)通(tong)斷測試
•支持(chi)電阻,二極管元器件測試
•模塊化設計平滑升級(ji),可擴(kuo)展
•聯機多(duo)臺測試,可協調工作
•RS232,USB等接口可供選擇簡(jian)介:

ATX-100S系(xi)列(lie)是一款高速(su)的導通(tong)線束測(ce)試儀,可進行(xing)電阻(zu),二極管器件測(ce)試,測(ce)試通(tong)道可靈(ling)活擴展。兼容智能化測(ce)試軟件及大型(xing)數(shu)據庫,幫助客戶(hu)進行(xing)數(shu)據對(dui)比分析。每次開機系(xi)統自檢,以確保測(ce)試系(xi)統準確、可靠運行(xing)。

功能特點:

•設備(bei)采用5寸多點式(shi)電容觸摸屏

•高速(su)的(de)通(tong)斷測試

•支持電阻,二極管元器(qi)件測(ce)試(shi)

•模(mo)塊化設計平滑升級(ji),可擴展

•聯機多(duo)臺測(ce)試,可協(xie)調工作

•RS232,USB 等接口可供選擇(ze)

應用:

• 用于(yu)現場線束搶修(xiu),維(wei)護,測試等工作

• 用于現場分布式(shi)線纜測(ce)試

• 用(yong)于(yu)航空、火箭等航空航天(tian)科學領域測試

• 用于(yu)船舶、兵器(qi)等(deng)科學領域測試

• 用(yong)于汽車線束測(ce)試

產品規(gui)格(ATX-100S)

產品型號

ATX-64S

ATX-128S

ATX-256S

ATX-512S

大測試點數

64

128

256

512

大回路(lu)數

32

64

128

256

檢查端口數量(liang)

1

2

4

8

檢測端口類(lei)型

歐姆龍(long)64PIN卡扣式牛(niu)角插(cha)座(XG4A-6434)

存(cun)儲(chu)測試數據量(liang)

可存儲19297個(ge)測(ce)試(shi)方案(an),存儲測(ce)試(shi)數據(ju)30000000條

測試內(nei)容

通斷測試(shi)

自學習(xi)測試(shi)

電阻(zu)測試

二極管(guan)測試

瞬斷(duan)測試

PinSearch

系(xi)統自(zi)檢

用(yong)戶界(jie)面

表示(shi)方式

5寸多點式電容(rong)觸摸屏(分辨率800*480)

操作方法

觸(chu)摸屏操作(可(ke)外接鼠標、鍵盤)

操作系統

Android

語言

簡體中文、英文

存(cun)儲(chu)端(duan)口(kou)

USB

無線通信端口

內置WIFI,BT4.0(標配(pei))

以太網端(duan)口(kou)

1個,10/100M自適應(ying)以太(tai)網

顯(xian)示設備端口(kou)

HDMI

控制端口

USB

RTC實(shi)時(shi)時(shi)鐘

支(zhi)持

RTC電(dian)池(chi)

使用壽(shou)命3年(nian)

打印機

普通打印機(ji):HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等(WIFI連接)

標簽打印機(ji):佳博(Gprinter)1134T等(deng)

(BT連接)

掃碼槍

ST2200有線二維影像掃描槍(接口:RS232)

輸出信號(hao)

PASS

觸(chu)點容(rong)量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

FAIL

觸點容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

輸(shu)出信號周期

200ms±4ms

輸入信號

外部觸發

觸發點輸入(ru)50ms以上的連接(短路)狀態

數據保(bao)存時間

5年以上,溫度:-20℃~50℃ ,濕度:40%

供(gong)電(dian)電(dian)壓(ya)

AC100V-240V/50~60Hz

外形尺寸 (寬*高*深)

365*163*363mm

主機重量

約(yue)6.15Kg

約6.25Kg

約6.45Kg

約6.45Kg

環境條件

工作溫度(du):0~45℃;存儲(chu)溫度(du):-20℃~50℃;工作濕度(du):5%~70%RH,無冷凝

檢測規格(ge)/參數

通斷(duan)測試

檢測電壓

不大于10V,±5%

檢測電流

不大于1mA,±5%

通斷判定電阻值(zhi)

比(bi)較模式(shi):100Ω~100kΩ;±5%

電阻測試模式:10Ω~100Ω,100kΩ~1MΩ,±1%

瞬(shun)斷(duan)測試

(64)

檢測次數

2~999次

瞬斷檢(jian)測寬(kuan)度(du)

2.5s~6s

檢測時間(jian)

2*2.5s~999*6s(或到停止(zhi)測試按鈕按下為止(zhi))

電子元(yuan)件(jian)

測試

電阻測試

不大于100Ω,±;1%±3Ω(需標(biao)定)

100Ω~1MΩ,±1%

二(er)極管(guan)

測試(shi)

檢(jian)測電(dian)壓

不大(da)于10V,±10%

檢測電流(liu)

不大于1mA

訂(ding)購信息:  

• ATX-64S :64點導通線(xian)束測(ce)試儀(yi)

• ATX-128S:128點導通線束測試儀

• ATX-256S:256點導通線(xian)束測試儀

• ATX-512S:512點導(dao)通線束測(ce)試儀

備注(zhu):更多(duo)通道(dao)可快(kuai)速擴(kuo)展(zhan)

選配附件:

• RS232、USB等接(jie)口及程(cheng)控軟(ruan)件(jian)

• 轉(zhuan)接箱、轉(zhuan)接板

• 打點機

• 低壓測(ce)試線