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ATX-3000S系列臺式線束測試儀技術參數
點擊次數:933 更新時間:2020-09-27

ATX-3000S系列臺式線束測試儀(yi)

•設備可單機(ji)操(cao)作,亦可連接至電腦操(cao)作
•測試通道(dao)64/128/256/512,更多通道(dao)可快速擴展
•自(zi)學習功能,快速檢測未(wei)知(zhi)線(xian)束的(de)通路(lu)、短(duan)路(lu)、斷路(lu)等連接關系 
•四線制電阻(zu)測試,測試精度(du)高(gao)
•直(zhi)流(liu)高(gao)壓檢測電壓DC50V~750V,精度±5%
•交流高壓(ya)檢測電壓(ya)AC50V~500V,精(jing)度±5% 
•高壓檢(jian)測完成后自動復位,提高檢(jian)測安全(quan)性簡介:

ATX-3000S系列(lie)是臺式線(xian)束測(ce)試儀(yi),于各種(zhong)線(xian)纜,線(xian)束和排線(xian)品質及連接可靠性檢驗的多功能,自(zi)動化的線(xian)束參數測(ce)試系統。設(she)(she)備可單(dan)機操作(zuo),亦(yi)可連接至(zhi)電(dian)腦(nao)操作(zuo),基于模塊化設(she)(she)計結(jie)構,四線(xian)制(zhi)電(dian)阻測(ce)試,測(ce)試精度高。兼容智能化測(ce)試軟(ruan)件,幫助客戶進行數據(ju)對比分析(xi)。

功能(neng)特點:

•設備可單機操(cao)作,亦可連接至電(dian)腦操(cao)作

•測試(shi)通道64/128/256/512,更多通道可(ke)快速(su)擴(kuo)展(zhan)

•自學習(xi)功能,快速檢測未知線(xian)束的通路(lu)、短路(lu)、斷路(lu)等連接關系(xi)

•四(si)線制電阻測(ce)試,測(ce)試精度高

•直流高壓檢測電壓DC50V~750V,精(jing)度±5%

•交流高(gao)壓檢測電(dian)壓AC50V~500V,精度±5%

•高壓檢(jian)測完(wan)成后自動復位,提高檢(jian)測安全性

應用:

•用于需要現場線束搶(qiang)修,維護,測試等(deng)工作

•用于汽車線(xian)束測試(shi)

•用(yong)于航空、火(huo)箭等航空航天科學領域(yu)

•用于(yu)船(chuan)舶、兵器等科(ke)學領(ling)域測(ce)試(shi)

•用于家電、電腦、通訊(xun)設備(bei)等電子行業

•用于(yu)印刷電路(lu)板、配電盤、控制器等復雜多(duo)芯(xin)的通道測試(shi)

產品規格(ge)(ATX-3000S)

產(chan)品型號

ATX-3000S

檢測點(dian)數

32~65536

檢測端(duan)口數量

1~2048

檢測端口類型

歐姆龍(long)64PIN卡扣式(shi)牛角(jiao)插座(XG4A-6434)

 

 

 

測(ce)試內容

通斷(duan)測試

耐壓測試

絕緣電阻測試

二線制(zhi)電阻測(ce)試

四線制電阻測試

瞬斷測試

PinSearch

用(yong)戶界(jie)面

表示方式

10寸多點(dian)式電容觸(chu)摸屏(分辨(bian)率1280*800)

操(cao)作方法

觸摸屏操作(zuo)(可外接鼠標、鍵盤)

操作(zuo)系統

Windows10

語言(yan)

簡體(ti)中文

存儲端口

USB

無線(xian)通信(xin)端口

WIFI

控制端口

RS232/USB

RTC實時時鐘

支持

RTC電池

使用壽命3年(nian)

打印(yin)機

USB接口通用打印(yin)機(ji)/無線連接打印(yin)機(ji),例如(ru):hp427fdw、hpM126nw等

輸出信號

PASS

觸點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

FAIL

觸點容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC

輸出(chu)信號周期

200ms±4ms

輸入(ru)信(xin)號

外部觸發

觸發點輸入50ms以(yi)上的所需狀態

數據保存時間

5年以上,溫度:-20℃~50℃ ,濕度:40%

供電(dian)電(dian)壓(ya)

AC100V-240V/50~60Hz

外形(xing)尺寸(寬*高*深)

445*200*445mm

主機(ji)重量

約(yue)28Kg

環境(jing)條件(jian)

工作溫度:0~45℃;存儲溫度:-20℃~50℃; 工作濕度:5%~70%RH,無冷凝

檢測(ce)規格/參數

導通測(ce)試

導(dao)通模(mo)式

檢測電壓

DC5Vmax,±5%

檢測電流

1mAmax,±1%

電阻量程(cheng)

50Ω~1kΩ(默認500Ω),±5%

電阻測試模式

電阻量程

1Ω~50Ω、1kΩ~1MΩ

檔位(wei)

滿量程刻度

分(fen)辨率

精度

激勵(li)電流

1.1000Ω

0.0001Ω

±(2%讀(du)數(shu)+10Ω)

1A±20mA

(開路電壓大于(yu)5V)

10Ω

11.000Ω

0.001Ω

±(2%讀數+10Ω)

100mA±2mA

(開路電壓大于5V)

100Ω

110.00Ω

0.01Ω

±(2%讀(du)數+10Ω)

10mA±0.2mA

(開路電壓大于5V)

1kΩ

1.1000kΩ

0.0001kΩ

±(2%讀數+0.01 kΩ)

1mA±0.02mA

(開路電壓大于10V)

10kΩ

11.000kΩ

0.001kΩ

±(2%讀(du)數+0.05 kΩ)

100uA±2uA

(開路電壓大(da)于10V)

100kΩ

110.00kΩ

0.01kΩ

±(2%讀(du)數+0.5kΩ)

10uA±0.2uA

(開路(lu)電(dian)壓大于10V)

1MΩ

1.1MΩ

0.1kΩ

±(2%讀(du)數(shu)+5kΩ)

1uA±0.2uA

(開路(lu)電壓(ya)大于10V)

檢(jian)測(ce)時間(jian)

導通模式:0.5秒(miao)/通道(dao);電阻(zu)模式:0.1秒(miao)/通道(dao)

耐壓測試

檢(jian)測(ce)電壓

AC 50V~500V,±(0.5%+3V)

漏(lou)電流量程

0.5mA~5mA,±0.2mA

加壓(ya)方式

AVM加(jia)壓

檢測時間

0.1—999s(手動可設置)

 

絕(jue)緣電阻

測試

檢測電壓(ya)

DC 50V~750V,±(0.5%+1V)

絕(jue)緣電阻(zu)量程

10MΩ~1000MΩ,±(5%+1M)

10KΩ~10MΩ,±(5%+2KΩ)

加壓方式

AVM加壓

檢測時間

0.1—999s(手動可設置)

二線制
電阻(zu)測試

檢測電(dian)壓

DC5Vmax(1uA,10uA,100uA,1mA),±5%

DC10Vmax(10mA,100mA,1A),±5%

檢測(ce)電流

1uA,10 uA,100 uA,1mA,10 mA,100mA,1A

電(dian)阻量程

1Ω~1MΩ

檢測精度

檔(dang)位(wei)

滿(man)量(liang)程刻度

分辨率

精(jing)度

激勵電流

1.1000Ω

0.0001Ω

±(2%讀數(shu)+5Ω)

1A±20mA

(開路電壓大于5V)

10Ω

11.000Ω

0.001Ω

±(2%讀數+5Ω)

100mA±2mA

(開路電壓大于5V)

100Ω

110.00Ω

0.01Ω

±(2%讀(du)數(shu)+5Ω)

10mA±0.2mA

(開(kai)路電(dian)壓大于5V)

1kΩ

1.1000kΩ

0.0001kΩ

±(2%讀數+0.005 kΩ)

1mA±0.02mA

(開(kai)路電壓大于10V)

10kΩ

11.000kΩ

0.001kΩ

±(2%讀數+0.02 kΩ)

100uA±2uA

(開路電壓(ya)大于10V)

100kΩ

110.00kΩ

0.01kΩ

±(2%讀數(shu)+0.2kΩ)

10uA±0.2uA

(開路(lu)電壓大于10V)

1MΩ

1.1MΩ

0.1kΩ

±(2%讀數+2kΩ)

1uA±0.2uA

(開路電壓(ya)大于10V)

檢測時間(jian)

3回路/1秒(miao) (檔位固定)

 1回路/3秒 (檔(dang)位切換)

 

 

 

 

 

 

 

 

四線制(zhi)
電阻(zu)測試(shi)

檢(jian)測電壓

DC5Vmax(1uA,10uA,100uA,1mA),±5%

DC10Vmax(10mA,100mA,1A),±5%

檢測電流

1uA,10 uA,100 uA,1mA,10 mA,100mA,1A

電阻量程

0.001Ω~1MΩ

檢測(ce)精度

檔位

滿(man)量(liang)程刻(ke)度(du)

分辨(bian)率

精度(du)

激(ji)勵電(dian)流

1.1000Ω

0.0001Ω

±(2%讀數+0.002Ω)

1A±20mA

(開路(lu)電(dian)壓大(da)于(yu)5V)

10Ω

11.000Ω

0.001Ω

±(2%讀(du)數+0.02Ω)

100mA±2mA

(開路(lu)電(dian)壓大(da)于5V)

100Ω

110.00Ω

0.01Ω

±(2%讀(du)數+0.2Ω)

10mA±0.2mA

(開路(lu)電(dian)壓大于(yu)5V)

1kΩ

1.1000kΩ

0.0001kΩ

±1%

1mA±0.02mA

(開路電壓(ya)大于10V)

10kΩ

11.000kΩ

0.001kΩ

±1%

100uA±2uA

(開路(lu)電壓大于(yu)10V)

100kΩ

110.00kΩ

0.01kΩ

±1%

10uA±0.2uA

(開路電壓大(da)于10V)

1MΩ

1.1MΩ

0.1kΩ

±1%

1uA±0.2uA

(開路電壓大于10V)

檢測時間

3回路(lu)/1秒(miao) (檔(dang)位固定)

 1回路(lu)/3秒 (檔位切(qie)換)

瞬(shun)斷測試

(64)

檢測次數

2~999次

瞬斷檢測寬(kuan)度

25s

檢測(ce)時間

2*25s~999*25s(或到停止(zhi)測試按鈕按下(xia)為止(zhi))

訂(ding)購信息:  

• ATX-3064S:64點臺(tai)式(shi)線(xian)束測試儀(yi)

•ATX-3128S:128點臺式線束(shu)測試儀

•ATX-3256S:256點臺式線(xian)束測(ce)試儀

•ATX-3512S:512點臺式線(xian)束測試(shi)儀

備(bei)注:更(geng)多通道(dao)可快(kuai)速(su)擴(kuo)展

選配附件(jian):

• RS232、USB等接口及程控(kong)軟件

• 轉接箱、轉接板(ban)

• 高壓測(ce)試線