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63115ALED 模擬負載技術參數
點擊次數:895 更新時間:2020-08-10

63110ALED 模擬負載(zai) 63113ALED 模擬負載63115ALED 模擬負載

主要特色:

  • 獨特的(de)LED模(mo)式可供LED power driver測試
  • 可編程的(de)LED操作點阻抗(kang) (Rd)
  • 可編程的(de)內部阻(zu)抗(kang)(Rr),可應用於(wu)模擬LED的(de)漣波電流
  • 快(kuai)速(su)回應可供PWM調光測試
  • 一機框多可達8個通道
  • 二段式(shi)16位元高精密電(dian)(dian)壓(ya)/電(dian)(dian)流量測線路
  • 保(bao)護功(gong)能(neng) : 過(guo)(guo)電流、過(guo)(guo)功(gong)率、過(guo)(guo)溫度保(bao)護與過(guo)(guo)電壓告(gao)警

LED driver為電(dian)流(liu)源,因此有一(yi)可(ke)輸出(chu)的(de)電(dian)壓範(fan)圍及(ji)一(yi)固定的(de)輸出(chu)電(dian)流(liu)。在LED driver的(de)測(ce)試上,一(yi)般常使用(yong)的(de)方式有下列(lie)幾種:

  • 使用真實電阻當(dang)負(fu)載。
  • 使用傳統電(dian)(dian)子負(fu)載(zai)操作於定電(dian)(dian)阻(CR)模式或定電(dian)(dian)壓(ya)(CV)模式。
  • 使用真實(shi)LED串(chuan)聯當負載。/OL>


但是這些測試(shi)方式都有其缺點(dian),無法*適合LED driver的測試(shi)需求。

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由LED的(de)V-I特(te)性曲線中,可知LED有一順向偏(pian)壓VF及一導通電(dian)阻(Rd)。當(dang)以(yi)真實電(dian)阻為負(fu)載,其(qi)V-I特(te)型是(shi)一直線,並無法模(mo)擬LED的(de)特(te)性。尤其(qi)當(dang)LED driver開(kai) 電(dian)壓上(shang)升時,電(dian)流波形不(bu)同(tong)(tong),可能(neng)會無法開(kai) 。而傳統電(dian)子負(fu)載的(de)CR及CV模(mo)式(shi),都是(shi)以(yi)穩態(tai)時的(de)LED操作(zuo)點為設定值,對開(kai)關機或PWM調光(guang)動態(tai)的(de)特(te)性,無法模(mo)擬,也可能(neng)導致LED driver產(chan)生不(bu)正常的(de)動作(zuo)或保護。而若以(yi)LED來當(dang)負(fu)載,雖(sui)能(neng)*測(ce)試(shi)(shi)(shi)LED driver。但卻(que)有LED老化問題(ti),及LED driver不(bu)同(tong)(tong)的(de)輸出(chu)電(dian)壓測(ce)試(shi)(shi)(shi)上(shang),需串聯不(bu)同(tong)(tong)顆數的(de)LED,如此將(jiang)會造成測(ce)試(shi)(shi)(shi)上(shang)與生產(chan)上(shang)的(de)不(bu)便。

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致茂6310A series電(dian)(dian)(dian)子(zi)負(fu)載(zai)中(zhong)的(de)(de)63110A獨家新創了一(yi)個新的(de)(de)操作(zuo)模(mo)(mo)式—LED模(mo)(mo)式,來模(mo)(mo)擬(ni)LED。使用者(zhe)僅需(xu)透(tou)過(guo)設(she)定LED driver的(de)(de)輸(shu)出電(dian)(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)(dian)流(liu),即可(ke)(ke)模(mo)(mo)擬(ni)LED的(de)(de)拉(la)(la)載(zai)特(te)性(xing)。還可(ke)(ke)設(she)定LED的(de)(de)操作(zuo)點(dian)阻抗(kang)及高(gao)頻(pin)阻抗(kang),讓拉(la)(la)載(zai)電(dian)(dian)(dian)流(liu)及高(gao)頻(pin)連波(bo)與更趨近於真實(shi)LED。對(dui)於PWM調光(Dimming)測試(shi),63110A的(de)(de)全新設(she)計(ji)中(zhong),亦增加了頻(pin)寬,讓使用者(zhe)亦可(ke)(ke)透(tou)過(guo)電(dian)(dian)(dian)子(zi)負(fu)載(zai)完成動態(tai)調光測試(shi)。

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