產品列表PRODUCTS LIST
主要特色：
Chroma 19501-K 局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)測(ce)(ce)試(shi)器(qi)結合(he)高(gao)電(dian)壓(ya)耐(nai)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)與(yu)局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(Partial Discharge)偵測(ce)(ce)功能於一(yi)單機，提(ti)供交流電(dian)壓(ya)輸出(chu)大10kV，漏電(dian)流量測(ce)(ce)範(fan)圍從0.01uA~300uA，局(ju)部(bu)(bu)(bu)放(fang)(fang)(fang)電(dian)偵測(ce)(ce)範(fan)圍小可偵測(ce)(ce)1pC放(fang)(fang)(fang)電(dian)量，針對(dui)高(gao)壓(ya)半導體(ti)元件及高(gao)絕緣材料(liao)測(ce)(ce)試(shi)應用所(suo)開(kai)發(fa)。產(chan)品(pin)設計符合(he)IEC 60270-1與(yu)IEC60747-5-5法(fa)規要求，同時內建IEC 60747-5-5法(fa)規之測(ce)(ce)試(shi)方法(fa)在儀(yi)器(qi)內部(bu)(bu)(bu)，滿足(zu)光耦(ou)合(he)器(qi)產(chan)品(pin)生產(chan)測(ce)(ce)試(shi)需求，並提(ti)供給使(shi)用者一(yi)個(ge)便(bian)利操作介(jie)面.
在生產線上執行(xing)高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)時，如(ru)果(guo)被(bei)測(ce)物(wu)未能(neng)正(zheng)確(que)及良好(hao)(hao)連(lian)接測(ce)試(shi)(shi)線，將導致測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)失敗甚至是(shi)漏(lou)測(ce)的風險(xian)。因(yin)此，在測(ce)試(shi)(shi)前確(que)保被(bei)測(ce)物(wu)與(yu)(yu)測(ce)試(shi)(shi)線良好(hao)(hao)連(lian)接是(shi)非常重(zhong)要的。Chroma 獨(du)特之(zhi)HVCC高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)接觸檢查(cha)功能(neng)(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測(ce)試(shi)(shi)方法(fa)針對高(gao)(gao)(gao)(gao)絕緣能(neng)力之(zhi)元(yuan)件於高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)輸出時同步(bu)進行(xing)接觸檢查(cha)，提升其(qi)測(ce)試(shi)(shi)可靠度與(yu)(yu)效率。
在線客服