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58212-C LED 芯片電測系統技術參數
點擊次數：1305 更新時間：2020-08-11

58212-C LED 芯片電測(ce)系統 

主(zhu)要特色：

  • 高(gao)速及高(gao)精度
  • 支援水平型(xing)，垂直型(xing)和倒裝型(xing)芯片
  • 完整LED電性測(ce)試範圍(wei)（200V/2A）
  • 可支援到(dao)8英寸晶(jing)圓(yuan)
  • Chroma大面積光(guang)偵測器
  • 強(qiang)大的芯(xin)片(pian)位置掃描算法
  • 外部光(guang)屏蔽(bi)設計
  • 完整的分析工具(ju)和(he)統計報告

測試項目

  • 電源特性(xing)量測 :
    - Forward Voltage Measurement (Vf )
    - Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb)
    - Reverse Leakage Current (Ir)
    - SCR Detection
  • 光特(te)性量測 :
    - Optical Power (mw, lm, mcd)
    - Dominant Wavelength (Wd)
    - Peak Wavelength (Wp)
    - Full Width at Half Maximum (FWHM)
    - CIExy - CCT - CRI

硬體設備(bei)

  • 自動(dong)化 LED wafer/chip 點(dian)測設(she)備
  • 電性測試模組
  • 光學測試模組
  • 選配(pei)ESD 測試模組

致茂(mao)58212-C是一臺自動(dong)化的LED外延片/芯片探(tan) 針測試設備，提供快速、準確的LED測量(liang)測且整 體(ti)量(liang)測時間＜125ms *1。

系(xi)統的(de)設(she)計採用(yong)了靈活(huo)的(de)設(she)計為(wei)不同類(lei)型的(de)LED 結構包括橫向型，垂(chui)直型和(he)倒裝(zhuang)芯片類(lei)型。用(yong)戶 可以(yi)選擇合適(shi)的(de)結構類(lei)型LED測量。完整(zheng)掃描(miao)程 序可提供(gong)獨立的(de)晶(jing)圓(yuan)圖以(yi)保(bao)證測試的(de)精度。專(zhuan)利(li) 的(de)探針(zhen)頭可防(fang)止待測物的(de)刮傷並(bing)確保(bao)每一(yi)個LED 接觸。

透過(guo)致茂獨特(te)(te)的(de)光學設(she)計與元件可(ke)(ke)取(qu)得(de)精(jing)確(que)且穩 定快(kuai)速之(zhi)光學數據(ju)如主波(bo)長、峰波(bo)長、色溫等(deng)， 該系統(tong)具(ju)備完整之(zhi)電(dian)性(xing)量測單元，無(wu)論順向(xiang)電(dian) 壓、漏電(dian)流、逆向(xiang)崩(beng)潰(kui)電(dian)壓等(deng) LED 電(dian)性(xing)特(te)(te)性(xing)， 均可(ke)(ke)於(wu)一次滿(man)足使用者的(de)測試需求。

58212-C包含(han)彈性調整的(de)軟體操(cao)作界面及(ji)先進的(de) 邏輯演算法使得生產(chan)效(xiao)益(yi)大(da)幅提(ti)升 ；完善(shan)的(de)統計 報表及(ji)分析工(gong)具可以讓(rang)使用(yong)者用(yong)輕(qing)鬆掌(zhang)握生產(chan)狀 況。

Note *1: 測試條件(jian)：在間(jian)距(ju)300um、5道電性測 項(xiang)、1道光學測項(xiang)條件(jian)下取樣。由(you)於LED的(de)特(te)性的(de) 差異，測量(liang)結果可能會(hui)有所不同。