產品列表PRODUCTS LIST
設備(bei)采用(yong)5寸(cun)多點(dian)式電(dian)容觸摸屏
高速(su)的(de)通斷測試
支(zhi)持電阻，二極(ji)管元(yuan)器件測試
模塊化設計平滑升級，可擴展(zhan)
聯機多臺測(ce)試(shi)，可協調(diao)工作(zuo)
RS232，USB等接口可供(gong)選擇
簡介：
ATX-100S系(xi)列是一款(kuan)高(gao)速的導(dao)通(tong)線(xian)束測試儀，可進(jin)行(xing)電阻，二極管器件(jian)(jian)測試，測試通(tong)道可靈活擴展。兼容(rong)智能化測試軟件(jian)(jian)及大型數據(ju)庫(ku)，幫助客戶進(jin)行(xing)數據(ju)對比分析。每次開機(ji)系(xi)統自(zi)檢，以確保測試系(xi)統準確、可靠運行(xing)。
功能特點：
設備(bei)采用5寸多點式電容觸摸屏(ping)
高(gao)速的通斷測試
支(zhi)持(chi)電阻(zu)，二極管(guan)元器件測試
模(mo)塊化(hua)設計平滑(hua)升級(ji)，可擴展(zhan)
聯機多臺(tai)測試(shi)，可協調工(gong)作
RS232，USB 等接口可(ke)供選擇(ze)
應用(yong)：
用(yong)于(yu)現場線束(shu)搶修(xiu)，維護，測試(shi)等工作
用(yong)于現場(chang)分布式(shi)線纜測試
用于航(hang)空、火箭等航(hang)空航(hang)天科(ke)學領域測試
用于船舶、兵器等科學(xue)領域(yu)測試
用于汽車線束測試
| 產品規格（ATX-100S） | |||||||
| 產品型號 | ATX-64S | ATX-128S | ATX-256S | ATX-512S | |||
| 大測試點數 | 64 | 128 | 256 | 512 | |||
| 大回路數 | 32 | 64 | 128 | 256 | |||
| 檢查(cha)端(duan)口數量(liang) | 1 | 2 | 4 | 8 | |||
| 檢(jian)測(ce)端口類型 | 歐姆龍(long)64PIN卡扣式牛角插座（XG4A-6434） | ||||||
| 存儲測(ce)試數據量 | 可存(cun)儲(chu)19297個測試方案(an)，存(cun)儲(chu)測試數據30000000條 | ||||||
| 測試內容(rong) | 通斷(duan)測試(shi) | √ | |||||
| 自(zi)學習測試 | √ | ||||||
| 電阻測試(shi) | √ | ||||||
| 二(er)極(ji)管測試 | √ | ||||||
| 瞬斷測試 | √ | ||||||
| PinSearch | √ | ||||||
| 系統自檢 | √ | ||||||
| 用戶(hu)界面 | 表示方(fang)式 | 5寸多(duo)點(dian)式(shi)電容觸摸屏（分辨率800*480） | |||||
| 操作方法 | 觸摸屏操作（可外接鼠標、鍵(jian)盤） | ||||||
| 操作(zuo)系統 | Android | ||||||
| 語言 | 簡(jian)體中(zhong)文、英(ying)文 | ||||||
| 存儲端(duan)口 | USB | ||||||
| 無線通信(xin)端口 | 內置(zhi)WIFI，BT4.0（標配） | ||||||
| 以太網(wang)端口 | 1個，10/100M自適應(ying)以太網 | ||||||
| 顯示設備端口 | HDMI | ||||||
| 控制端口 | USB | ||||||
| RTC實時(shi)時(shi)鐘 | 支持 | ||||||
| RTC電池 | 使(shi)用壽命3年 | ||||||
| 打印機 | 普通打印機：HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等（WIFI連接） | 標簽打印(yin)機：佳(jia)博（Gprinter）1134T等 （BT連接） | |||||
| 掃碼槍 | ST2200有線二維影像掃描槍（接(jie)口(kou)：RS232） | ||||||
| 輸出信號(hao) | PASS | 觸點容量(liang)：5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | |||||
| FAIL | 觸點(dian)容量：5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | ||||||
| 輸出信號周期(qi) | 200ms±4ms | ||||||
| 輸入信(xin)號 | 外部觸發 | 觸(chu)發(fa)點輸(shu)入50ms以(yi)上的(de)連(lian)接（短(duan)路）狀(zhuang)態 | |||||
| 數據保存時(shi)間 | 5年(nian)以上(shang)，溫度：-20℃~50℃ ，濕度：40% | ||||||
| 供(gong)電電壓 | AC100V-240V/50~60Hz | ||||||
| 外形尺(chi)寸 (寬*高*深) | 365*163*363mm | ||||||
| 主機重量 | 約6.15Kg | 約6.25Kg | 約6.45Kg | 約6.45Kg | |||
| 環境條件 | 工(gong)作溫度(du)：0~45℃；存(cun)儲溫度(du)：-20℃~50℃；工(gong)作濕度(du)：5%～70%RH，無冷凝 | ||||||
| 檢測規格/參數 | |||||||
| 通斷測試 | 檢測電壓 | 不大于(yu)10V，±5% | |||||
| 檢測電流 | 不(bu)大(da)于1mA，±5% | ||||||
| 通(tong)斷判定電阻值(zhi) | 比較模式：100Ω~100kΩ；±5% 電阻測試模(mo)式(shi)：10Ω~100Ω，100kΩ~1MΩ，±1% | ||||||
| 瞬(shun)斷測試 （64） | 檢測次數(shu) | 2~999次 | |||||
| 瞬斷檢測寬度 | 2.5s~6s | ||||||
| 檢測時間 | 2*2.5s~999*6s（或到停止測試(shi)按鈕按下(xia)為止） | ||||||
| 電子元件 測試(shi) | 電阻(zu)測(ce)試 | 不大(da)于100Ω，±1%±3Ω（需標定） | |||||
| 100Ω~1MΩ，±1% | |||||||
| 二極(ji)管 測試 | 檢測電(dian)壓 | 不大于10V，±10% | |||||
| 檢測電流(liu) | 不大于1mA | ||||||
訂購(gou)信息：
ATX-64S ：64點導通線(xian)束測(ce)試儀(yi)
ATX-128S：128點導通線束(shu)測試儀(yi)
ATX-256S：256點導通線(xian)束測試儀(yi)
ATX-512S：512點導通(tong)線束測試儀
備注：更多通道(dao)可快速擴展(zhan)
選配附件：
RS232、USB等接口及程控(kong)軟件
轉接(jie)(jie)箱、轉接(jie)(jie)板
打點機
低壓測(ce)試線
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