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19500局部放電測試器技術參數
點擊次數：873 更新時間：2020-08-07

19501-k局部放(fang)電測試器

19500局部(bu)放(fang)電測試器(qi)

主要特色：

  • 單機內(nei)建高(gao)電壓耐(nai)壓測試與PD偵測功(gong)能
  • 可程式交流(liu)電壓 0.1kVac ~ 10KVac
  • 高精度(du)及高解析度(du)電(dian)流錶 0.01uA ~ 300uA
  • 局部放電(PD)偵(zhen)測範圍 1 pC ~ 2000 pC
  • 高壓接(jie)觸(chu)檢查功能(HVCC)
  • 符(fu)合IEC60747-5-5與(yu)IEC 60270-1 法規(gui)測試要求
  • 內建IEC60747-5-5 測試方法
  • 三段(duan)電壓測試功能
  • PD測量(liang)結果數(shu)字化顯示(pC)
  • PD 不(bu)良發生判(pan)定(ding)次數設定(ding) (1~10)
  • 繁中(zhong)/ 簡中(zhong) / 英文操作介面
  • USB畫面擷取功能
  • 圖(tu)形化輔助編輯功(gong)能
  • 標準LAN, USB, RS232遠(yuan)端控制介面

Chroma 19501-K 局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)器結合高(gao)(gao)電(dian)壓(ya)(ya)耐壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)與局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(Partial Discharge)偵測(ce)(ce)功能於一單機，提(ti)供(gong)交流電(dian)壓(ya)(ya)輸(shu)出大10kV，漏電(dian)流量測(ce)(ce)範(fan)圍從(cong)0.01uA~300uA，局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)偵測(ce)(ce)範(fan)圍小可偵測(ce)(ce)1pC放(fang)電(dian)量，針對高(gao)(gao)壓(ya)(ya)半導(dao)體(ti)元件(jian)及高(gao)(gao)絕(jue)緣材料測(ce)(ce)試(shi)(shi)應用(yong)所開(kai)發。產品設(she)計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(gui)要求(qiu)，同時內建IEC 60747-5-5法規(gui)之測(ce)(ce)試(shi)(shi)方法在(zai)儀器內部(bu)，滿足光耦合器產品生產測(ce)(ce)試(shi)(shi)需求(qiu)，並(bing)提(ti)供(gong)給使用(yong)者一個便利操作介面.

在生產線(xian)上執行高壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)時，如果被(bei)測(ce)(ce)(ce)物未能正確及良好連接測(ce)(ce)(ce)試(shi)線(xian)，將導致測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果失(shi)敗甚至是漏測(ce)(ce)(ce)的風險。因此(ci)，在測(ce)(ce)(ce)試(shi)前確保被(bei)測(ce)(ce)(ce)物與測(ce)(ce)(ce)試(shi)線(xian)良好連接是非(fei)常(chang)重要的。Chroma 獨特之(zhi)HVCC高壓接觸(chu)檢(jian)查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測(ce)(ce)(ce)試(shi)方(fang)法針對高絕緣能力之(zhi)元件(jian)於高壓輸出(chu)時同(tong)步進(jin)行接觸(chu)檢(jian)查，提升其測(ce)(ce)(ce)試(shi)可靠度與效率。