產品列表PRODUCTS LIST
•設備可單機(ji)操(cao)作,亦可連接至電腦操(cao)作
•測試通道(dao)64/128/256/512,更多通道(dao)可快速擴展
•自(zi)學習功能,快速檢測未(wei)知(zhi)線(xian)束的(de)通路(lu)、短(duan)路(lu)、斷路(lu)等連接關系
•四線制電阻(zu)測試,測試精度(du)高(gao)
•直(zhi)流(liu)高(gao)壓檢測電壓DC50V~750V,精度±5%
•交流高壓(ya)檢測電壓(ya)AC50V~500V,精(jing)度±5%
•高壓檢(jian)測完成后自動復位,提高檢(jian)測安全(quan)性簡介:
ATX-3000S系列(lie)是臺式線(xian)束測(ce)試儀(yi),于各種(zhong)線(xian)纜,線(xian)束和排線(xian)品質及連接可靠性檢驗的多功能,自(zi)動化的線(xian)束參數測(ce)試系統。設(she)(she)備可單(dan)機操作(zuo),亦(yi)可連接至(zhi)電(dian)腦(nao)操作(zuo),基于模塊化設(she)(she)計結(jie)構,四線(xian)制(zhi)電(dian)阻測(ce)試,測(ce)試精度高。兼容智能化測(ce)試軟(ruan)件,幫助客戶進行數據(ju)對比分析(xi)。
功能(neng)特點:
•設備可單機操(cao)作,亦可連接至電(dian)腦操(cao)作
•測試(shi)通道64/128/256/512,更多通道可(ke)快速(su)擴(kuo)展(zhan)
•自學習(xi)功能,快速檢測未知線(xian)束的通路(lu)、短路(lu)、斷路(lu)等連接關系(xi)
•四(si)線制電阻測(ce)試,測(ce)試精度高
•直流高壓檢測電壓DC50V~750V,精(jing)度±5%
•交流高(gao)壓檢測電(dian)壓AC50V~500V,精度±5%
•高壓檢(jian)測完(wan)成后自動復位,提高檢(jian)測安全性
應用:
•用于需要現場線束搶(qiang)修,維護,測試等(deng)工作
•用于汽車線(xian)束測試(shi)
•用(yong)于航空、火(huo)箭等航空航天科學領域(yu)
•用于(yu)船(chuan)舶、兵器等科(ke)學領(ling)域測(ce)試(shi)
•用于家電、電腦、通訊(xun)設備(bei)等電子行業
•用于(yu)印刷電路(lu)板、配電盤、控制器等復雜多(duo)芯(xin)的通道測試(shi)
產品規格(ge)(ATX-3000S) | |||||||||||||||
產(chan)品型號 | ATX-3000S | ||||||||||||||
檢測點(dian)數 | 32~65536 | ||||||||||||||
檢測端(duan)口數量 | 1~2048 | ||||||||||||||
檢測端口類型 | 歐姆龍(long)64PIN卡扣式(shi)牛角(jiao)插座(XG4A-6434) | ||||||||||||||
測(ce)試內容 | 通斷(duan)測試 | √ | |||||||||||||
耐壓測試 | √ | ||||||||||||||
絕緣電阻測試 | √ | ||||||||||||||
二線制(zhi)電阻測(ce)試 | √ | ||||||||||||||
四線制電阻測試 | √ | ||||||||||||||
瞬斷測試 | √ | ||||||||||||||
PinSearch | √ | ||||||||||||||
用(yong)戶界(jie)面 | 表示方式 | 10寸多點(dian)式電容觸(chu)摸屏(分辨(bian)率1280*800) | |||||||||||||
操(cao)作方法 | 觸摸屏操作(zuo)(可外接鼠標、鍵盤) | ||||||||||||||
操作(zuo)系統 | Windows10 | ||||||||||||||
語言(yan) | 簡體(ti)中文 | ||||||||||||||
存儲端口 | USB | ||||||||||||||
無線(xian)通信(xin)端口 | WIFI | ||||||||||||||
控制端口 | RS232/USB | ||||||||||||||
RTC實時時鐘 | 支持 | ||||||||||||||
RTC電池 | 使用壽命3年(nian) | ||||||||||||||
打印(yin)機 | USB接口通用打印(yin)機(ji)/無線連接打印(yin)機(ji),例如(ru):hp427fdw、hpM126nw等 | ||||||||||||||
輸出信號 | PASS | 觸點(dian)容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | |||||||||||||
FAIL | 觸點容量:5 A 250 V AC, 5 A 30 V DC | ||||||||||||||
輸出(chu)信號周期 | 200ms±4ms | ||||||||||||||
輸入(ru)信(xin)號 | 外部觸發 | 觸發點輸入50ms以(yi)上的所需狀態 | |||||||||||||
數據保存時間 | 5年以上,溫度:-20℃~50℃ ,濕度:40% | ||||||||||||||
供電(dian)電(dian)壓(ya) | AC100V-240V/50~60Hz | ||||||||||||||
外形(xing)尺寸(寬*高*深) | 445*200*445mm | ||||||||||||||
主機(ji)重量 | 約(yue)28Kg | ||||||||||||||
環境(jing)條件(jian) | 工作溫度:0~45℃;存儲溫度:-20℃~50℃; 工作濕度:5%~70%RH,無冷凝 | ||||||||||||||
檢測(ce)規格/參數 | |||||||||||||||
導通測(ce)試 | 導(dao)通模(mo)式 | 檢測電壓 | DC5Vmax,±5% | ||||||||||||
檢測電流 | 1mAmax,±1% | ||||||||||||||
電阻量程(cheng) | 50Ω~1kΩ(默認500Ω),±5% | ||||||||||||||
電阻測試模式 | 電阻量程 | 1Ω~50Ω、1kΩ~1MΩ | |||||||||||||
檔位(wei) | 滿量程刻度 | 分(fen)辨率 | 精度 | 激勵(li)電流 | |||||||||||
1Ω | 1.1000Ω | 0.0001Ω | ±(2%讀(du)數(shu)+10Ω) | 1A±20mA (開路電壓大于(yu)5V) | |||||||||||
10Ω | 11.000Ω | 0.001Ω | ±(2%讀數+10Ω) | 100mA±2mA (開路電壓大于5V) | |||||||||||
100Ω | 110.00Ω | 0.01Ω | ±(2%讀(du)數+10Ω) | 10mA±0.2mA (開路電壓大于5V) | |||||||||||
1kΩ | 1.1000kΩ | 0.0001kΩ | ±(2%讀數+0.01 kΩ) | 1mA±0.02mA (開路電壓大于10V) | |||||||||||
10kΩ | 11.000kΩ | 0.001kΩ | ±(2%讀(du)數+0.05 kΩ) | 100uA±2uA (開路電壓大(da)于10V) | |||||||||||
100kΩ | 110.00kΩ | 0.01kΩ | ±(2%讀(du)數+0.5kΩ) | 10uA±0.2uA (開路(lu)電(dian)壓大于10V) | |||||||||||
1MΩ | 1.1MΩ | 0.1kΩ | ±(2%讀(du)數(shu)+5kΩ) | 1uA±0.2uA (開路(lu)電壓(ya)大于10V) | |||||||||||
檢(jian)測(ce)時間(jian) | 導通模式:0.5秒(miao)/通道(dao);電阻(zu)模式:0.1秒(miao)/通道(dao) | ||||||||||||||
耐壓測試 | 檢(jian)測(ce)電壓 | AC 50V~500V,±(0.5%+3V) | |||||||||||||
漏(lou)電流量程 | 0.5mA~5mA,±0.2mA | ||||||||||||||
加壓(ya)方式 | AVM加(jia)壓 | ||||||||||||||
檢測時間 | 0.1—999s(手動可設置) | ||||||||||||||
絕(jue)緣電阻 測試 | 檢測電壓(ya) | DC 50V~750V,±(0.5%+1V) | |||||||||||||
絕(jue)緣電阻(zu)量程 | 10MΩ~1000MΩ,±(5%+1M) 10KΩ~10MΩ,±(5%+2KΩ) | ||||||||||||||
加壓方式 | AVM加壓 | ||||||||||||||
檢測時間 | 0.1—999s(手動可設置) | ||||||||||||||
二線制 | 檢測電(dian)壓 | DC5Vmax(1uA,10uA,100uA,1mA),±5% DC10Vmax(10mA,100mA,1A),±5% | |||||||||||||
檢測(ce)電流 | 1uA,10 uA,100 uA,1mA,10 mA,100mA,1A | ||||||||||||||
電(dian)阻量程 | 1Ω~1MΩ | ||||||||||||||
檢測精度 | 檔(dang)位(wei) | 滿(man)量(liang)程刻度 | 分辨率 | 精(jing)度 | 激勵電流 | ||||||||||
1Ω | 1.1000Ω | 0.0001Ω | ±(2%讀數(shu)+5Ω) | 1A±20mA (開路電壓大于5V) | |||||||||||
10Ω | 11.000Ω | 0.001Ω | ±(2%讀數+5Ω) | 100mA±2mA (開路電壓大于5V) | |||||||||||
100Ω | 110.00Ω | 0.01Ω | ±(2%讀(du)數(shu)+5Ω) | 10mA±0.2mA (開(kai)路電(dian)壓大于5V) | |||||||||||
1kΩ | 1.1000kΩ | 0.0001kΩ | ±(2%讀數+0.005 kΩ) | 1mA±0.02mA (開(kai)路電壓大于10V) | |||||||||||
10kΩ | 11.000kΩ | 0.001kΩ | ±(2%讀數+0.02 kΩ) | 100uA±2uA (開路電壓(ya)大于10V) | |||||||||||
100kΩ | 110.00kΩ | 0.01kΩ | ±(2%讀數(shu)+0.2kΩ) | 10uA±0.2uA (開路(lu)電壓大于10V) | |||||||||||
1MΩ | 1.1MΩ | 0.1kΩ | ±(2%讀數+2kΩ) | 1uA±0.2uA (開路電壓(ya)大于10V) | |||||||||||
檢測時間(jian) | 3回路/1秒(miao) (檔位固定) 1回路/3秒 (檔(dang)位切換) | ||||||||||||||
四線制(zhi) | 檢(jian)測電壓 | DC5Vmax(1uA,10uA,100uA,1mA),±5% DC10Vmax(10mA,100mA,1A),±5% | |||||||||||||
檢測電流 | 1uA,10 uA,100 uA,1mA,10 mA,100mA,1A | ||||||||||||||
電阻量程 | 0.001Ω~1MΩ | ||||||||||||||
檢測(ce)精度 | 檔位 | 滿(man)量(liang)程刻(ke)度(du) | 分辨(bian)率 | 精度(du) | 激(ji)勵電(dian)流 | ||||||||||
1Ω | 1.1000Ω | 0.0001Ω | ±(2%讀數+0.002Ω) | 1A±20mA (開路(lu)電(dian)壓大(da)于(yu)5V) | |||||||||||
10Ω | 11.000Ω | 0.001Ω | ±(2%讀(du)數+0.02Ω) | 100mA±2mA (開路(lu)電(dian)壓大(da)于5V) | |||||||||||
100Ω | 110.00Ω | 0.01Ω | ±(2%讀(du)數+0.2Ω) | 10mA±0.2mA (開路(lu)電(dian)壓大于(yu)5V) | |||||||||||
1kΩ | 1.1000kΩ | 0.0001kΩ | ±1% | 1mA±0.02mA (開路電壓(ya)大于10V) | |||||||||||
10kΩ | 11.000kΩ | 0.001kΩ | ±1% | 100uA±2uA (開路(lu)電壓大于(yu)10V) | |||||||||||
100kΩ | 110.00kΩ | 0.01kΩ | ±1% | 10uA±0.2uA (開路電壓大(da)于10V) | |||||||||||
1MΩ | 1.1MΩ | 0.1kΩ | ±1% | 1uA±0.2uA (開路電壓大于10V) | |||||||||||
檢測時間 | 3回路(lu)/1秒(miao) (檔(dang)位固定) 1回路(lu)/3秒 (檔位切(qie)換) | ||||||||||||||
瞬(shun)斷測試 (64) | 檢測次數 | 2~999次 | |||||||||||||
瞬斷檢測寬(kuan)度 | 25s | ||||||||||||||
檢測(ce)時間 | 2*25s~999*25s(或到停止(zhi)測試按鈕按下(xia)為止(zhi)) |
訂(ding)購信息:
• ATX-3064S:64點臺(tai)式(shi)線(xian)束測試儀(yi)
•ATX-3128S:128點臺式線束(shu)測試儀
•ATX-3256S:256點臺式線(xian)束測(ce)試儀
•ATX-3512S:512點臺式線(xian)束測試(shi)儀
備(bei)注:更(geng)多通道(dao)可快(kuai)速(su)擴(kuo)展
選配附件(jian):
• RS232、USB等接口及程控(kong)軟件
• 轉接箱、轉接板(ban)
• 高壓測(ce)試線