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ATX-512S導通線束測試儀技術參數
點擊次數:804 更新時間:2020-09-25

ATX-100S系列(lie)導通(tong)線束測試儀

 
設備采用5寸多點式(shi)電容觸(chu)摸屏
高速的通斷測(ce)試(shi)
支持(chi)電阻,二極(ji)管元(yuan)器(qi)件測試
模塊(kuai)化設計平(ping)滑(hua)升級,可擴展(zhan)
聯機多臺測試,可協調工作
RS232,USB等接口可供選(xuan)擇(ze)
簡介:
ATX-100S系(xi)列是一(yi)款高速的導通線束測(ce)試(shi)儀,可(ke)(ke)進行(xing)電阻,二極(ji)管器件(jian)測(ce)試(shi),測(ce)試(shi)通道可(ke)(ke)靈活(huo)擴(kuo)展。兼容智能化(hua)測(ce)試(shi)軟(ruan)件(jian)及大(da)型(xing)數據庫,幫助(zhu)客戶進行(xing)數據對比分析。每次開機系(xi)統自檢,以確保測(ce)試(shi)系(xi)統準(zhun)確、可(ke)(ke)靠運行(xing)。
功能特(te)點:
設(she)備(bei)采用5寸(cun)多點式電容(rong)觸摸屏
高速的(de)通斷測試
支持電(dian)阻,二(er)極(ji)管元器件(jian)測試(shi)
模塊化設計平(ping)滑(hua)升級,可擴(kuo)展
聯機多臺測試,可協(xie)調工作
RS232,USB 等(deng)接口(kou)可供選擇
應(ying)用(yong):
 用于現場線束搶(qiang)修,維護,測試等工(gong)作(zuo)
 用于現場分布式線(xian)纜測(ce)試
 用于航空、火箭等航空航天科(ke)學領域測試
 用于船舶、兵(bing)器等科學領域測試(shi)
 用于汽(qi)車線束(shu)測(ce)試

產品規(gui)格(ATX-100S)
產品型號(hao)ATX-64SATX-128SATX-256SATX-512S
大測試點(dian)數64128256512
大回(hui)路數3264128256
檢查端口數量1248
檢測端口類(lei)型歐姆龍(long)64PIN卡扣式(shi)牛角插座(zuo)(XG4A-6434)
存儲測(ce)試數據量可存儲19297個測試方案,存儲測試數據30000000條
測試內(nei)容通斷測試
自學習測(ce)試
電阻測試
二極管(guan)測試
瞬斷測試
PinSearch
系統自檢
用戶界面表(biao)示方式(shi)5寸多點(dian)式電容(rong)觸摸屏(ping)(分辨率800*480)
操作方(fang)法(fa)觸(chu)摸屏操作(可外接鼠標、鍵盤(pan))
操作系(xi)統Android
語(yu)言簡體(ti)(ti)中(zhong)文、英文
存儲端口USB
無線通(tong)信(xin)端口內(nei)置WIFI,BT4.0(標配)
以太(tai)網端(duan)口1個,10/100M自(zi)適應以(yi)太網
顯示設備端口HDMI
控制端(duan)口USB
RTC實(shi)時時鐘(zhong)支持
RTC電池使用壽(shou)命(ming)3年
打印(yin)機(ji)普通(tong)打印機(ji):HP LaserJet Pro MFP M426f-M427f等(WIFI連(lian)接)標(biao)簽打(da)印機:佳博(bo)(Gprinter)1134T等
(BT連接)
掃(sao)碼槍ST2200有線二維影像(xiang)掃描槍(接口:RS232)
輸出(chu)信號PASS觸(chu)點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC
FAIL觸點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC
輸出信號(hao)周期200ms±4ms
輸入信號外部觸發觸(chu)發點輸入50ms以(yi)上的連接(短路)狀態
數據保存時間5年以上(shang),溫度:-20℃~50℃ ,濕度:40%
供電電壓AC100V-240V/50~60Hz
外形尺寸 (寬*高*深)365*163*363mm
主機重量約6.15Kg約6.25Kg約6.45Kg約6.45Kg
環(huan)境條(tiao)件(jian)工作溫度(du):0~45℃;存儲(chu)溫度(du):-20℃~50℃;工作濕(shi)度(du):5%~70%RH,無冷凝(ning)
檢測(ce)規(gui)格/參數
通斷測試檢測電壓不(bu)大(da)于10V,±5%
檢測(ce)電流(liu)不大于(yu)1mA,±5%
通斷判定電阻值比較模式:100Ω~100kΩ;±5%
電阻測試模式:10Ω~100Ω,100kΩ~1MΩ,±1%
瞬斷測試
(64)
檢測(ce)次(ci)數2~999次(ci)
瞬(shun)斷檢測(ce)寬度2.5s~6s
檢(jian)測時間2*2.5s~999*6s(或到停止測試按(an)鈕按(an)下為止)
電子元件(jian)
測試
電(dian)阻測試(shi)不大于100Ω,±1%±3Ω(需標定(ding))
100Ω~1MΩ,±1%
二(er)極管
測試
檢測電壓不(bu)大于(yu)10V,±10%
檢測電流不大(da)于1mA

訂(ding)購信息:  
ATX-64S :64點導通(tong)線束測(ce)試(shi)儀
ATX-128S:128點導通線(xian)束測試儀
ATX-256S:256點導通線束(shu)測(ce)試儀
ATX-512S:512點導通線束(shu)測試儀
備注:更多通道可快速(su)擴展
選配附件:
RS232、USB等接(jie)口及程控(kong)軟(ruan)件
轉接(jie)箱、轉接(jie)板
打點機
低壓測試(shi)線